原子力显微镜中胶体探针的制备方法技术

本发明专利技术公开了一种原子力显微镜中胶体探针的制备方法，将有机物粉末和光敏胶分别均匀填充在微孔板两侧的孔隙中，涂平压实，在原子力显微镜光学成像系统下利用控制系统将探针悬臂自由端先浸入光敏胶中，然后退针，此时在悬臂自由端形成胶体微球，再将悬臂自由端浸入有机物粉末中，静置使有机物粉末包裹胶体微球，退针，待光敏胶固化后即获得有机物修饰的胶体探针。本发明专利技术分别将有机物和光敏胶均匀填充在微孔板两侧孔隙中，可以达到定量控制光敏胶和有机物的量，避免悬臂上过多的修饰物而改变悬臂自身的弹性系数和激光反射率，提高了原子力显微镜纳米力学测量的灵敏度和准确性，该方法无需其他辅助操作系统，操作简单，成功率高，可以批量制备。可以批量制备。可以批量制备。

【技术实现步骤摘要】
原子力显微镜中胶体探针的制备方法


[0001]本专利技术属于原子力显微镜制备
，涉及一种原子力显微镜中胶体探针的制备方法。

技术介绍

[0002]原子力显微镜(AFM)主要是利用光学检测法或隧道电流检测法，测得微悬臂对应于扫描各点的位置变化，从而获得样品表面形貌的信息。此外，AFM的另一个应用是通过将颗粒固定在悬臂末端直接测量颗粒与样品表面之间的粘附力，这种技术大力推动了分子间力的测量，且为特定基团间的作用力测量提供了一种有效方法。常规探针是由悬臂和针尖组成，针尖位于悬臂的自由端，用于感知针尖和样品之间的相互作用；悬臂通常是由一个100
‑
500μm长度和500nm
‑
5μm厚的硅片或者氮化硅片制成(PNP
‑
TR
‑
TL
‑
20/HQ:NSC36)，其形状和尺寸对于分辨率，测量精度有重要的影响。
[0003]随着技术的不断发展和成熟，探针的功能化修饰已经成为热点。但是在测量某些微量作用力时，普通的探针修饰往往准确度不够，无法保证测量的可信度本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种原子力显微镜中胶体探针的制备方法，其特征在于，将有机物粉末和光敏胶分别均匀填充在微孔板两侧的孔隙中，涂平压实，在原子力显微镜光学成像系统下利用控制系统将探针悬臂自由端先浸入光敏胶中，然后退针，此时在悬臂自由端形成胶体微球，再将悬臂自由端浸入有机物粉末中，静置使有机物粉末包裹胶体微球，退针，待光敏胶固化后即获得有机物修饰的胶体探针。2.根据权利要求1所述的一种原子力显微镜中胶体探针的制备方法，其特征在于，具体包括以下步骤：步骤1，制备有机物粉末；步骤2，微孔板预处理，将微孔板进行超声波清洗5min
‑
10min，去除表面残留物质，然后用氮气吹干后备用，微孔板表面孔隙的孔径为3μm
‑
5μm，孔深为2μm；步骤3，制备样品，在超净间内，用针头吸取光敏胶，滴入步骤2预处理后的微孔板一侧孔隙中，均匀抹平，使光敏胶填满微孔板孔隙，然后将步骤1制备的有机物粉末填充在微孔板另一侧孔隙中，均匀涂平，用洁净盖玻片放在微孔板填充有机物粉末的孔隙顶部，压制0.8min
‑
1.5min后移开，压实有机物粉末，最后用洗耳球吹去多余有机物粉末；步骤4，合成胶体探针，在原子力显微镜光学成像系统下，利用控制系统将探针悬臂自由端先伸入微孔板填充光敏胶的孔隙中，随后退针至安全高度，探针悬臂自由端底部形成胶体微球，然后水平调节微孔板的位置，使微孔板上填充有机物粉末的孔隙位于探针悬臂自由端正下方，再将探针悬臂自由端伸入微孔板填充有机物粉末的孔隙中，静置使有机物粉末包裹光敏胶形成的胶体微球，随后退针至安全高度，用紫外线固化灯照射探针悬臂自由端，待光敏胶完全固化后即获得有机物修饰的胶体探针。3.根据权利要求2所述的一种原子力显微镜中胶体探针的制备方法，其特征在于，所述步骤1包括在室温下，将3mg
‑
5mg的有机物颗粒加入到球磨机中，研磨10min
‑
15min，得到粒径为0.2μm
‑
0.3μm的有机物粉...

【专利技术属性】
技术研发人员：王毅凡，张耀中，郑兴，柯艳春，刘豹，郑冲祥，邓洪波，
申请(专利权)人：西安理工大学，
类型：发明
国别省市：