【技术实现步骤摘要】
一种基于FPGA的时频参数测量装置
[0001]本申请涉及时频测量仪器
,尤其涉及一种基于FPGA的时频参数测量装置。
技术介绍
[0002]随着科技产业的发展,在电路板、电子设备和芯片测试中,用户对频率、周期、脉冲宽度、时间间隔等参数的测量必不可少,测量需求也越来越大。
[0003]目前,相关技术中,时频测量仪器设备的体积较大,往往需要很多精密的部件构成,通常都是针对单个时频参数进行高精度的测量,价格昂贵,而且占用的空间很大,搬运也十分不方便。
[0004]针对上述“价格昂贵,而且占用的空间很大,搬运也十分不方便”的问题,目前尚未提出有效的解决方案。
技术实现思路
[0005]本申请提供了一种基于FPGA的时频参数测量装置,以解决上述“时频测量仪器价格昂贵,而且占用的空间很大,搬运也十分不方便”的技术问题。
[0006]根据本申请实施例,本申请提供了一种基于FPGA的时频参数测量装置,包括:边沿计数模块,用于获取目标信号的边沿数,获得计数值,目标信号的电压在FPGA平台接入电压 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种基于FPGA的时频参数测量装置,其特征在于,包括:边沿计数模块,用于获取目标信号的边沿数,获得计数值,所述目标信号的电压在FPGA平台接入电压的预设范围之内;数据处理模块,与所述边沿计数模块连接,用于利用预先烧录至所述FPGA平台的第一预设程序将所述计数值转换为测量值,所述测量值用于表示所述目标信号的时频特征。2.根据权利要求1所述的测量装置,其特征在于,所述边沿计数模块包括:控制单元,用于生成计数信号;边沿计数单元,与所述控制单元连接,用于根据所述控制单元的所述计数信号执行计数操作,获得所述计数值。3.根据权利要求1所述的测量装置,其特征在于,所述数据处理模块包括:周期测量单元,用于测量所述目标信号的周期;频率测量单元,用于测量所述目标信号的频率;脉宽测量单元,用于测量所述目标信号的脉冲宽度;时间间隔测量单元,用于测量不同的输入信号之间的时间间隔。4.根据权利要求3所述的测量装置,其特征在于,所述周期测量单元包括:第一可变脉宽生成子单元,用于生成第一周期的第一脉冲;第一获取子单元,用于获取第一计数值,所述第一计数值为所述目标信号在所述第一周期内的所述边沿数;周期测量子单元,用于利用预先烧录至所述FPGA平台的第二预设程序来根据所述第一周期和所述第一计数值确定所述目标信号的所述周期。5.根据权利要求3所述的测量装置,其特征在于,所述频率测量单元包括:第二可变脉宽生成子单元,用于生成第二周期的第二脉冲;第二获取子单元,用于用于获取第二计数值,所述第二计数值为所述目标信号在所述第二周期内的所述边沿数;频率测量子单元,用于利用预先烧录至所述FPGA平台的第三预设程序来根据所述第二周期和所述第二计数值确定所述目标信号的所述频率。6.根据权利要求3所述的测量装置,其特征在于,所述脉宽测量单元包括:第一计时子单元,用于测量第一时间值;第一...
【专利技术属性】
技术研发人员:殷晔,李嘉瑞,周庆飞,杜影,杨立杰,王红宇,张朝元,安佰岳,
申请(专利权)人:北京航天测控技术有限公司,
类型:发明
国别省市:
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