存储芯片集成电路性能的检测设备制造技术

本实用新型专利技术公开了存储芯片集成电路性能的检测设备，包括：传动结构、检测结构、送料结构和底板；所述传动结构、所述检测结构和所述送料结构均安装在所述底板上；传动结构用于传动承载集成电路的电路板，送料结构用于连续将承载有集成电路的电路板输送到传动结构中，并通过限位板和支撑板进行支撑和限位，对电路板进行传动过程中，通过启动电动推杆带动检测连接头插接入电路板的电路连口，并配合电路集成检测器对电路进行检测，实现对集成电路的连续性检测，且工作人员只需要将需要进行检测的电路板放置到放置箱中即可进行连续性检测。路板放置到放置箱中即可进行连续性检测。路板放置到放置箱中即可进行连续性检测。

【技术实现步骤摘要】
存储芯片集成电路性能的检测设备


[0001]本技术涉及存储芯片集成电路检测
，具体为存储芯片集成电路性能的检测设备。

技术介绍

[0002]存储芯片是集成电路，集成电路是一种微型电子器件或部件。采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构。
[0003]在集成电路的生产过程中需要对集成电路的性能进行检测，现有的集成电路性能检测过程中，大多通过人工配合检测设备进行单一测试，不能进行连续的性能测试，且在进行检测过程中需要较多工作人员进行配合检测，较为麻烦，为此，提出，存储芯片集成电路性能的检测设备，

技术实现思路

[0004]本技术的目的在于提供存储芯片集成电路性能的检测设备，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
[0005]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：存储芯片集成电路性能的检测设备，包括：传动结构、检测结构、送料结构和底板；
[0006]其中，所述传动结构、所述检测结构和所述送料结构均安装在所述底板上；
[0007]其中，传动结构用于传动承载集成电路的电路板，对电路板进行连续输送；
[0008]其中，检测结构用于对电路板中的电路接口进行连接；
[0009]其中，送料结构用于连续将承载有集成电路的电路板输送到传动结构中。
[0010]优选的，所述传动结构包括固定架，所述固定架固定安装于所述底板上，所述固定架上活动连接有多个传动辊，所述传动辊的外部传动连接有传送带，所述传送带的外部固定安装有多个限位板，所述限位板的外部固定安装有支撑板，所述底板上固定安装有放置箱，所述放置箱的内部固定安装有伺服电机，所述伺服电机的输出轴固定安装有主动皮带轮，所述传动辊的外部固定安装有从动皮带轮，所述从动皮带轮和所述主动皮带轮为通过皮带传动连接。
[0011]通过采用上述技术方案，在传动结构中，通过伺服电机带动主动皮带轮进行旋转，主动皮带轮的旋转会带动从动皮带轮进行旋转，从动皮带轮的旋转会带动传动辊进行旋转，从而带动传送带进行传动，并通过限位板配合支撑板对传输的电路板进行限位和支撑。
[0012]优选的，所述检测结构包括多个固定板，多个所述固定板分别固定安装于所述固定架和所述底板上，一个所述固定板上安装有电路集成检测器，所述固定板的外部固定安装有电动推杆，所述电动推杆的活塞杆端部固定安装有安装板，所述安装板的外部安装有多个检测连接头。
[0013]通过采用上述技术方案，在检测结构中，通过启动电动推杆，电动推杆的启动会带
动安装板和检测连接头插接入电路板的电路连接口当中，从而通过电路集成检测器对电路板的各项性能进行检测。
[0014]优选的，所述送料结构包括物料出口，所述物料出口开设于所述放置箱的外部，所述放置箱的内部活动连接有螺纹杆，所述螺纹杆的外部活动连接有挡板，所述螺纹杆的外部固定安装有从动齿轮，所述放置箱的内部固定安装有正反转电机，所述正反转电机的输出轴固定安装有主动齿轮，所述主动齿轮的外部与所述从动齿轮的外部啮合，所述放置箱的内部固定安装有承载板，所述承载板的内部开设有滑槽，所述挡板活动连接于所述滑槽的内部，所述放置箱的内部固定安装有无杆气缸，所述无杆气缸的滑块处安装有推板。
[0015]通过采用上述技术方案，在送料结构中，工作人员可以将需要检测的电路板放置到承载板上，并通过启动正反转电机，正反转电机的启动会带动挡板在滑槽的内部移动，从而对位于承载板上的电路板进行推动，将电路板推动到物料出口的位置处后，通过启动无杆气缸配合推板将电路板推出放置箱中，从而将电路板推动到传动结构上。
[0016]优选的，所述推板和所述物料出口的位置相平行。
[0017]通过采用上述技术方案，便于将电路板通过物料出口推动到传动结构上。
[0018]优选的，所述放置箱的外部铰接有门体。
[0019]通过采用上述技术方案，通过门体对放置箱的内部进行防护。
[0020]优选的，所述物料出口的外部固定安装有U形导向板，所述限位板的外部粘接有橡胶防撞块。
[0021]通过采用上述技术方案，通过U形导向板对电路板的移动位置进行导向，同时通过橡胶防撞块避免限位板对电路板造成过度挤压的状况。
[0022]优选的，所述滑槽和所述挡板之间为滑动连接。
[0023]通过采用上述技术方案，通过滑槽为挡板提供移动空间，同时对挡板的移动进行导向。
[0024]优选的，所述上传动辊和所述固定架之间为通过轴承转动连接。
[0025]通过采用上述技术方案，通过轴承转动连接的传动辊便于带动传送带进行传动。
[0026]优选的，所述挡板螺纹连接于所述螺纹杆上。
[0027]通过采用上述技术方案，通过螺纹杆带动挡板进行移动。
[0028]与现有技术相比，本技术的有益效果是：
[0029]本技术中，工作人员将需要检测的电路板放置到放置箱中，通过正反转电机带动螺纹杆进行旋转，且通过无杆气缸配合推板将需要检测的电路板推动到传送带上，并通过限位板和支撑板进行支撑和限位，对电路板进行传动过程中，通过启动电动推杆带动检测连接头插接入电路板的电路连口，并配合电路集成检测器对电路进行检测，实现对集成电路的连续性检测，且工作人员只需要将需要进行检测的电路板放置到放置箱中即可进行连续性检测。
附图说明
[0030]图1为本技术的存储芯片集成电路性能的检测设备的结构示意图；
[0031]图2为本技术的存储芯片集成电路性能的检测设备中放置箱的局部剖视结构示意图；
[0032]图3为本技术的存储芯片集成电路性能的检测设备中放置箱的剖视结构示意图；
[0033]图4为本技术的存储芯片集成电路性能的检测设备中U形导向板的结构示意图；
[0034]图5为本技术的存储芯片集成电路性能的检测设备中滑槽的结构示意图；
[0035]图6为本技术的存储芯片集成电路性能的检测设备中无杆气缸和挡板的结构示意图；
[0036]图7为本技术的存储芯片集成电路性能的检测设备图3中的A区放大结构示意图。
[0037]图中：10、底板；11、固定架；12、传动辊；13、传送带；14、限位板；15、支撑板；16、橡胶防撞块；17、放置箱；18、伺服电机；19、主动皮带轮；101、从动皮带轮；20、固定板；21、电路集成检测器；22、电动推杆；23、安装板；24、检测连接头；30、物料出口；31、承载板；32、螺纹杆；33、正反转电机；34、主动齿轮；35、从动齿轮；36、挡板；37、无杆气缸；38、推板；39、滑槽；41、门体；42、U形导向板。
具体实施方式
[0038]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.存储芯片集成电路性能的检测设备，其特征在于，包括：传动结构、检测结构、送料结构和底板(10)；其中，所述传动结构、所述检测结构和所述送料结构均安装在所述底板(10)上；其中，传动结构用于传动承载集成电路的电路板，对电路板进行连续输送；其中，检测结构用于对电路板中的电路接口进行连接，以检测集成电路；其中，送料结构用于连续将承载有集成电路的电路板输送到传动结构中。2.根据权利要求1所述的存储芯片集成电路性能的检测设备，其特征在于：所述传动结构包括固定架(11)，所述固定架(11)固定安装于所述底板(10)上，所述固定架(11)上活动连接有多个传动辊(12)，所述传动辊(12)的外部传动连接有传送带(13)，所述传送带(13)的外部固定安装有多个限位板(14)，所述限位板(14)的外部固定安装有支撑板(15)，所述底板(10)上固定安装有放置箱(17)，所述放置箱(17)的内部固定安装有伺服电机(18)，所述伺服电机(18)的输出轴固定安装有主动皮带轮(19)，所述传动辊(12)的外部固定安装有从动皮带轮(101)，所述从动皮带轮(101)和所述主动皮带轮(19)为通过皮带传动连接。3.根据权利要求2所述的存储芯片集成电路性能的检测设备，其特征在于：所述检测结构包括多个固定板(20)，多个所述固定板(20)分别固定安装于所述固定架(11)和所述底板(10)上，一个所述固定板(20)上安装有电路集成检测器(21)，所述固定板(20)的外部固定安装有电动推杆(22)，所述电动推杆(22)的活塞杆端部固定安装有安装板(23)，所述安装板(23)的外部安装有多个检测连接头(24)。4.根据权利要求3所述的存储芯片集成电路性能的检测设备，...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴黎明，
申请(专利权)人：明途半导体东莞有限公司，
类型：新型
国别省市：