一种单一图像采集卡支持多芯片并行测试的方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术提出了一种单一图像采集卡支持多芯片并行测试的方法及装置，包括以下步骤：通过图像采集卡采集两个CIS的图像数据；传输两个CIS的图像数据，通过时钟源校正同步两个CIS的传输时刻；将两个CIS的图像数据传输至工作站；分别对两个CIS的图像数据进行测试。通过同时采集两个CIS的图像数据，并且利用时钟源校正同步图像数据的传输时刻，使得传输两个CIS的图像数据的时间与传输一个CIS图像数据的时间一样，节省成本的同时，不提高花费的时间。不提高花费的时间。不提高花费的时间。

【技术实现步骤摘要】
一种单一图像采集卡支持多芯片并行测试的方法及装置


[0001]本专利技术涉及图像传感器的芯片及晶圆测试
，尤其涉及一种单一图像采集卡支持多芯片并行测试的方法及装置。

技术介绍

[0002]目前的CIS（即图像传感器CMOS Image Sensor）的生产测试系统，对CIS芯片的加载、载出、对位、数字直流测试或者成像质量的判定与分级，均依赖计算机控制来实现。随着产能需求的不断增加，对高并测测试的CIS测试系统的需求也不断增加。传统的CIS芯片测试是每一个CIS配备一个图像采集卡，图像采集卡与工作站对应连接，即CIS与图像采集卡的数量是一一对应的，即32并测需要32个图像采集卡，依此类推；这样会产生一个问题，如果并测的CIS芯片很多，则工作站的硬件设备、所占空间会不断增加，需要非常大的实体空间，以及繁杂的线束，非常不利于后期的维护管理和故障排查。
[0003]中国专利CN116027181A《一种并行图像处理装置及方法》公开了一种并行图像处理方法，根据并行测试单元接收并储存的图像数据对CIS芯片进行数字直流测试或者图像输出测试。该专利中的影像采撷卡与CIS芯片是一一对应的，即一个CIS配备一个影像采撷卡，并且与一个工作站对应连接，但是在工作站和影像采撷卡不足，且需要在不提高成本的情况下完成测试任务时，上述方法则无法完成测试任务，因此需要对处理方法进行改进，通过时间源对齐使得一个影像采撷卡能够配置两个CIS，且同时只占用一个工作站，在不提高成本的同时也不增加测试时间，提高测试效率。

技术实现思路
r/>[0004]有鉴于此，本专利技术提出了一种单一图像采集卡支持多芯片并行测试的方法及装置，通过将两个图像采集卡集成为一张图像采集卡，实现单一图像采集卡对两个CIS进行并行测试，且同时只占用一个工作站，在降低测试成本的同时还不会提高测试的时间，提高了测试效率，解决了目前图像传感器芯片在控制成本的情况下，仅支持一对一测试的问题。
[0005]本专利技术的技术方案是这样实现的：一方面，本专利技术提供了一种单一图像采集卡支持多芯片并行测试的方法，包括以下步骤：S1，通过图像采集卡采集两个CIS的图像数据；S2，传输两个CIS的图像数据，通过时钟源校正同步两个CIS的传输时刻；S3，将两个CIS的图像数据传输至工作站；S4，分别对两个CIS的图像数据进行测试。
[0006]优选的，步骤S1包括：所述图像采集卡包括两个MIPI PHY芯片、两个MIPI CSI2芯片、两个RAM存储器和两个高速传输接口。
[0007]优选的，步骤S2包括：S21，在两个CIS之间接入时钟源，同步时钟源到两个CIS之间的控制总线；
S22，使用时钟源到两个CIS之间的两个不同的数据引脚SDA1和SDA2检查是否有ACK信号，有则表示数据发送成功，完成两个CIS的图像数据的同步传输。
[0008]优选的，步骤S3包括：S31，将两个CIS的图像数据传输至RAM存储器，记为Image1和Image2；S32，RAM存储器同步接收到Image1和Image2后，发送至高速传输接口，所述高速传输接口将Image1和Image2传输至工作站，对Image1和Image2分别进行测试。
[0009]优选的，步骤S31包括：S311，所述MIPI CSI2芯片以DMA方式分别将Image1和Image2传输至RAM存储器，控制传输时间与单独传输Image1或Image2相同，将传输时间记为t1；S312，Image1和Image2图像数据以m
×
n字节表示，m和n为正整数。
[0010]优选的，步骤S32包括：S321，所述Image1和Image2发送至高速传输接口之前，先传输至两个FIFO存储器；S322，所述两个FIFO存储器布置区域靠近，分别接收Image1和Image2，且两个FIFO存储器在同一时刻被Image1和Image2占用，所述FIFO存储器的大小取决于Image1和Image2图像数据的大小。
[0011]优选的，步骤S4包括：S41，所述工作站对两个CIS的图像数据分别进行测试，测试时间为单独测试两个CIS的图像数据的时间的总和，将测试时间记为t2；S42，计算图像采集卡对两个CIS测试花费的总时间以及总成本，与图像采集卡对单个CIS测试花费的总时间以及总成本比较，求出所花费的时间以及成本的变化：，其中，其中，为对两个CIS进行测试时，图像采集卡同时测试两个CIS和分别测试两个CIS相对的优化指数，t1为MIPI CSI2芯片以DMA方式分别将Image1和Image2传输至RAM存储器的传输时间，t2为工作站对两个CIS的图像数据分别进行测试的时间之和，为图像采集卡对单个CIS测试时，将图像数据传输至RAM存储器的传输时间，为图像采集卡对单个CIS测试时，工作站对CIS的图像数据进行测试的时间，S为图像采集卡对两个CIS测试花费的总成本，为图像采集卡对单个CIS测试花费的总成本。
[0012]另一方面，本专利技术还提供一种单一图像采集卡支持多芯片并行测试的装置，所述装置包括：数据采集模块，通过图像采集卡采集两个CIS的图像数据；时钟校正模块，同步传输两个CIS的图像数据，通过时钟源校正同步两个CIS的传输时刻；数据传输模块，将两个CIS的图像数据传输至工作站；
数据测试模块，分别对两个CIS的图像数据进行测试。
[0013]另一方面，本专利技术的实施例还提供了一种设备，该设备包括：存储器、处理器以及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述计算机程序被所述处理器执行时实现该单一图像采集卡支持多芯片并行测试的方法的步骤。
[0014]另一方面，本专利技术的实施例还提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现该单一图像采集卡支持多芯片并行测试的方法的步骤。
[0015]本专利技术的一种单一图像采集卡支持多芯片并行测试的方法及装置相对于现有技术具有以下有益效果：通过同时采集两个CIS的图像数据，并且利用时钟源校正同步图像数据的传输时刻，使得传输两个CIS的图像数据的时间与传输一个CIS图像数据的时间一样，节省成本的同时，不提高花费的时间；通过时钟源校正，使两个MIPI PHY芯片分别采集两个CIS的图像数据时保持同步，同步控制总线从而保证两个CIS的图像数据同步传输至RAM存储器，使得传输时间与传输单个图像数据时保持不变；通过FIFO存储器作为CIS的图像数据的缓冲区，通过同时占用两个缓冲区将CIS吐图的时间同步，在RAM存储器中接收两个CIS图像数据的时间与接收一个CIS的时间几乎相同，不增加接收图像数据的时间，尽管工作站测试的时间加倍，但总体时间并未增加，并且还降低了成本。
附图说明
[0016]为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种单一图像采集卡支持多芯片并行测试的方法，其特征在于，包括以下步骤：S1，通过图像采集卡采集两个CIS的图像数据；步骤S1包括：所述图像采集卡包括两个MIPI PHY芯片、两个MIPI CSI2芯片、两个RAM存储器和两个高速传输接口；S2，传输两个CIS的图像数据，通过时钟源校正同步两个CIS的传输时刻；步骤S2包括：S21，在两个CIS之间接入时钟源，同步时钟源到两个CIS之间的控制总线；S22，使用时钟源到两个CIS之间的两个不同的数据引脚SDA1和SDA2检查是否有ACK信号，有则表示数据发送成功，完成两个CIS的图像数据的同步传输；S3，将两个CIS的图像数据传输至工作站；S4，分别对两个CIS的图像数据进行测试。2.如权利要求1所述的一种单一图像采集卡支持多芯片并行测试的方法，其特征在于，所述步骤S3包括：S31，将两个CIS的图像数据传输至RAM存储器，记为Image1和Image2；S32，RAM存储器同步接收到Image1和Image2后，发送至高速传输接口，所述高速传输接口将Image1和Image2传输至工作站，对Image1和Image2分别进行测试。3.如权利要求2所述的一种单一图像采集卡支持多芯片并行测试的方法，其特征在于，所述步骤S31包括：S311，所述MIPI CSI2芯片以DMA方式分别将Image1和Image2传输至RAM存储器，控制传输时间与单独传输Image1或Image2相同，将传输时间记为t1；S312，Image1和Image2图像数据以m
×
n字节表示，m和n为正整数。4.如权利要求2所述的一种单一图像采集卡支持多芯片并行测试的方法，其特征在于，所述步骤S32包括：S321，所述Image1和Image2发送至高速传输接口之前，先传输至两个FIFO存储器；S322，所述两个FIFO存储器布置区域靠近，分别接收Image1和Image2，且两个FIFO存储器在同一时刻被Image1和Image2占用，所述FIFO存储器的大小取决于Image1和Image2图像数据的大小。5.如...

【专利技术属性】
技术研发人员：晏斌，
申请(专利权)人：浙江瑞测科技有限公司，
类型：发明
国别省市：