【技术实现步骤摘要】
体声波谐振装置及其形成方法、滤波装置及射频前端装置
[0001]本申请要求2021年7月16日提交中国专利局、申请号为202110808204.8、专利技术名称为“体声波谐振装置及其形成方法、滤波装置及射频前端装置”的中国专利申请的优先权,其内容通过引用结合在本申请中。
[0002]本专利技术涉及半导体
,具体而言,本专利技术涉及一种体声波谐振装置及其形成方法、滤波装置及射频前端装置。
技术介绍
[0003]无线通信设备的射频(Radio Frequency,RF)前端芯片包括:功率放大器(Power Amplifier,PA)、天线开关、RF滤波器、包括双工器(duplexer) 的多工器(multiplexer),和低噪声放大器(Low Noise Amplifier,LNA)等。其中,RF滤波器包括压电声表面波(Surface Acoustic Wave,SAW)滤波器、压电体声波(Bulk Acoustic Wave,BAW)滤波器、微机电系统 (Micro
‑
Electro
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Mechanical System,MEMS)滤波器、集成无源装置(IntegratedPassive Devices,IPD)滤波器等。
[0004]SAW谐振器和BAW谐振器的品质因数值(Q值)较高,由SAW谐振器和BAW谐振器制作成低插入损耗(insertionloss)、高带外抑制 (out
‑
bandrejection)的RF滤波器,即SAW滤波器和 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种体声波谐振装置,其特征在于,包括:空腔;第一电极层,所述第一电极层的至少一端位于所述空腔上方或位于所述空腔内;压电层,所述压电层包括第一侧及所述第一侧垂直方向上相对的第二侧,所述空腔位于所述第一侧,所述第一电极层位于所述第一侧,所述第一电极层接触所述压电层;第二电极层,位于所述第二侧,接触所述压电层,所述第一电极层、所述第二电极层及所述压电层重合的区域为谐振区;第一无源结构,位于所述第一侧,与所述第一电极层的至少一个边缘具有第一重合部;第二无源结构,位于所述第二侧,与所述第二电极层的至少一个边缘具有第二重合部;其中,所述第一无源结构包括:第一抬起部,位于所述谐振区内侧,与所述第一电极层的至少一个边缘具有所述第一重合部,所述第一抬起部用于匹配所述谐振区与所述谐振区外侧的至少一个衰减区的声阻抗,使较多的所述谐振区内产生的声波进入至少一个所述衰减区;第一电介质部,位于所述第一抬起部与所述第一电极层之间,用于电隔离所述第一电极层与所述第一无源结构;第一延伸部,位于所述谐振区外侧,位于至少一个所述衰减区内,用于衰减进入至少一个所述衰减区的声波,所述第一抬起部相对所述第一延伸部凸起;所述第二无源结构包括:第二抬起部,位于所述谐振区内侧,与所述第二电极层的至少一个边缘具有所述第二重合部,所述第二抬起部用于匹配所述谐振区与至少一个所述衰减区的声阻抗,使较多的所述谐振区内产生的声波进入至少一个所述衰减区;第二电介质部,位于所述第二抬起部与所述第二电极层之间,用于电隔离所述第二电极层与所述第二无源结构;第二延伸部,位于所述谐振区外侧,位于至少一个所述衰减区内,用于衰减进入至少一个所述衰减区的声波,所述第二抬起部相对所述第二延伸部凸起。2.如权利要求1所述的体声波谐振装置,其特征在于,所述第一无源结构和所述第二无源结构包围所述谐振区。3.如权利要求1所述的体声波谐振装置,其特征在于,所述第一无源结构的厚度等于或小于所述第一电极层的厚度,所述第二无源结构的厚度等于或小于所述第二电极层的厚度。4.如权利要求1所述的体声波谐振装置,其特征在于,至少一个所述衰减区包括第一衰减区,所述第一衰减区的第一截止频率等于或小于所述谐振区的截止频率,所述第一衰减区对应所述第一延伸部、所述压电层与所述第二延伸部的重合区域。5.如权利要求1所述的体声波谐振装置,其特征在于,还包括:第一电极延伸层,位于所述第一侧,与所述第一电极层连接;第二电极延伸层,位于所述第二侧,与所述第二电极层连接。6.如权利要求5所述的体声波谐振装置,其特征在于,至少一个所述衰减区包括第二衰减区,所述第二衰减区的第二截止频率等于或小于所述谐振区的截止频率,所述第二衰减区对应所述第二电极延伸层、所述压电层与所述第一延伸部的重合区域。
7.如权利要求5所述的体声波谐振装置,其特征在于,至少一个所述衰减区包括第三衰减区,所述第三衰减区的第三截止频率等于或小于所述谐振区的截止频率,所述第三衰减区对应所述第二延伸部、所述压电层与所述第一电极延伸层的重合区域。8.如权利要求1所述的体声波谐振装置,其特征在于,所述第一电极层的至少一个边缘呈下坡形,对应所述第一无源结构,所述第二电极层的至少一个边缘呈下坡形,对应所述第二无源结构。9.如权利要求1所述的体声波谐振装置,其特征在于,所述第一抬起部的宽度为所述谐振区内产生的声波的二分之一波长的整数倍,所述第二抬起部的宽度为所述谐振区内产生的声波的二分之一波长的整数倍。10.如权利要求1所述的体声波谐振装置,其特征在于,所述第一延伸部的厚度小于所述第一电极层的厚度,所述第二延伸部的厚度小于所述第二电极层的厚度。11.如权利要求1所述的体声波谐振装置,其特征在于,所述第一延伸部包括第一子部及第二子部,所述第二子部与所述压电层位于所述第一子部的两侧,所述第一子部的材料与所述第二子部的材料不同。12.如权利要求1所述的体声波谐振装置,其特征在于,所述第二延伸部包括第三子部及第四子部,所述压电层与所述第四子部位于所述第三子部的两侧,所述第三子部的材料与所述第四子部的材料不同。13.如权利要求1所述的体声波谐振装置,其特征在于,所述第一延伸部接触所述压电层,所述第二延伸部接触所述压电层。14.如权利要求1所述的体声波谐振装置,其特征在于,所述第一电介质部还位于所述压电层与所述第一延伸部之间,所述第二电介质部还位于所述压电层与所述第二延伸部之间。15.如权利要求1所述的体声波谐振装置,其特征在于,所述第一延伸部与所述压电层之间包括第一空槽,所述压电层与所述第二延伸部之间包括第二空槽。16.如权利要求1所述的体声波谐振装置,其特征在于,还包括:第一介质层,位于所述谐振区外侧,位于所述第一侧,位于所述第一电极层和所述压电层之间,且与所述压电层接触,所述第一介质层用于反射沿着第一电极层横向传播的声波;第二介质层,位于所述谐振区外侧,位于所述第二侧,位于所述第二电极层和所述压电层之间,且与所述压电层接触,所述第二介质层用于反射沿着第二电极层横向传播的声波。17.如权利要求16所述的体声波谐振装置,其特征在于,所述第一介质层的材料包括低声阻抗电介质材料。18.如权利要求16所述的体声波谐振装置,其特征在于,所述第二介质层的材料包括低声阻抗电介质材料。19.一种滤波装置,其特征在于,包括:至少一个如权利要求1至18其中之一所述的体声波谐振装置。20.一种射频前端装置,其特征在于,包括:功率放大装置与至少一个如权利要求19所述的滤波装置;所述功率放大装置与所述滤波装置连接。21.一种射频前端装置,其特征在于,包括:低噪声放大装置与至少一个如权利要求19所述的滤波装置;所述低噪声放大装置与所述滤波装置连接。
22.一种射频前端装置,其特征在于,包括:多工装置,所述多工装置包括至少一个如权利要求19所述的滤波装置。23.一种体声波谐振装置的形成方法,其特征在于,包括:形成压电层,所述压电层包括第一侧及所述第一侧垂直方向上相对的第二侧;形成第一电极层,位于所述第一侧,接触所述压电层;形成第二电极层,位于所述第二侧,接触所述压电层,所述第一电极...
【专利技术属性】
技术研发人员:汤正杰,杨新宇,韩兴,周建,
申请(专利权)人:常州承芯半导体有限公司,
类型:发明
国别省市:
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