一种芯片测试模式切换方法及系统技术方案

本申请实施例涉及一种芯片测试模式切换方法及系统，应用于芯片中的监测单元，方法包括通过第一功能引脚获取测试模式数据并将测试模式数据与预设置的第一数据进行匹配；匹配成功后通过第二功能引脚接收测试模式选择数据并解析，得到测试模式选择类型数据以及根据测试模式选择类型数据引导芯片进入对应的测试模式；在芯片进入到测试模式后，监测单元由开启状态转为关闭状态，测试完成后，监测单元由关闭状态转为开启状态，第一功能引脚和第二功能引脚可以复用为测试模式下的测试引脚。本申请实施例提供的芯片测试模式切换方法及系统，能够在不增加芯片引脚的前提下使芯片能够准确的进入到测试模式并能够在测试模式中稳定运行。定运行。定运行。

【技术实现步骤摘要】
一种芯片测试模式切换方法及系统


[0001]本申请涉及测试
，尤其是涉及一种芯片测试模式切换方法及系统。

技术介绍

[0002]芯片可以使用专用引脚或者功能引脚进入测试模式，专用引脚的优点是和功能引脚相互独立，不会引入可能的误操作，缺点是需要增加专门的引脚，这会增加额外的测试成本。复用引脚的方法优点在于可以减少引脚，缺点是在功能测试模式下可能出现误入测试模式的情况，导致测试过程受到影响。
[0003]在现有技术的一种方案中，芯片逻辑在上电或外部引脚作用下产生内部延迟复位信号，在延迟窗口内，监测逻辑处于工作状态，其他逻辑处于复位状态，当监测逻辑监测到串行码流与预留的测试码流KEY相匹配，则测试模式被锁定，延迟复位撤离后继续保持测试模式，当监测逻辑监测到串行码流与预留的测试码流KEY不匹配，则监测逻辑失效，延迟复位撤离后全部逻辑进入正常逻辑测试模式。此方案存在两个问题：一是仅在监测时间窗口内可以进入测试模式，虽然减小了误触发的概率，但是也增加了进入测试模式的难度，需要在非常准确的匹配窗口；二是进入测试模式后不能在不同的测试模式之间进行切换。
[0004]另一种现有技术方案中，通过判断输入电压的方式来判断芯片是否需要进入到测试模式，电压条件满足后，判断数据端口接收到的数据信号与预设信号密码是否一致，只有在前预设数量的时钟信号的接收过程中，所述数据端口接收到的数据信号与预设信号密码一致才使所述芯片进入测试模式，这样通过两个测试条件的设置，可以降低芯片正常使用过程中出现误进入测试模式的可能。但同样存在两个问题，一是需要通过硬件获取端口输入电压作为第一测试条件，需要增加额外的成本；二是通过输入点作为第一测试条件，并不能很大程度上避免功能测试模式下误进入测试模式的概率。
[0005]此外，在公开号为CN112595967A的中国专利，公开的一种芯片测试模式的进入方法，其技术方案中的芯片包括SPIS模块、SCAN MODE LOGIC模块和BUS MUX模块。SPIS为接收命令逻辑电路,其通过四个接口IO1～IO4接收输入的符合SPI协议的命令，SPIS模块中包含测试信号(TEST_EN)处理逻辑。该专利技术中的IO1、IO2和IO3分别对应SPI协议中的SCK、CSN和MOSI三根信号，通过复用SPIS接口，当接收到预设特征值时判别为Enable命名，同时将CPU旁路，正式进入测试模式，继续使用SPI继续数据命令转换为总线操作,使用SPI协议指令、将CPU通路旁路，将接收命令逻辑电路作为命令通和将来自所述接收命令逻辑电路的命令转化为总线的读写操作，进入所述芯片的测试模式等技术手段来使芯片进入到测试模式，但是该方案存在以下几点需要改进的问题：
[0006]1.复用SPIS接口进入需要3个引脚，而实际功能测试过程中应该尽量少占用功能引脚，以尽可能多的测试到正常功能。
[0007]2.仅支持功能测试模式和SCAN Mode logic，即旁路了CPU，通过SPIS接收总线读写命令；而在SCAN mode下，SPIS的3个引脚并不能复用为scan引脚。
[0008]3.当用于ATE测试(如SCAN测试)时，SPIS模块不能被检测到，导致减少整个芯片的
测试覆盖率。
[0009]4.预设特征值存在可靠性低的问题。当SPIS当作正常接口使用时，不能保证不会接收到预设特征值，特别是出现异常时。这将导致芯片误进入测试模式，并将CPU旁路，导致系统异常和崩溃。这种方法会影响到芯片正常功能。

技术实现思路

[0010]本申请实施例提供一种芯片测试模式切换方法及系统，能够在不增加芯片引脚的前提下使芯片能够准确的进入到测试模式并能够在测试模式中稳定运行。
[0011]本申请实施例的上述目的是通过以下技术方案得以实现的：
[0012]第一方面，本申请实施例提供了一种芯片测试模式切换方法，应用于芯片中的监测单元并复用芯片的两个功能引脚，包括：
[0013]响应于通过第一功能引脚得到的时钟信号，通过第一功能引脚获取测试模式数据并将测试模式数据与预设置的第一数据进行匹配；
[0014]测试模式数据与预设置的第一数据匹配成功后，通过第二功能引脚接收测试模式选择数据；
[0015]对测试模式选择数据进行解析，得到测试模式选择类型数据；
[0016]根据测试模式选择类型数据引导芯片进入对应的测试模式；
[0017]在芯片进入到测试模式后，由开启状态转为关闭状态；以及
[0018]在测试完成后，响应于获取到的复位指令，由关闭状态转为开启状态；
[0019]其中，进入测试模式之后，第一功能引脚和第二功能引脚可以复用为测试模式下的测试引脚；
[0020]复位指令区别于正常测试引脚时序中出现的时序，测试模式选择数据产生于测试模式数据的时钟沿。
[0021]在第一方面的一种可能的实现方式中，所述测试模式包括SCAN测试模式、BIST测试模式和模拟测试模式。
[0022]在第一方面的一种可能的实现方式中，所述测试模式数据与测试模式选择数据均是通过复用功能引脚接收的。
[0023]第二方面，本申请实施例提供了一种芯片测试模式切换方法，应用于芯片中的监测单元并复用芯片的两个功能引脚，包括：
[0024]响应于通过第一功能引脚获取到的测试模式数据，读取非易失性存储单元中存储的测试模式数据，测试模式数据包括允许进入测试模式数据和禁止进入测试模式数据；
[0025]当非易失性存储单元中存储的测试模式数据为允许进入测试模式数据时，将测试模式数据与预设置的第一数据进行匹配；
[0026]测试模式数据与预设置的第一数据匹配成功后，通过第二功能引脚接收测试模式选择数据；
[0027]对测试模式选择数据进行解析，得到测试模式选择类型数据；
[0028]根据测试模式选择类型数据引导芯片进入对应的测试模式；
[0029]在芯片进入到测试模式后，由开启状态转为关闭状态；以及
[0030]在测试完成后，响应于获取到的复位指令，由关闭状态转为开启状态；
[0031]其中，进入测试模式之后，第一功能引脚和第二功能引脚可以复用为测试模式下的测试引脚；
[0032]复位指令区别于正常测试引脚时序中出现的时序，测试模式选择数据产生于测试模式数据的时钟沿；
[0033]非易失性存储单元中存储的测试模式数据可以通过烧写的方式修改，非易失性存储单元中存储有允许进入测试模式数据或者禁止进入测试模式数据。
[0034]在第二方面的一种可能的实现方式中，所述测试模式包括SCAN测试模式、BIST测试模式和模拟测试模式。
[0035]在第二方面的一种可能的实现方式中，所述测试模式数据与测试模式选择数据均是通过复用功能引脚接收的。
[0036]第三方面，本申请实施例提供了一种芯片测试模式切换装置，应用于芯片中的监测单元并复用芯片的两个功能引脚，包括：
[0037]第一本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片测试模式切换方法，应用于芯片中的监测单元并复用芯片的两个功能引脚，其特征在于，包括：响应于通过第一功能引脚得到的时钟信号，通过第一功能引脚获取测试模式数据并将测试模式数据与预设置的第一数据进行匹配；测试模式数据与预设置的第一数据匹配成功后，通过第二功能引脚接收测试模式选择数据；对测试模式选择数据进行解析，得到测试模式选择类型数据；根据测试模式选择类型数据引导芯片进入对应的测试模式；在芯片进入到测试模式后，由开启状态转为关闭状态；以及在测试完成后，响应于获取到的复位指令，由关闭状态转为开启状态；其中，进入测试模式之后，第一功能引脚和第二功能引脚可以复用为测试模式下的测试引脚；复位指令区别于正常测试引脚时序中出现的时序，测试模式选择数据产生于测试模式数据的时钟沿。2.根据权利要求1所述的一种芯片测试模式切换方法，其特征在于，所述测试模式包括SCAN测试模式、BIST测试模式和模拟测试模式。3.根据权利要求1或2所述的一种芯片测试模式切换方法，其特征在于，所述测试模式数据与测试模式选择数据均是通过复用功能引脚接收的。4.一种芯片测试模式切换方法，应用于芯片中的监测单元并复用芯片的两个功能引脚，其特征在于，包括：响应于通过第一功能引脚得到的时钟信号，读取非易失性存储单元中存储的测试模式数据，测试模式数据包括允许进入测试模式数据和禁止进入测试模式数据；当非易失性存储单元中存储的测试模式数据为允许进入测试模式数据时，通过第一功能引脚获取测试模式数据并将测试模式数据与预设置的第一数据进行匹配；测试模式数据与预设置的第一数据匹配成功后，通过第二功能引脚接收测试模式选择数据；对测试模式选择数据进行解析，得到测试模式选择类型数据；根据测试模式选择类型数据引导芯片进入对应的测试模式；在芯片进入到测试模式后，由开启状态转为关闭状态；以及在测试完成后，响应于获取到的复位指令，由关闭状态转为开启状态；其中，进入测试模式之后，第一功能引脚和第二功能引脚可以复用为测试模式下的测试引脚；复位指令区别于正常测试引脚时序中出现的时序，测试模式选择数据产生于测试模式数据的时钟沿；非易失性存储单元中存储的测试模式数据可以通过烧写的方式修改，非易失性存储单元中存储有允许进入测试模式数据或者禁止进入测试模式数据。5.根据权利要求4所述的一种芯片测试模式切换方法，其特征在于，所述测试模式包括SCAN测试模式、BIST测试模式和模拟测试模式。6.根据权利要求4或5所述的一种芯片测试模式切换方法，其特征在于，所述测试模式
数据与测试模式选择数据均是通过复用功能引脚接收的。7.一种芯片测试模式切换装置，应用于芯片中的监测单元并复用芯片的两个功能引脚，其特征在于，包括：第一处理单元，响应于通过第一功能引脚得到的时钟信号，通过第一功能引脚获取测...

【专利技术属性】
技术研发人员：潘明方，陈立新，熊海峰，
申请(专利权)人：南京泰矽微电子有限公司，
类型：发明
国别省市：