一种多角度打光检测装置及检测设备制造方法及图纸

技术编号:33827219 阅读:28 留言:0更新日期:2022-06-16 10:59
本实用新型专利技术公开了一种多角度打光检测装置及检测设备,在进行检测时,工件位于检测工位上,通过低角度环状光源装置向工件照射低角度均匀扩散光线,通过高角度环状光源装置向工件照射高角度均匀扩散光线;其中,低角度均匀扩散光线提供暗场照明环境,能够凸显工件的边缘、倒角、台阶过渡等不平整坡度信息;而高角度均匀扩散光线提供明场照明环境,能够凸显工件表面平整区域的轮廓特征,且表面粗糙程度不同或反射率不同的区域也会有明显差异,从而令摄像单元能够获取工件的毛刺信息以便进行起毛检测;即本方案通过低角度环状光源装置与高角度环状光源装置的组合实现了单一设备对工件的全面检测,提高了检测效率,从而提高了生产效率。效率。效率。

【技术实现步骤摘要】
一种多角度打光检测装置及检测设备


[0001]本技术涉及工件表面缺陷检测
,尤其涉及一种多角度打光检测装置及检测设备。

技术介绍

[0002]工件表面缺陷检测技术具体指的是通过光源对工件表面打光,再通过摄像头获取从工件表面反射的光,从而获得工件的表面信息的一种检测手段。
[0003]现有技术中,通过上述方式获取电子产品外壳边框(例如,手机外壳、笔记本电脑外壳体)、智能家电壳体(例如,万能遥控器壳体、智能冰箱壳体)等工件的表面缺陷,表面缺陷包括碰伤、划痕、雕刻等。
[0004]上述的检测手段由于光源设置单一,光照射在工件表面时通常只能检测碰伤、划痕、雕刻等比较明显的缺陷,不能有效检测到毛刺等比较细微的缺陷特征,往往还需要通过人工将带毛刺的产品筛出,导致检测过程较长,降低了生产效率,即现有技术中的检测手段效率低。

技术实现思路

[0005]本技术的目的在于提供一种一种多角度打光检测装置及检测设备,来解决现有技术中的检测手段效率低的问题。
[0006]为达此目的,本技术采用以下技术方案:<br/>[0007]本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种多角度打光检测装置,其特征在于,包括检测工位(10)与壳体(20),所述壳体(20)内形成有安装槽(21);于所述安装槽(21)内,所述壳体(20)安装有低角度环状光源装置(30)、高角度环状光源装置(40)和摄像单元(50);于远离所述检测工位(10)的方向依次,所述低角度环状光源装置(30)、所述高角度环状光源装置(40)和所述摄像单元(50)依次设置。2.根据权利要求1所述的多角度打光检测装置,其特征在于,所述低角度环状光源装置(30)包括低角度支架(31)和安装于所述低角度支架(31)上的低角度环状光源(32);所述高角度环状光源装置(40)包括高角度支架(41)和安装于所述高角度支架(41)上的高角度环状光源(42);所述壳体(20)对应所述低角度支架(31)的位置开设有低角度滑槽(22),所述壳体(20)对应所述高角度支架(41)的位置开设有高角度滑槽(23);所述低角度支架(31)能沿所述低角度滑槽(22)滑动,所述高角度支架(41)能沿所述高角度滑槽(23)的槽壁滑动。3.根据权利要求2所述的多角度打光检测装置,其特征在于,于所述低角度滑槽(22)的一侧,所述壳体(20)的外壁上开设有低角度刻度槽(24);所述低角度支架(31)通过一带有水平标示线的螺栓穿过所述低角度滑槽(22)与所述壳体(20)可拆卸地连接;于所述高角度滑槽(23)的一侧,所述壳体(20)的外壁上开设有高角度刻度槽(25);所述高角度支架(41)通过一带有水平标示线的螺栓穿过所述高角度滑槽(23)与所述壳体(20)可拆卸地连接。4.根据权利要求1所述的多角度打光检测装置,其特征在于,还包括一设置于所述检测工位(10)上的旋转装置(70),所述旋转装置(70)用于驱动工件(80)旋转;于所述安装槽(21)内,所述壳体(20)还安装有平行光源装置(60),所述平行光源装置(60)用于向工件(80)照射平行光。5...

【专利技术属性】
技术研发人员:陈灵铭
申请(专利权)人:广东奥普特科技股份有限公司
类型:新型
国别省市:

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