一种测试针以及测试装置制造方法及图纸

技术编号:33987413 阅读:13 留言:0更新日期:2022-06-30 08:25
本实用新型专利技术涉及一种测试针以及测试装置,用于测试PCBA板缺口内的连接器,包括内管,内管包括探头和导电体,探头与导电体连接,探头为刀片状,导电体外套设有壳体,壳体远离探头一侧内套设有绝缘体,绝缘体内设有针头,导电体上设有弹性元件,弹性元件一端与绝缘体连接,针头伸入缺口内与连接器连接,针头缩进绝缘体内且与导电体连接,测试针与连接器连接,连接器设在PCBA板上,PCBA板设在测试平台上,测试平台连接有工控机,工控机内设有测试模块。本实用新型专利技术可以同时完成对连接器的缺件和装反的辨别,防止压伤被测连接器,提高了PCBA的可测率,减少了后期人工检查的时间,避免了后期返工。后期返工。后期返工。

【技术实现步骤摘要】
一种测试针以及测试装置


[0001]本技术涉及测试的
,尤其是指一种测试针以及检测装置。

技术介绍

[0002]PCB(Printed Circuit Board)称为印刷电路板,是电子元器件连接的重要载体,PCB已经很广泛地应用在电子产品生产制造中,PCBA是Printed Circuit Board+Assembly的简称,PCBA板是PCB板的成品,也就是说PCBA是经过PCB空板SMT上件,再经过DIP插件的整个制程,即将一些电子元器件拼装在PCB板上,然后再通过在PCB板上插入插件,从而形成最终的PCBA板,PCBA板的质量取决于其上的连接器,连接器的测试为关键的质量控制环节。
[0003]目前行业内采用测试针插入有缺口的连接器进行测试,此缺口是防止连接器插反的设计,但由于人工进行插件,会出现漏插和插反的错误,现有的测试头为圆柱形且可旋转,在测试时针头缩到外壳内与导电体连接,当测试针被旋转时针头也会出现旋转,针头旋转的角度刚好转至正确位置,装反的连接器会出现误测且不会发现,且针头压入连接器内加深会压伤被测的连接器,只能测出连接器的缺件,如一旦有装反没被发现会造成返工,浪费大量的人力和物力。

技术实现思路

[0004]为此,本技术所要解决的技术问题在于克服现有技术中测试针插入有缺口的连接器进行测试时,测试针的测试头为圆柱形且可以旋转,被旋转后装反的连接器会出现误测且不会发现,且会压伤被测的连接器的问题。
[0005]为解决上述技术问题,本技术提供了一种测试针,用于测试PCBA板缺口内的连接器,包括内管,所述内管包括探头和导电体,所述探头与所述导电体连接,所述探头为刀片状,所述导电体外套设有壳体,所述壳体远离所述探头一侧内套设有绝缘体,所述绝缘体内设有针头,所述导电体上设有弹性元件,所述弹性元件一端与所述绝缘体连接,所述针头伸入所述缺口内与所述连接器连接,所述针头缩进所述绝缘体内且与所述导电体连接。
[0006]在本技术的一个实施例中,所述导电体包括第一导电体和第二导电体,所述第一导电体与所述探头连接,所述第二导电体与所述第一导电体同轴连接,所述第二导电体与所述壳体之间设有第一空腔,所述弹性元件设在所述第一空腔内,所述弹性元件两端分别与所述第一导电体和所述绝缘体连接。
[0007]在本技术的一个实施例中,所述第一导电体与所述壳体之间设有防呆腔。
[0008]在本技术的一个实施例中,所述绝缘体内设有第二空腔,所述测试针卡设在所述第二空腔内。
[0009]在本技术的一个实施例中,所述探头为T型式,所述探头厚度为0.65mm。
[0010]在本技术的一个实施例中,所述壳体和所述针头均设为镀金层。
[0011]在本技术的一个实施例中,所述弹性元件为弹簧。
[0012]在本技术的一个实施例中,所述绝缘体为塑料。
[0013]本技术还包括一种测试装置,所述测试针与所述连接器连接,所述连接器设在所述PCBA板上,所述PCBA板设在测试平台上,所述测试平台连接有工控机,所述工控机内设有测试模块。
[0014]在本技术的一个实施例中,所述测试平台内设有控制模块,所述测试针与所述控制模块连接,所述控制模块通过线缆与所述测试模块连接。
[0015]本技术的上述技术方案相比现有技术具有以下优点:
[0016]本技术中探头与导电体连接,探头为刀片状,可以通过片状的探头摆放位置判断测试针及针头方向是否正确,并将测试针放置到正确位置进行检测,且不会出现压伤连接器,避免连接器装反且被误测为正常的情况,导电体外套设有壳体,壳体远离探头一侧内套设有绝缘体,绝缘体内设有针头,针头伸入缺口内与连接器连接,针头缩进绝缘体内且与导电体连接,本技术可以同时完成对连接器的缺件和装反的辨别,防止压伤被测连接器,提高了PCBA的可测率,减少了后期人工检查的时间,避免了后期返工。
附图说明
[0017]为了使本技术的内容更容易被清楚的理解,下面根据本技术的具体实施例并结合附图,对本技术作进一步详细的说明,其中
[0018]图1是本技术测试针的立体结构示意图;
[0019]图2是本技术测试针的侧剖图;
[0020]图3是本技术测试针的爆炸图;
[0021]说明书附图标记说明:1、内管;11、探头;12、导电体;121、第一导电体;122、第二导电体;123、第一空腔;124、防呆腔;2、壳体;3、绝缘体;4、针头;5、弹性元件。
具体实施方式
[0022]下面结合附图和具体实施例对本技术作进一步说明,以使本领域的技术人员可以更好地理解本技术并能予以实施,但所举实施例不作为对本技术的限定。
[0023]请参照图1

图3所示,本技术提供了一种测试针,用于测试PCBA板缺口内的连接器,包括内管1,内管1包括探头11和导电体12,探头11与导电体12连接,探头11为刀片状,导电体12外套设有壳体2,壳体2远离探头11一侧内套设有绝缘体3,绝缘体3内设有针头4,导电体12上设有弹性元件5,弹性元件5一端与绝缘体3连接,针头4伸入缺口内与连接器连接,针头4缩进绝缘体3内且与导电体12连接,得出是否有电流通过,有电流则为连接器正常,若无电流,连接器为装反或者缺件,该测试针的探头11为刀片状,可以通过片状的探头11位置判断测试针及针头4方向是否正确,并将测试针放置到正确位置进行检测,且不会出现压伤连接器,不仅可以检测是否安装连接器,而且可以避免连接器装反且被误测为正常的情况,本技术可以同时完成对连接器的缺件和装反的辨别,防止压伤连接器,提高了PCBA的可测率,减少了后期人工检查的时间,避免了后期返工。
[0024]其中,导电体12包括第一导电体121和第二导电体122,第一导电体121与探头11连接,第二导电体122与第一导电体121同轴连接,第二导电体122与壳体2之间设有第一空腔123,弹性元件5设在第一空腔123内,弹性元件5两端分别与第一导电体121和绝缘体3连接,弹性元件5可以增加第一导电体121和绝缘体3的接触力,绝缘体3内设有第二空腔,测试针
卡设在第二空腔内,测试针可在第二空腔内活动,在测试时测试针可伸入绝缘体3和壳体2内与第二导电体122接触,绝缘体3可以保证测试针短路,便于测试连接器是否装反和缺件。
[0025]进一步的,探头11和导电体12为一体式,探头11和导电体12无法旋转,可以保证不会压伤待测的连接器,探头11可以为T型式,探头11厚度为0.65mm,它可以测试缺口最小0.8mm的连接器。
[0026]具体的,第一导电体121与壳体2之间设有防呆腔124,可以便于测试针测出连接器装反的设计。
[0027]在本实施例中,壳体2和针头4均设为镀金层,镀金层的导电性较好,使得测试更加灵敏和准确,壳体2和针头4也可以为镀铜层,本实用新本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测试针,用于测试PCBA板缺口内的连接器,其特征在于:包括内管,所述内管包括探头和导电体,所述探头与所述导电体连接,所述探头为刀片状,所述导电体外套设有壳体,所述壳体远离所述探头一侧内套设有绝缘体,所述绝缘体内设有针头,所述导电体上设有弹性元件,所述弹性元件一端与所述绝缘体连接,所述针头伸入所述缺口内与所述连接器连接,所述针头缩进所述绝缘体内且与所述导电体连接。2.根据权利要求1所述的测试针,其特征在于:所述导电体包括第一导电体和第二导电体,所述第一导电体与所述探头连接,所述第二导电体与所述第一导电体同轴连接,所述第二导电体与所述壳体之间设有第一空腔,所述弹性元件设在所述第一空腔内,所述弹性元件两端分别与所述第一导电体和所述绝缘体连接。3.根据权利要求2所述的测试针,其特征在于:所述第一导电体与所述壳体之间设有防呆腔。4.根据权利要求1所述的测试针,...

【专利技术属性】
技术研发人员:吴峰陈超鲍向南宋宏宇
申请(专利权)人:江苏特创科技有限公司
类型:新型
国别省市:

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