一种判断表面缺陷显性程度的方法技术

本发明专利技术公开了一种判断表面缺陷显性程度的方法，在缺陷识别区上方架设垂直于缺陷识别区轴向的弧形轨道，并在弧形轨道上安装工业相机；将工业相机运动到缺陷识别区中待识别工件的正上方，进行第一次拍照识别，获得第一图像，识别完成后在第一图像上标注缺陷存在的位置，同时对标注了缺陷位置的第一图像取灰度值；驱动工业相机在弧形轨道上运动，在运动过程中持续对待识别工件的表面做各角度取景抓拍；对抓拍的各角度图片分别取灰度值；根据工业相机在弧形轨道上运动时的角度连续变化将各角度图片的灰度值依次排列获得灰度梯度，将缺陷位置的灰度梯度列出并根据缺陷位置的灰度梯度判断缺陷位置的显性程度，本发明专利技术可以高效判断缺陷的显性程度。陷的显性程度。

【技术实现步骤摘要】
一种判断表面缺陷显性程度的方法


[0001]本专利技术涉及工业相机的应用领域，具体地说，是一种判断表面缺陷显性程度的方法。

技术介绍

[0002]在现有的工业质检技术当中，工件的缺陷检测通常是将工件固定在检验机台上，由工业相机在不同尺寸的视野下，按照特定轨迹依次进行扫描识别，并通过集成算法对扫描识别出的缺陷进行类别检测，其中大部分缺陷可以被正确识别并检测出其所属缺陷类别。
[0003]但采用工业相机来识别加工缺陷时，由于识别动作是在二维环境下进行的，可以很清楚地识别出缺陷区域的位置和面积，但对缺陷的深度，即显性程度的识别能力较弱。

技术实现思路

[0004]专利技术目的：本专利技术目的在于针对现有技术的不足，提供一种判断表面缺陷显性程度的方法。
[0005]技术方案：本专利技术所述一种判断表面缺陷显性程度的方法，包括以下步骤：
[0006]S1、在缺陷识别区上方架设垂直于缺陷识别区轴向的弧形轨道，并在弧形轨道上安装工业相机；
[0007]S2、将工业相机运动到缺陷识别区中待识别工件的正上方，进行第一次拍照识别，获得第一图像，识别完成后在第一图像上标注缺陷存在的位置，同时对标注了缺陷位置的第一图像取灰度值；
[0008]S3、驱动工业相机在弧形轨道上运动，在运动过程中持续对待识别工件的表面做各角度取景抓拍；
[0009]S4、对S3中抓拍的各角度图片分别取灰度值；
[0010]S5、根据S3中工业相机在弧形轨道上运动时的角度连续变化将S4中各角度图片的灰度值依次排列获得灰度梯度，将缺陷位置的灰度梯度列出并根据缺陷位置的灰度梯度判断缺陷位置的显性程度。
[0011]作为优选的，所述工业相机与弧形轨道的连接部处设有四向调节球轴，所述四向调节球轴控制工业相机在弧形轨道上运动时取景方向始终朝向缺陷位置所在区域。
[0012]作为优选的，所述弧形轨道上还安装有红外定距装置。
[0013]作为优选的，所述红外定距装置包括追踪式红外定距装置，S1中标注缺陷存在的位置后追踪式红外定距装置在弧形轨道上运动时持续对准缺陷位置并持续获取缺陷位置的距离变量。
[0014]本专利技术相比于现有技术具有以下有益效果：通过工业相机在弧形轨道上的连续移动来获取连续变化的缺陷位置图样并对缺陷位置图样取灰度获得灰度梯度，通过灰度梯度的变化可以获得缺陷位置的深度，从而判断其显性程度。
具体实施方式
[0015]下面将对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0016]在本专利技术的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“轴向”、“径向”、“周向”等指示的方位或位置关系仅是为了便于描述本专利技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本专利技术的限制。
[0017]在本专利技术中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，也可以是成一体；可以是机械连接，也可以是电连接，也可以是通讯连接；可以是直接连接，也可以通过中间媒介的间接连接，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系，除非另有明确的限定。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本专利技术中的具体含义。
[0018]下面以具体地实施例对本专利技术的技术方案进行详细说明。下面这几个具体的实施例可以相互结合，对于相同或相似的概念或过程可能在某些实施例不再赘述。
[0019]实施例1：一种判断表面缺陷显性程度的方法，包括以下步骤：
[0020]S1、在缺陷识别区上方架设垂直于缺陷识别区轴向的弧形轨道，并在弧形轨道上安装工业相机；
[0021]S2、将工业相机运动到缺陷识别区中待识别工件的正上方，进行第一次拍照识别，获得第一图像，识别完成后在第一图像上标注缺陷存在的位置，同时对标注了缺陷位置的第一图像取灰度值；
[0022]S3、驱动工业相机在弧形轨道上运动，在运动过程中持续对待识别工件的表面做各角度取景抓拍；
[0023]S4、对S3中抓拍的各角度图片分别取灰度值；
[0024]S5、根据S3中工业相机在弧形轨道上运动时的角度连续变化将S4中各角度图片的灰度值依次排列获得灰度梯度，将缺陷位置的灰度梯度列出并根据缺陷位置的灰度梯度判断缺陷位置的显性程度。
[0025]实施例2：一种判断表面缺陷显性程度的方法，包括以下步骤：
[0026]S1、在缺陷识别区上方架设垂直于缺陷识别区轴向的弧形轨道，并在弧形轨道上安装工业相机，工业相机与弧形轨道的连接部处设有四向调节球轴，四向调节球轴控制工业相机在弧形轨道上运动时取景方向始终朝向缺陷位置所在区域，弧形轨道上还安装有追踪式红外定距装置；
[0027]S2、将工业相机运动到缺陷识别区中待识别工件的正上方，进行第一次拍照识别，获得第一图像，识别完成后在第一图像上标注缺陷存在的位置，同时对标注了缺陷位置的第一图像取灰度值；
[0028]S3、驱动工业相机在弧形轨道上运动，在运动过程中持续对待识别工件的表面做
各角度取景抓拍，标注缺陷存在的位置后追踪式红外定距装置在弧形轨道上运动时持续对准缺陷位置并持续获取缺陷位置的距离变量；
[0029]S4、对S3中抓拍的各角度图片分别取灰度值；
[0030]S5、根据S3中工业相机在弧形轨道上运动时的角度连续变化将S4中各角度图片的灰度值依次排列获得灰度梯度，将缺陷位置的灰度梯度列出并根据缺陷位置的灰度梯度判断缺陷位置的显性程度。
[0031]这一技术方案的优点在于通过工业相机在弧形轨道上的连续移动来获取连续变化的缺陷位置图样并对缺陷位置图样取灰度获得灰度梯度，通过灰度梯度的变化配合踪式红外定距装置获得的缺陷位置的距离变量可以获得缺陷位置的深度，从而判断其显性程度。
[0032]在本专利技术中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征“上”或“下”可以是第一特征和第二特征直接接触，或第一特征和第二特征通过中间媒介间接接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”可以是第一特征在第二特征正上方或斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”可以是第一特征在第二特征正下方或斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度低于第二特征。在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”或“一些示例”等的描述，意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本专利技术的至少一个实施例或示例中。在本说本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种判断表面缺陷显性程度的方法，其特征在于：包括以下步骤：S1、在缺陷识别区上方架设垂直于缺陷识别区轴向的弧形轨道，并在弧形轨道上安装工业相机；S2、将工业相机运动到缺陷识别区中待识别工件的正上方，进行第一次拍照识别，获得第一图像，识别完成后在第一图像上标注缺陷存在的位置，同时对标注了缺陷位置的第一图像取灰度值；S3、驱动工业相机在弧形轨道上运动，在运动过程中持续对待识别工件的表面做各角度取景抓拍；S4、对S3中抓拍的各角度图片分别取灰度值；S5、根据S3中工业相机在弧形轨道上运动时的角度连续变化将S4中各角度图片的灰度值依次排列获得灰度梯度，将缺陷位置的灰度梯度列出...

【专利技术属性】
技术研发人员：何星，
申请(专利权)人：厦门聚视智创科技有限公司，
类型：发明
国别省市：