本实用新型专利技术涉及检测设备领域，公开了一种晶棒检测辅助装置，包括主动辊、从动辊以及驱动件，所述主动辊与所述从动辊相互平行且间隔设置，以在两者之间形成供晶棒平行放置的空间，且使晶棒的两侧分别抵接于所述主动辊和所述从动辊，所述驱动件用于驱动所述主动辊转动。本实用新型专利技术采用平行且间隔设置的主动辊和从动辊来承托晶棒，在对晶棒进行检测时，将晶棒放置在主动辊和从动辊上，然后通过驱动主动辊转动即能够带动晶棒进行转动，且从动辊受到晶棒的摩擦会随晶棒一同转动，因此不会产生对晶棒的磨损，避免晶棒损坏，同时通过主动辊和从动辊承托晶棒代替了人工手持的方式，使得尺寸较大的晶棒也能够顺利进行检测，提升了检测效率。效率。效率。
【技术实现步骤摘要】
晶棒检测辅助装置
[0001]本技术涉及检测设备领域，具体地涉及一种晶棒检测辅助装置。
技术介绍
[0002]蓝宝石晶棒是一种用于生产蓝宝石基板的圆柱形三氧化二铝晶体，多应用于航天、军工、半导体照明和电子产品精密仪器等领域。
[0003]蓝宝石晶棒滚磨成型之后需要进行品检，目前的品检工序是采用人工借助激光笔进行目检的方式，即检测人员一只手握持并转动晶棒，另一只手握持激光笔照射晶棒，然后目测晶棒是否具有缺陷。但是，当晶棒的直径尺寸较大时，检测人员难以对晶棒进行握持，会造成检测效率降低；当晶棒的长度尺寸较大时，检测人员由于难以握持并抬起晶棒，通常会将晶棒的非握持端搭放在工作平台上以完成检测，但是这种方式在对晶棒进行转动的过程中，工作平台会造成晶棒产生崩边和划痕，导致晶棒损坏。
技术实现思路
[0004]本技术的目的是为了克服现有技术存在的采用人工目检的方式对尺寸较大的晶棒进行检测时，会产生效率降低或晶棒受损的问题，提供一种晶棒检测辅助装置。
[0005]为了实现上述目的，本技术提供一种晶棒检测辅助装置，包括主动辊、从动辊以及驱动件，所述主动辊与所述从动辊相互平行且间隔设置，以在两者之间形成供晶棒平行放置的空间，且使晶棒的两侧分别抵接于所述主动辊和所述从动辊，所述驱动件用于驱动所述主动辊转动。
[0006]优选地，所述主动辊和所述从动辊均包括转轴和套设在转轴上的胶辊，所述转轴的两端伸出所述胶辊，所述胶辊适于抵接所述晶棒。
[0007]优选地，所述晶棒检测辅助装置还包括基座，所述主动辊和所述从动辊均可转动地设置在所述基座上。
[0008]优选地，所述基座包括沿所述主动辊和所述从动辊的轴向间隔设置的两个安装座，两个所述安装座之间形成适于容纳所述胶辊的空间，且每个所述转轴的两端均分别与对应的所述安装座可转动相连。
[0009]优选地，每个所述安装座上均设有两个用于连接对应所述转轴的轴承。
[0010]优选地，每个所述安装座均设有适于容纳晶棒的凹槽，且所述凹槽位于所述主动辊和所述从动辊之间。
[0011]优选地，所述基座还包括底座，所述底座用于设置两个所述安装座。
[0012]优选地，所述驱动件为与所述主动辊连接的手轮。
[0013]通过上述技术方案，采用平行且间隔设置的主动辊和从动辊来承托晶棒，并设置驱动件驱动主动辊转动，在对晶棒进行检测时，将晶棒放置在主动辊和从动辊上，然后通过驱动主动辊转动即能够带动晶棒进行转动，且从动辊受到晶棒的摩擦会随晶棒一同转动，因此不会产生对晶棒的磨损，避免晶棒损坏，同时通过主动辊和从动辊承托晶棒代替了人
工手持的方式，使得尺寸较大的晶棒也能够顺利进行检测，提升了检测效率。
附图说明
[0014]图1是本技术中晶棒检测辅助装置的一种实施方式的结构示意图一；
[0015]图2是本技术中晶棒检测辅助装置的一种实施方式的结构示意图二；
[0016]图3是本技术中晶棒检测辅助装置的一种实施方式的结构示意图三。
[0017]附图标记说明
[0018]1.主动辊；2.基座；3.驱动件；4.转轴；5.胶辊；6.安装座；7.轴承；8.底座；9.凹槽；10.从动辊。
具体实施方式
[0019]以下结合附图对本技术的具体实施方式进行详细说明。应当理解的是，此处所描述的具体实施方式仅用于说明和解释本技术，并不用于限制本技术。
[0020]本技术提供一种晶棒检测辅助装置，包括主动辊1、从动辊10以及驱动件3，所述主动辊1与所述从动辊10相互平行且间隔设置，以在两者之间形成供晶棒平行放置的空间，且使晶棒的两侧分别抵接于所述主动辊1和所述从动辊10，所述驱动件3用于驱动所述主动辊1转动。
[0021]通过上述技术方案，采用平行且间隔设置的主动辊1和从动辊10来承托晶棒，并设置驱动件3驱动主动辊1转动，在对晶棒进行检测时，将晶棒放置在主动辊1和从动辊10上，然后通过驱动主动辊1转动即能够带动晶棒进行转动，且从动辊10受到晶棒的摩擦会随晶棒一同转动，因此不会产生对晶棒的磨损，避免晶棒损坏，同时通过主动辊1和从动辊10承托晶棒代替了人工手持的方式，使得尺寸较大的晶棒，例如4"及以上尺寸的晶棒也能够顺利进行检测，提升了检测效率。
[0022]本技术对主动辊1和从动辊10的具体结构不做限定，优选的，如图1所示的实施方式中，所述主动辊1和所述从动辊10均包括转轴4和套设在转轴4上的胶辊5，所述转轴4的两端伸出所述胶辊5，所述胶辊5适于抵接所述晶棒。当然，在其他实施方式中，主动辊1和从动辊10也可以采用金属材质，而不采用胶辊5。
[0023]本技术对主动辊1和从动辊10的安装方式不做限定，优选的，如图1所示的实施方式中，所述晶棒检测辅助装置还包括基座2，所述主动辊1和所述从动辊10均可转动地设置在所述基座2上，基座2可以是独立的部件，也可以是检测线上的某一个检测设备。
[0024]本技术对基座2的具体结构不做限定，优选的，如图1所示的实施方式中，所述基座2包括沿所述主动辊1和所述从动辊10的轴向间隔设置的两个安装座6，安装座6优选为板体结构，两个所述安装座6之间形成适于容纳所述胶辊5的空间，且每个所述转轴4的两端均分别与对应的所述安装座6可转动相连。当然，在其他实施方式中，也可以不设置两个安装座6，而将主动辊1和从动辊10可转动的设置在箱体或者壳体内。
[0025]本技术对两个安装座6的安装结构不做限定，优选的，如图1所示的实施方式中，所述基座2还包括底座8，优选为长方形板体，所述底座8用于设置两个所述安装座6，优选为焊接相连，此时可以通过移动基座2的位置以方便的改变晶棒检测辅助装置的位置。当然，在其他实施方式中，两个所述安装座6也可以设置在检测线上的某一个检测设备上。
[0026]本技术对转轴4与安装座6的连接结构不做具体限定，优选的，如图1所示的实施方式中，每个所述安装座6上均设有两个用于连接对应所述转轴4的轴承7，从而将安装座6与转轴4可转动的相连。当然，在其他实施方式中，也可以不设置轴承7，而在安装座6上设置适于可转动的插接所述转轴4的插孔。
[0027]进一步的，为了避免安装座6与晶棒干涉，如图1所示的实施方式中，每个所述安装座6均设有适于容纳晶棒的凹槽9，且所述凹槽9位于所述主动辊1和所述从动辊10之间，凹槽9优选为半圆形结构。当然，在其他实施方式中，也可以不设置凹槽9，此时，主动辊1和从动辊10的长度需要大于晶棒的长度。
[0028]本技术对驱动件3的具体结构不做限定，优选的，如图1所示的实施方式中，所述驱动件3为与所述主动辊1连接的手轮，手轮通过螺栓与主动辊1的转轴4相连，通过手动转动手轮即能够驱动主动辊1和晶棒转动。当然，在其他实施方式中，驱动件3也可以为与主动辊1连接的电机。
[0029]以上结合附图详细描述了本技术的优选实施方式，但是，本本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种晶棒检测辅助装置，其特征在于，包括主动辊(1)、从动辊(10)以及驱动件(3)，所述主动辊(1)与所述从动辊(10)相互平行且间隔设置，以在两者之间形成供晶棒平行放置的空间，且使晶棒的两侧分别抵接于所述主动辊(1)和所述从动辊(10)，所述驱动件(3)用于驱动所述主动辊(1)转动。2.根据权利要求1所述的晶棒检测辅助装置，其特征在于，所述主动辊(1)和所述从动辊(10)均包括转轴(4)和套设在转轴(4)上的胶辊(5)，所述转轴(4)的两端伸出所述胶辊(5)，所述胶辊(5)适于抵接所述晶棒。3.根据权利要求2所述的晶棒检测辅助装置，其特征在于，所述晶棒检测辅助装置还包括基座(2)，所述主动辊(1)和所述从动辊(10)均可转动地设置在所述基座(2)上。4.根据权利要求3所述的晶棒检测辅助装置，其特征在于，所述基座(2)包括沿所述主动辊(1)和所...
【专利技术属性】
技术研发人员：万建军，宋亚滨，翟虎，陆继波，陈桥玉，赵亨山，
申请(专利权)人：甘肃旭晶新材料有限公司，
类型：新型
国别省市：
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