一种应用于芯片测试的自动压紧装置制造方法及图纸

技术编号:32905611 阅读:20 留言:0更新日期:2022-04-07 11:56
本实用新型专利技术公开了一种应用于芯片测试的自动压紧装置,包含第一支架,以及设置在所述第一支架上的气缸、电磁阀与调压阀,所述的调压阀的出气管连接所述电磁阀的进气管,所述的电磁阀出气管连接所述气缸的进气管,所述的自动压紧装置还包含第二支架,所述的第二支架上安装有芯片载台,所述的芯片载台用于置放待测芯片,本实用新型专利技术包含气缸、电磁阀与调压阀,这些部件组合起来形成一套自动化动作机构,可以实现对待测内存芯片的自动压紧动作,在测试活动中无需对装载待测内存芯片的夹具进行反复人工的夹紧与插拔动作,大大地提高了测试效率,为企业节约了大量的经济成本与人力成本。为企业节约了大量的经济成本与人力成本。为企业节约了大量的经济成本与人力成本。

【技术实现步骤摘要】
一种应用于芯片测试的自动压紧装置


[0001]本技术涉及一种芯片测试
,特别是涉及一种应用于芯片测试的自动压紧装置。

技术介绍

[0002]IC芯片(Integrated Circuit集成电路)是将大量的微电子元器件集成在一起,形成一块芯片。内存芯片是具有存储功能的IC芯片,常被人叫做“内存颗粒”,内存芯片是存储器件中最核心的部件,内存芯片的质量可以直接关系到存储设备的性能。但是芯片都有一定的不良率,所以内存芯片在其应用前要进行严格的检测。
[0003]现有技术中常采用人工操作的方式对内存芯片进行测试,比如把内存芯片装载入特定的夹具,之后人工把装好内存芯片的夹具插入测试设备中,之后再对内存芯片进行测试,内存芯片测试完后再由工人手动拔下夹具。这种人工的操作方式效率很低,投入人工成本大,而且测试中程中的任何环节都容易出错,从而影响测试效率。
[0004]鉴于此,如何开发一种自动化的内存芯片测试设备,以自动化设备来替代纯人工测试是本领域内技术人员普遍关注的问题,而在任何一种自动化内存芯片测试设备中都不可缺少对内存芯片的自动压紧本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种应用于芯片测试的自动压紧装置,包含第一支架,以及设置在所述第一支架上的气缸、电磁阀与调压阀,其特征在于:所述的调压阀的出气管连接所述电磁阀的进气管,所述的电磁阀出气管连接所述气缸的进气管;所述的自动压紧装置还包含第二支架,所述的第二支架上安装有芯片载台,所述的芯片载台用于置放待测芯片。2.如权利要求1所述的应用于芯片测试的自动压紧装置,其特征在于,所述的第一支架包含两个支架柱,以及与两个支架柱顶端支撑连接的第一支架梁。3.如权利要求2所述的应用于芯片测试的自动压紧装置,其特征在于:所述的第一支架梁为铝型材;所述的支架柱为一体成型件,上端由两个面垂直相接组成,截面为L型,所述的支架柱的上端部的一面竖直设置有一个长圆孔,所述的长圆孔用于螺栓固定所述的第一支架梁以及调整所述第一支架梁的高度;所述的支架柱与设置所述长圆孔一面的下端设置为凹面,所述的凹面处设置有圆孔。4.如权利要求1所述的应用于芯片测试的自动压紧装置,其特征在于:所述的自动压紧装置还包含第一固定件,所述的气缸通过所述的第一固定件安装在所述的第一支架上;所述的自动压紧装置还...

【专利技术属性】
技术研发人员:杨密凯杨松坤李斌
申请(专利权)人:深圳市宏旺微电子有限公司
类型:新型
国别省市:

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