一种多个处理器IO检测同一按键检测装置系统制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及一种多个处理器IO检测同一按键检测装置系统，属于处理器按键检测技术领域。包括若干个检测电路，每个检测电路包括电阻和二极管，电阻的两端分别连接处理器的IO口和处理器的电源VDD，处理器的IO口连接二极管的阳极，每个检测电路的二极管的阴极相连后连接按键，按键的另一端接地。本实用新型专利技术的有益效果是：实现简单，成本低；不存在IO漏电情况；任何处理器一上电就可以检测按键，不用管其他处理器是否上电。其他处理器是否上电。其他处理器是否上电。

【技术实现步骤摘要】
一种多个处理器IO检测同一按键检测装置系统


[0001]本技术涉及一种多个处理器IO检测同一按键检测装置系统，属于处理器按键检测


技术介绍

[0002]在多处理器系统中，会出现两个（或多个）处理器检测同一个按键的情况。传统情况下，由于处理器往往不是同时上电，因此会存在IO漏电的情况，导致处理器按键检测错误。这要求所有处理器必须都上电，才能进行按键检测。这样限制了按键检测的灵活性。

技术实现思路

[0003]为了克服上述现有技术的不足之处，本技术提供一种多个处理器IO检测同一按键检测装置，利用按键是低电平有效以及二极管的单向导电性特点，实现多个处理器IO检测。
[0004]本技术是通过如下技术方案实现的：一种多个处理器IO检测同一按键检测装置系统，其特征在于：包括若干个检测电路，每个检测电路包括电阻和二极管，电阻的两端分别连接处理器的IO口和处理器的电源VDD，处理器的IO口连接二极管的阳极，每个检测电路的二极管的阴极相连后连接按键，按键的另一端接地。
[0005]本技术的有益效果是：实现简单，成本低；不存在IO漏电情况；任何处理器一上电就可以检测按键，不用管其他处理器是否上电。
附图说明
[0006]下面根据附图和实施例对本技术进一步说明。
[0007]图1是本技术的实施例电路图；
[0008]图2是传统的双处理器按键检测示意图；
[0009]图3是本技术的一个处理器没电时的示意图；
[0010]图4是本技术的实施例三处理器检测同一按键示意图；
[0011]图5是本技术的实施例多处理器检测同一按键示意图。
具体实施方式
[0012]如图1到图5所示的一种多个处理器IO检测同一按键检测装置系统，其特征在于：包括若干个检测电路，每个检测电路包括电阻和二极管，电阻的两端分别连接处理器的IO口和处理器的电源VDD，处理器的IO口连接二极管的阳极，每个检测电路的二极管的阴极相连后连接按键，按键的另一端接地。
[0013]利用按键是低电平有效以及二极管的单向导电性特点，实现按键检测：
[0014]1、当按键按下时变低，所有二极管都导通，两个（或多个）处理的IO都变为低。所有MCU都检测到按键按下；
[0015]2、当按键松开时高阻，二极管断开，IO口由其对应的处理器的IO电源上拉为高电平，处理器检测按键松开；
[0016]3、如果有一个（或多个）处理器出现掉电，其对应的IO变为低，其对应的二极管不导通。不会影响其他处理器检测按键。
[0017]如图1以两个处理器为例，假设一个处理器为MPU，其对应的电源的MPU_VDD，另一个处理器为MCU，其对应的电源为MCU_VDD。MPU的IO通过R1上拉到MPU_VDD，MCU的IO通过R2上拉到MCU_VDD。两个IO分别串二极管D1/D2后接按键KEY1。二极管D1/D2的阳极接IO口，阴极接按键KEY1。
[0018]如图3所示，假设处理器MPU没电，其对应的电源的MPU_VDD电压为0，二极管D2不导通，另一个处理为MCU正常，其对应的电源为MCU_VDD上电，二极管D1导通。图4和图5分别显示三处理器检测同一按键示意图和多处理器检测同一按键示意图。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种多个处理器IO检测同一按键检测装置系统，其特征在于：包括若干个检测电路，每个检测电路包括电阻和二极管，电阻的两端分别连接处理器...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄帅，周旋，王凯，
申请(专利权)人：徐州徐工汽车制造有限公司，
类型：新型
国别省市：