一种精密传输导电测试治具及其测试方法技术

本发明专利技术公开一种精密传输导电测试治具及其测试方法，包括有底座、第一测试模块、第二测试模块、压持模块；第一测试模块包括有支架、探针模组和第一测试导线，支架可活动式设于底座，探针模组具有若干探针，支架设有开口，探针位于开口的下侧；第二测试模块具有插口和第二测试导线；压持模块包括有压块及操作组件，压块位于支架的上方；如此，通过各模块的设计，将端子部置于支架再利用压持模块将端子部下移以使端子部与探针导通连接，线材的另一端插头插入插口内，保证了线材的端子部与测试治具的探针之间的导通连接稳定，从而提高了线材测试的精度，结构设计简单，巧妙合理，操作定位简单，使用方便，实用性强，适用范围广。适用范围广。适用范围广。

【技术实现步骤摘要】
一种精密传输导电测试治具及其测试方法


[0001]本专利技术涉及治具领域技术，尤其是指一种精密传输导电测试治具及其测试方法。

技术介绍

[0002]目前，现代生活中经常需要使用到各种电子产品，电子产品需要使用线材进行数据连接、电能传输等操作；线材在和电子产品进行插接接触前都需要进行测试，以避免线材出现问题，使得线材在使用过程中出现故障而不能使用；其中，线材的测试以导通/传输测试为主，即通过测试点来测试线材加工过程中的电气导通性能，从而判断整条线是否焊接/端压成功，而测试治具就是用来辅助完成这项测试的主要工具。
[0003]现有的测试治具都是设置于测试机上，通过将待测线材定位于测试治具上，再启用测试机对其进行测试操作；但是，其测试治具结构设计复杂，测试治具与线材的定位操作频繁，导致测试治具的探针与待测线材的端子之间的导通连接性能欠佳，并且由于长期频繁的测试使用，严重影响测试精度，实用性不强，适用范围小。
[0004]因此，需要研究一种新的技术方案来解决上述问题。

技术实现思路

[0005]有鉴于此，本专利技术针对现本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种精密传输导电测试治具，其特征在于：包括有底座及设置于底座上的第一测试模块、第二测试模块、压持模块；其中：所述第一测试模块包括有支架、探针模组和第一测试导线，所述支架可活动式设置于底座上，所述探针模组设置于支架的下侧，所述探针模组具有若干间距式布置的探针，所述支架上对应探针设置有开口，所述探针位于开口的下侧，所述探针随支架的控制可选择性地露于开口外或藏于开口内，所述第一测试导线设置于底座内并连接于探针的下端；所述第二测试模块位于第一测试模块的侧旁，所述第二测试模块具有插口和第二测试导线；所述压持模块设置于第一测试模块的一侧，所述压持模块包括有压块及控制压块上下位移的操作组件，所述压块位于支架的上方，线材的端子部放置于支架的开口处，压块下移以压持线材并联动支架下移，从而实现端子部与探针的导通连接。2.根据权利要求1所述的一种精密传输导电测试治具，其特征在于：所述支架包括有活动部、复位件和连接柱，所述复位件和连接柱均设置有两个，两个复位件左右间距式布置于底座的内部，两个连接柱的下端穿过底座并分别连接于两个复位件上，所述连接柱的下端露于复位件的下侧，两个连接柱的上端均连接于活动部的下端左、右侧，所述开口设置于活动部上。3.根据权利要求1所述的一种精密传输导电测试治具，其特征在于：所述探针模组包括有安装件，若干探针左右间距式布置于安装件上，所述安装件设置于底座的内部，所述底座对应探针开设有避让孔，若干探针的上端自相应的避让孔外露。4.根据权利要求3所述的一种精密传输导电测试治具，其特征在于：所述安装件可拆装式设置于底座上。5.根据权利要求1所述的一种精密传输导电测试治具，其特征在于：所述第二测试模块设置于第一测试模块的左侧，所述第二测试模块包括...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈锁，郭成奇，路红强，郑林琴，
申请(专利权)人：东莞市柳川电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：