【技术实现步骤摘要】
一种多角度打光检测装置及检测设备
[0001]本技术涉及工件表面缺陷检测
,尤其涉及一种多角度打光检测装置及检测设备。
技术介绍
[0002]工件表面缺陷检测技术具体指的是通过光源对工件表面打光,再通过摄像头获取从工件表面反射的光,从而获得工件的表面信息的一种检测手段。
[0003]现有技术中,通过上述方式获取电子产品外壳边框(例如,手机外壳、笔记本电脑外壳体)、智能家电壳体(例如,万能遥控器壳体、智能冰箱壳体)等工件的表面缺陷,表面缺陷包括碰伤、划痕、雕刻等。
[0004]上述的检测手段由于光源设置单一,光照射在工件表面时通常只能检测碰伤、划痕、雕刻等比较明显的缺陷,不能有效检测到毛刺等比较细微的缺陷特征,往往还需要通过人工将带毛刺的产品筛出,导致检测过程较长,降低了生产效率,即现有技术中的检测手段效率低。
技术实现思路
[0005]本技术的目的在于提供一种一种多角度打光检测装置及检测设备,来解决现有技术中的检测手段效率低的问题。
[0006]为达此目的,本技术采用以下技术方案:< ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种多角度打光检测装置,其特征在于,包括检测工位(10)与壳体(20),所述壳体(20)内形成有安装槽(21);于所述安装槽(21)内,所述壳体(20)安装有低角度环状光源装置(30)、高角度环状光源装置(40)和摄像单元(50);于远离所述检测工位(10)的方向依次,所述低角度环状光源装置(30)、所述高角度环状光源装置(40)和所述摄像单元(50)依次设置。2.根据权利要求1所述的多角度打光检测装置,其特征在于,所述低角度环状光源装置(30)包括低角度支架(31)和安装于所述低角度支架(31)上的低角度环状光源(32);所述高角度环状光源装置(40)包括高角度支架(41)和安装于所述高角度支架(41)上的高角度环状光源(42);所述壳体(20)对应所述低角度支架(31)的位置开设有低角度滑槽(22),所述壳体(20)对应所述高角度支架(41)的位置开设有高角度滑槽(23);所述低角度支架(31)能沿所述低角度滑槽(22)滑动,所述高角度支架(41)能沿所述高角度滑槽(23)的槽壁滑动。3.根据权利要求2所述的多角度打光检测装置,其特征在于,于所述低角度滑槽(22)的一侧,所述壳体(20)的外壁上开设有低角度刻度槽(24);所述低角度支架(31)通过一带有水平标示线的螺栓穿过所述低角度滑槽(22)与所述壳体(20)可拆卸地连接;于所述高角度滑槽(23)的一侧,所述壳体(20)的外壁上开设有高角度刻度槽(25);所述高角度支架(41)通过一带有水平标示线的螺栓穿过所述高角度滑槽(23)与所述壳体(20)可拆卸地连接。4.根据权利要求1所述的多角度打光检测装置,其特征在于,还包括一设置于所述检测工位(10)上的旋转装置(70),所述旋转装置(70)用于驱动工件(80)旋转;于所述安装槽(21)内,所述壳体(20)还安装有平行光源装置(60),所述平行光源装置(60)用于向工件(80)照射平行光。5...
【专利技术属性】
技术研发人员:陈灵铭,
申请(专利权)人:广东奥普特科技股份有限公司,
类型:新型
国别省市:
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