具有厚度控制的敷形涂覆工艺制造技术

本发明专利技术提供了一种具有厚度控制的敷形涂覆工艺，包括以下步骤：通过分配装置根据第一分配操作将涂覆材料分配在衬底上，通过与分配装置集成在一起的检查装置检查被施加在第一衬底上的涂覆材料，并且基于检查改变第一分配操作以使涂覆材料根据第二分配操作被分配在随后的衬底上。本发明专利技术还提供一种相关联的涂覆机器。机器。机器。

【技术实现步骤摘要】
具有厚度控制的敷形涂覆工艺
相关申请的交叉引用
[0001]本申请要求2020年12月02日提交的题为“Conformal Coating Process with Thickness Control(具有厚度控制的敷形涂覆工艺)”的美国临时申请No.63/120,428的优先权和权益，还要求2021年10月08日提交的美国专利申请No.17/497,318的优先权和权益。


[0002]以下涉及敷形涂覆机器的实施例，更具体地涉及用于控制所施加的涂层的厚度的敷形涂覆机器的实施例。

技术介绍

[0003]常规的敷形涂覆厚度测量为手动离线或在线使用光学检查完成。手动方法使用湿膜量规、涡流仪、激光、共焦或其他离线执行的传感器。手动操作会引入污染，可能会影响涂层布局，或产生不正确的结果。光学检查能够在线或离线进行，但需要针对每批涂层在黑光下的涂层光学亮度进行校准，并且需要与“金色”样品进行比较。

技术实现思路

[0004]一个方面涉及一种用于控制分配系统的方法，该方法包括：通过分配装置根据第一分配操作将涂覆材料分配在衬底上，通过与分配装置集成在一起的检查装置检查被施加在第一衬底上的涂覆材料，和基于检查改变第一分配操作以使涂覆材料根据第二分配操作被分配在随后的衬底上。
[0005]在示例性实施例中，所述第一分配操作包括以第一流速分配涂覆材料，第二分配操作包括以不同于第一流速的第二流速分配涂覆材料。
[0006]在示例性实施例中，所述检查包括测量被施加给衬底的涂覆材料的厚度，和/或检测涂覆材料在衬底的一个或多个目标区域中的布局。
[0007]在示例性实施例中，改变第一分配操作包括调整分配装置的至少一个参数。
[0008]在示例性实施例中，分配装置的被调整的该至少一个参数包括泵速、流体压力、孔口开度、阀冲程、行进速度和涂覆位置。
[0009]在示例性实施例中，在衬底离开分配系统之前进行检查，而在分配之后，在衬底处于分配系统内的相同位置或接近相同位置。
[0010]在示例性实施例中，检查装置和分配装置都位于分配系统的同一壳体内，检查装置被附接以物理上接近分配装置。
[0011]另一个方面涉及一种控制分配系统的方法，其包括：将涂覆材料分配在分配系统所接收的衬底上，用分配系统内的被布置为接近分配装置的传感器测量被施加给衬底的涂覆材料的厚度，确定涂覆材料的厚度上的误差，调整分配系统的至少一个参数以校正误差，并且响应于该调整，执行校正动作。
[0012]在示例性实施例中，误差通过将传感器所测得的厚度与预设容许偏差进行比较来
确定并且确定传感器所测得的厚度超过围绕所期望厚度的预设容许偏差。
[0013]在示例性实施例中，校正动作包括在衬底上分配另外的涂覆材料并且获得随后的厚度测量，或将衬底从分配系统中排出并且将涂覆材料分配在随后进入分配系统的衬底上。
[0014]另一个方面涉及一种涂覆机器，其包括：被配置为将涂覆材料分配到被移动通过涂覆系统的一系列衬底上的分配装置，与分配装置集成的检查装置，该检查装置被配置为对被施加给该一系列衬底的至少一个衬底的涂覆材料执行检查，以及被配置为基于检测装置的检查调整涂覆机器的至少一个参数的控制器。
[0015]在示例性实施例中检测装置是与分配装置集成的光谱干涉激光传感器。
[0016]结合附图，从以下详细公开内容中将更容易理解和充分理解构造和操作的前述和其他特征。
附图说明
[0017]将参考以下附图详细描述一些实施例，其中相同的标记表示相同的构件，其中：图1示出了根据本专利技术实施例的一种涂覆机器的示意图；图2示出了根据本专利技术实施例的一种涂覆机器的第一实施例的框图；图3示出了根据本专利技术实施例的一种涂覆机器的第二实施例的框图；图4示出了根据本专利技术实施例的一种用于控制涂覆机器的方法的流程图；图5示出了根据本专利技术实施例的另一种用于控制涂覆机器的方法的流程图；和图6示出了根据本专利技术实施例的另一种用于控制涂覆机器的方法的流程图。
具体实施方式
[0018]本文中通过示例而非限制的方式参考附图呈现了所公开的装置和方法的下文描述的实施例的详细描述。尽管详细地示出和描述了某些实施例，但是应当理解在不脱离所附权利要求的范围的情况下可以进行各种改变和修改。本专利技术的范围决不限于构成部件的数量，其材料、其形状、其相对布置等仅作为本专利技术实施例的示例而公开。
[0019]作为详细描述的前言，应当注意，在本说明书和所附权利要求中使用的单数形式“一”和“该”包括复数形式，除非上下文另有明确规定。
[0020]简而言之，本专利技术的实施例涉及一种涂覆机器，如果检测到错误，则该涂覆机器利用传感器数据来自动调整涂覆工艺。传感器测量所施加涂层的特性，例如所施加涂层的厚度，并将传感器数据发送到控制器/计算机进行处理。传感器数据被处理以确定所施加的涂层是否在所预期的规格(例如，所期望厚度)的可接受容许偏差内。如果控制器/计算机确定所施加的涂层的厚度超过可接受容许偏差，则控制器调整涂覆机器的一个或多个参数以减少或增加要施加的涂覆材料的量，从而使所施加的涂层的厚度在所预期的规格的可接受容许偏差范围内。涂覆机器被配置为对一系列衬底进行涂覆，并且通过利用传感器数据自动调整涂覆工艺，大大减少了在涂覆过程中出现错误的衬底的数量。在许多情况下，检测到了错误，然后在涂覆后续衬底之前进行相关联的调整。
[0021]有利地，传感器被布置为接近分配装置以用于更为即时的错误检测和校正动作。与从涂覆机器的分配部件中排出衬底以远程检查所施加的涂覆材料不同，位于与分配装置
相同的附近的传感器检查所施加的涂层并且在衬底离开分配装置附近之前发送数据用于处理。通过这种方式，与将衬底传送到另一条装配线或远程部件进行检查而另一个衬底载入涂覆机器的情况相比，可以更快地检测到任何错误。更快的错误检测意味着在涂覆过程中更早地完成对涂覆机器的必要调整，这减少了涂覆后续衬底的延迟，并且减少了在调整前错误涂覆的后续衬底的数量。此外，传感器靠近分配装置的位置允许对当前衬底进行修饰或额外分配，而无需丢弃衬底。
[0022]现在参考附图，图1示出了根据本专利技术实施例的一种涂覆机器100。涂覆机器100是被配置为分配、施加涂覆材料或用涂覆材料以其他方式涂覆衬底5的机器。在示例性实施例中，涂覆机器100是被配置为将敷形涂层施加到衬底5，例如印刷电路板的敷形涂覆机器。涂覆机器100由壳体6限定，壳体6由多个框架构件、面板和接入点构成。被附接到框架的面板可以是实心面板和透视面板的组合，例如玻璃、塑料等，以允许操作观察。此外，涂覆机器100是分立单元，但具有其他功能(例如，固化)的其他分立单元可以被耦接到涂覆机器100以完成敷形涂覆工艺。
[0023]壳体6的内部区域包含分配装置10和检查装置20，并且适合于接收一系列衬底5，作为涂覆工艺的一部分；壳体6内可以有单个衬底或有多个离散的衬底位于壳体6内，用于接收涂覆材料。可选地，涂覆机器100包括用于显本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于控制分配系统的方法，其包括：通过分配装置根据第一分配操作将涂覆材料分配到衬底上；通过与所述分配装置集成在一起的检测装置检测被施加在第一衬底上的所述涂覆材料；以及基于所述检测改变所述第一分配操作以使所述涂覆材料根据第二分配操作被分配在随后的衬底上。2.如权利要求1所述的方法，其中所述第一分配操作包括以第一流速分配所述涂覆材料，第二分配操作包括以不同于所述第一流速的第二流速分配所述涂覆材料。3.如权利要求1所述的方法，其中所述检查包括测量被施加给所述衬底的涂覆材料的厚度。4.如权利要求1所述的方法，其中所述检查包括检测所述衬底的一个或多个目标区域中的涂覆材料的布局。5.如权利要求1所述的方法，其中改变所述第一分配操作包括调整所述分配装置的至少一个参数。6.如权利要求1所述的方法，其中所述分配装置的所述至少一个参数包括泵速、流体压力、孔口开度、阀冲程、行进速度和涂覆位置。7.如权利要求1所述的方法，其中所述检查发生在所述衬底离开所述分配系统之前。8.如权利要求1所述的方法，其中在所述分配之后，所述检查发生在所述衬底处于所述分配系统内的相同位置时。9.如权利要求1所述的方法，其中所述检查装置和所述分配装置都位于所述分配系统的同一壳体内。10.如权利要求1所述的方法，其中所述检查装置被附接至所述分配装置。11.一种用于控制分配系统的方法，其包括：将涂覆材料分配在所述分配系统所接收的衬底上；用所述分配系统内的被布置为...

【专利技术属性】
技术研发人员：杰森，
申请(专利权)人：精密阀门自动化有限公司，
类型：发明
国别省市：