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本发明公开了一种在时序逻辑电路功能验证时确定故障存在位置的方法，属于EDA基础算法。通过把时序电路抽象成多个覆盖单元，建立状态转换图，把问题划分成三种互斥情景，通过相关算法，计算指定故障只在某一特定位置发生的概率，对所有可能状态下发生的概率...
该专利属于北京工业大学所有，仅供学习研究参考，未经过北京工业大学授权不得商用。

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