线圈负载驱动电路及具备该线圈负载驱动电路的光盘装置制造方法及图纸

此线圈负载驱动电路（１），从串联设置在电源电压（Ｖｃｃ）和接地电位间的电源侧的驱动晶体管（Ｑ↓［ｈｐ１］）和接地侧的驱动晶体管（Ｑ↓［ｌｎ１］）的中间点的输出端子，驱动线圈负载（Ｌ）的一端，当这些驱动晶体管的任意一个中流过过电流时，使上述流过过电流的任一个驱动晶体管截止，该线圈负载驱动电路具备：输入电源侧的驱动晶体管（Ｑ↓［ｈｐ１］）的控制电压或接地侧的驱动晶体管（Ｑ↓［ｌｎ１］）的控制电压的过电流检测用晶体管（Ｑ↓［ｄｐ１］）；在过电流检测用晶体管（Ｑ↓［ｄｐ１］）中流过恒定的电流、生成参考电压的恒流源（Ｉ↓［０１］）；和比较输出端子的电压和参考电压，检测过电流的过电流检测用比较器（ＣＭＰ１）。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及具有过电流保护电路的线圈负载驱动电路及具备该线圈负载驱动电路的光盘装置。
技术介绍
图8表示具有驱动线圈负载L的连接成H桥型的驱动晶体管Qhp1、Qln1、Qhp2、Qln2，具备过电流保护电路的以往的线圈负载驱动电路100。在同图中，在来自预驱动器P1、P2的控制信号中产生由延迟等引起的偏移，在电源侧及接地侧的驱动晶体管Qhp1、Qln1或Qhp2、Qln2上产生贯通电流时，在那些驱动晶体管Qhp1、Qln1、Qhp2、Qln2上会流过大电流(以下称为过电流)。另外，由于异物等，输出端子T101、T102间短路时或过负载状态时，同样也会在驱动晶体管Qhp1、Qln1、Qhp2、Qln2中流过过电流。由于此过电流有时会破坏驱动晶体管Qhp1、Q1n1、Qhp2、Qln2，所以设置用于检测流过电源侧的驱动晶体管Qnp1、Qhp2的电流的过电流检测电阻Rd和过电流检测用比较器CMP1，作为防止过电流的过电流保护电路。例如，当驱动晶体管Qhp1、Qln2为导通、驱动晶体管Qhp2、Qln1为截止状态，且如图所示的箭头方向上流过过电流时，由于过电流检测电阻Rd，下降的电压变大，所以与输入到过电流检测用比较器CMP1的同相输入端子的参考电压Vref相比，输入到反相输入端子的电压变低。过电流检测用比较器CMP1检测到该情况，向预驱动器P1、P2传递信号以使驱动晶体管Qhp1、Qln1、Qhp2、Qln2截止。作为记载这样技术的文献，例如有以下的特开平5-236797号公报(专利文献1)。专利文献1特开平5-236797号公报。但是，由于在驱动晶体管Qhn1、Qln1、Qhp2、Qln2及线圈负载L上流过的电流即使在稳定时也比较大，所以上述的线圈负载驱动电路100为了确保输出电压的动态范围，过电流检测电阻Rd需要比通常1Ω小且为高精度。因此，作为过电流检测电阻Rd，多采用高精度的外接电阻，这会导致成本的增加。另外，在使用了这样的线圈负载驱动电路的光盘装置等的电子设备中，装载过电流检测电阻Rd的印刷基板大型化。
技术实现思路
本专利技术正是鉴于上述事由而研制的，其目的在于提供一种不需要作为过电流检测电阻的外接电阻的线圈负载驱动电路。为了达到上述目的，关于本专利技术的线圈负载驱动电路，为从串联设置在电源电压和接地电位间的电源侧的驱动晶体管和接地侧的驱动晶体管之间的中间点即输出端子，驱动线圈负载的一端，当这些驱动晶体管的任意一个中流过过电流时，使流过过电流的任意一个驱动晶体管截止的线圈负载驱动电路，其特征在于，上述线圈负载驱动电路具备被输入电源侧的驱动晶体管的控制电压或接地侧的驱动晶体管的控制电压的过电流检测用晶体管；在过电流检测用晶体管中流过恒定的电流且生成参考电压的恒流源；和对输出端子的电压和参考电压进行比较，检测过电流的过电流检测用比较器。关于本专利技术的其他的线圈负载驱动电路，为从串联设置在电源电压和接地电位间的第1电源侧的驱动晶体管和第1接地侧的驱动晶体管之间的中间点即第1输出端子，和串联设置在电源电压和接地电位间的第2电源侧的驱动晶体管和第2接地侧的驱动晶体管之间的中间点即第2输出端子，驱动线圈负载的两端，当这些驱动晶体管的任意一个中流过过电流时，使流过过电流的任意一个驱动晶体管截止的线圈负载驱动电路，其特征在于，线圈负载驱动电路具备被输入第1电源侧的驱动晶体管的控制电压或第1接地侧的驱动晶体管的控制电压的第1过电流检测用晶体管；被输入第2电源侧的驱动晶体管的控制电压或第2接地侧的驱动晶体管的控制电压的第2过电流检测用晶体管；在第1或第2过电流检测用晶体管中选择性地流过恒定的电流并生成参考电压的恒流源；和选择性地对第1或第2输出端子的电压和参考电压进行比较，检测过电流的过电流检测用比较器。关于本专利技术的再其他的线圈负载驱动电路，为从串联设置在电源电压和接地电位间的第1电源侧的驱动晶体管和第1接地侧的驱动晶体管之间的中间点即第1输出端子，和串联设置在电源电压和接地电位间的第2电源侧的驱动晶体管和第2接地侧的驱动晶体管之间的中间点即第2输出端子，及串联设置在电源电压和接地电位间的第3电源侧的驱动晶体管和第3接地侧的驱动晶体管之间的中间点即第3输出端子，驱动3相线圈负载，当这些驱动晶体管的任意一个中流过过电流时，使流过过电流的任意一个驱动晶体管截止的线圈负载驱动电路，其特征在于，线圈负载驱动电路具备被输入第1电源侧的驱动晶体管的控制电压或第1接地侧的驱动晶体管的控制电压的第1过电流检测用晶体管；被输入第2电源侧的驱动晶体管的控制电压或第2接地侧的驱动晶体管的控制电压的第2过电流检测用晶体管；被输入第3电源侧的驱动晶体管的控制电压或第3接地侧的驱动晶体管的控制电压的第3过电流检测用晶体管；在第1、第2或第3过电流检测用晶体管中选择性地流过恒定的电流并生成参考电压的恒流源；和选择性地对第1、第2或第3输出端子的电压和参考电压进行比较，检测过电流的过电流检测用比较器。作为优选方式，线圈负载驱动电路，其特征在于，具备控制用过电流检测用比较器所比较的电压的输入定时(timing)的机构。特别的，线圈负载驱动电路，其特征在于，控制用过电流检测用比较器所比较的电压的输入定时的机构，是控制电源侧的驱动晶体管的控制电压或接地侧的驱动晶体管的控制电压和过电流检测用晶体管的控制电压的定时的定时控制电路。关于本专利技术的光盘装置，其特征在于，具备上述记载的线圈负载驱动电路。(专利技术效果)关于本专利技术的线圈负载驱动电路，由于设置过电流检测用晶体管，生成参考电压，将其与输出端子的电压相比较，检测过电流，所以不需要作为过电流检测电阻的外接电阻，谋求成本的降低，且判定过电流的电流值不受温度的影响，能够进行正确的过电流检测。另外，关于具备此线圈负载驱动电路的本专利技术相关的光盘装置，在谋求成本降低的同时还谋求小型化。附图说明图1是关于本专利技术的线圈负载驱动电路的第1实施方式的电路图。图2是关于本专利技术的线圈负载驱动电路的第2实施方式的电路图。图3是关于本专利技术的线圈负载驱动电路的第3实施方式的电路图。图4是关于本专利技术的线圈负载驱动电路的第4实施方式的电路图。图5是关于本专利技术的线圈负载驱动电路的第5实施方式的电路图。图6是关于本专利技术的线圈负载驱动电路的第6实施方式的电路图。图7是光盘装置的构成图。图8是以往的线圈负载驱动电路的电路图。图中符号说明1～7-线圈负载驱动电路；L、UL、VL、WL-线圈负载；T1、T2、TU、TV、TW-输出端子；Qhp1、Qhp2、QUHP、QVHP、QWHP-电源侧的驱动晶体管；Qln1、Qln2、QUL、QVL、QWL-接地侧的驱动晶体管；Qdp1、Qdp2、Qdup、Qdvp、Qdwp、Qdun、Qdvn、Qdwn-过电流检测用晶体管；I01、I02、I11-恒流源；CMP1、CMP2-过电流检测用比较器；L1、L2-定时控制电路。具体实施例方式针对本专利技术的实施方式，一边参照附图，一边进行详细的说明。还有，图中同一部分或相当部分附以同一符号，不重复其说明。以下，针对用于实施本专利技术的最佳方式进行说明。图1是关于本专利技术的线圈负载驱动电路的第1实施方式。此线圈负载驱动电路1(及后述的线圈负载驱动电路2～5)，例如适用于驱动构成光本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种线圈负载驱动电路，为从串联设置在电源电压和接地电位间的电源侧的驱动晶体管（Ｑ↓［ｈｐ１］、Ｑ↓［ｈｐ２］）和接地侧的驱动晶体管（Ｑ↓［ｌｎ１］、Ｑ↓［ｌｎ２］）之间的中间点即输出端子（Ｔ１、Ｔ２），驱动线圈负载的一端，当这些驱动晶体管的任意一个中流过过电流时，使上述流过过电流的任意一个驱动晶体管截止的线圈负载驱动电路（１），上述线圈负载驱动电路具备：被输入上述电源侧的驱动晶体管的控制电压或接地侧的驱动晶体管的控制电压的过电流检测用晶体管（Ｑ↓［ｄｐ１］）；在过电流检测用晶体管中流过恒定的电流且生成参考电压的恒流源（Ｉ↓［０１］、Ｉ↓［０２］）；和对上述输出端子的电压和上述参考电压进行比较，检测过电流的过电流检测用比较器（ＣＭＰ１、ＣＭＰ２）。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：吉川宽，
申请(专利权)人：罗姆股份有限公司，
类型：发明
国别省市：JP[日本]