一种在时序逻辑电路功能验证时确定故障存在位置的方法技术

本发明专利技术公开了一种在时序逻辑电路功能验证时确定故障存在位置的方法，属于EDA基础算法。通过把时序电路抽象成多个覆盖单元，建立状态转换图，把问题划分成三种互斥情景，通过相关算法，计算指定故障只在某一特定位置发生的概率，对所有可能状态下发生的概率进行排序，从而确定故障最可能出现的位置，从而补充动态验证的完整性。动态验证的完整性。动态验证的完整性。

【技术实现步骤摘要】
一种在时序逻辑电路功能验证时确定故障存在位置的方法


[0001]本专利技术涉及集成电路领域，属于EDA基础算法，尤其涉及时序逻辑电路功能验证时使用的EDA软件领域。

技术介绍

[0002]近年来集成电路取得了飞速的发展，是当今我国信息产业的核心，我国集成电路EDA软件长期受制于人，国家大力支持其发展。验证是VLSI和软硬件系统发展的关键问题，目前衡量动态验证进度的主要方法是根据覆盖率。覆盖率可以分为代码覆盖率和功能覆盖率，其中功能覆盖率更是度量设计完整性的重要指标。

技术实现思路

[0003]本
技术实现思路
是基于现有技术针对时序电路提出了一种确定故障存在位置的方法，即计算指定故障a只在特定状态e发生的概率。该方法分为前期建模，算法计算两个部分，最后通过对指定故障存在与每个状态的概率进行计算后排序可以得到故障最可能存在的位置。
[0004]本专利技术采用的技术方案为一种在时序逻辑电路功能验证时确定故障存在位置的方法，前期建模部分即用驱动方程、状态方程和输出方程全面表示时序电路的逻辑功能，用状态转移图描述时序电路的状态转换，本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种在时序逻辑电路功能验证时确定故障存在位置的方法，其特征在于：该方法包括前期建模部分和算法计算部分；所述的前期建模部分即用驱动方程、状态方程和输出方程全面表示时序电路的逻辑功能，用状态转移图描述时序电路的状态转换，通过时序电路仿真得到状态间的转移概率和初始分布；指定要关注的故障和状态后，将无关状态合并成一个覆盖仓，得到抽象的状态转移图，完成前期建模工作；算法计算部分即把指定故障a只在特定状态e发生的概率问题根据测试周期划分为三种互斥情景，依据状态间转移概率、故障检测概率和初始分布概率进行正向算法计算；其中p(i,j)为转移概率，qi为故障发生的概率，T为测试周期，为初始分布，故障在第i个周期第j个状态的概率为a[i][j]。2.根据权利要求1所述的一种在时序逻辑电路功能验证时确定故障存在位置的方法，其特征在于：时序逻辑电路功能验证时确定故障存在位置的三种情景分别是：1)故障a在初始时第一次被发现在状态e发生；在初始分布时发生在状态e，即a[0][e]；T＝1次测试中状态转移从状态e开始，整个测试周期内的其他状态采用故障不发生的概率进行计算，T＝1,...t次测试内状态e发生和不发生都可以，即∑
s'
[A(T
‑
1,s')
·
p(s',s)]；2)故障a在...

【专利技术属性】
技术研发人员：聂敬瑶，耿淑琴，曹文华，李朋昆，鲁航，朱荣豪，亓元，李熙，徐楷，杨号，
申请(专利权)人：北京工业大学，
类型：发明
国别省市：