【技术实现步骤摘要】
半导体装置
[0001]本专利技术涉及一种半导体装置。
技术介绍
[0002]就以往的半导体装置而言,存在以下技术,当在封装件形成了多个孔之后,通过薄的树脂部将孔的上端部堵塞,根据电气特性试验的结果而使薄的树脂部断裂,通过各个孔的开闭状态来显示电气特性试验的结果的等级(例如参照专利文献1)。
[0003]专利文献1:日本实开昭63
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55546号公报
[0004]但是,在专利文献1所记载的技术中,由于无法使用各个孔的开闭状态来识别产品的型号名称,因此,存在以下问题,即,在虽然型号名称不同但电气特性试验的结果的等级相同的情况下,会错误地将其它型号的半导体装置搭载于基板。
技术实现思路
[0005]因此,本专利技术的目的在于提供能够容易地识别产品的型号名称、抑制向基板的误搭载的半导体装置。
[0006]本专利技术涉及的半导体装置搭载于基板,该半导体装置具有:封装件,其将半导体元件封装;引线框,其一个端部与所述半导体元件连接,另一个端部从所述封装件的侧面凸出;多个螺孔,它们 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种半导体装置,其搭载于基板,该半导体装置具有:封装件,其将半导体元件封装;引线框,其一个端部与所述半导体元件连接,另一个端部从所述封装件的侧面凸出;多个螺孔,它们形成于所述封装件以使得能够将所述封装件固定于所述基板;以及树脂部,其能够将多个螺孔堵塞,所述半导体装置的型号名称...
【专利技术属性】
技术研发人员:砥上卫,关根敏孝,长原辉明,中村宏之,川原一浩,山口公辅,王翔太,
申请(专利权)人:三菱电机株式会社,
类型:发明
国别省市:
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