一种用于数字隔离芯片的测试系统技术方案

本实用新型专利技术涉及芯片测试技术领域，具体公开了一种用于数字隔离芯片的测试系统，其中，包括：电源转换装置，用于将初级电源回路中的电网电压进行处理得到次级电源回路所需的测试电压；漏电信号测试装置，接入次级电源回路，且连接待测试数字隔离芯片，用于检测次级电源回路中在测试电压升高时的漏电流值；局部放电信号测试装置，接入次级电源回路，且连接待测试数字隔离芯片，用于检测次级电源回路中在测试电压升高时的放电信号；脉冲校准装置，接入次级电源回路，且连接待测试数字隔离芯片，用于发出脉冲信号进行校准。本实用新型专利技术提供的用于数字隔离芯片的测试系统能够实现对数字隔离芯片局部放电电荷量和隔离电压的测试。离芯片局部放电电荷量和隔离电压的测试。离芯片局部放电电荷量和隔离电压的测试。

【技术实现步骤摘要】
一种用于数字隔离芯片的测试系统


[0001]本技术涉及芯片测试
，尤其涉及一种用于数字隔离芯片的测试系统。

技术介绍

[0002]随着隔离应用领域不断扩大，数字隔离芯片因为体积小，集成度高，功耗低，通讯速度高等显著的特点，正在逐步替代传统的光耦器件，人们对数字隔离芯片关注度随之提高。数字隔离芯片是系统中涉及到高压安全的核心器件，对隔离芯片出厂测试有严格的要求，其中局部放电电荷量和隔离电压是芯片两个关键参数，因此如何准确可靠地实现对数字隔离芯片局部放电电荷量和隔离电压的测试成为本领域技术人员亟待解决的技术问题。

技术实现思路

[0003]本技术提供了一种用于数字隔离芯片的测试系统，解决相关技术中存在的无法可靠实现对数字隔离芯片进行局部放电电荷量以及隔离电压的测试问题。
[0004]作为本技术的一个方面，提供一种用于数字隔离芯片的测试系统，其中，包括：
[0005]电源转换装置，包括初级电源回路和次级电源回路，所述初级电源回路用于连接电网，所述次级电源回路用于连接待测试数字隔离芯片，所述电源转换装置用于将所述初级电源回路中的电网电压进行处理得到所述次级电源回路所需的测试电压；
[0006]漏电信号测试装置，接入所述次级电源回路，且连接待测试数字隔离芯片，用于检测所述次级电源回路中在所述测试电压升高时的漏电流值；
[0007]局部放电信号测试装置，接入所述次级电源回路，且连接待测试数字隔离芯片，用于检测所述次级电源回路中在所述测试电压升高时的放电信号；
[0008]脉冲校准装置，接入所述次级电源回路，且连接待测试数字隔离芯片，用于发出脉冲信号进行校准。
[0009]进一步地，所述电源转换装置包括：
[0010]电源模块，接入所述初级电源回路，用于将所述初级电源回路中的电网电压进行滤波处理得到平稳电压，以及对所述平稳电压进行调压处理；
[0011]升压模块，分别连接所述初级电源回路和次级电源回路，用于对调压处理后的电压进行升压得到所述测试电压；
[0012]高压检测模块，接入所述次级电源回路，且与所述升压模块电连接，用于检测所述测试电压升高时的电压值。
[0013]进一步地，所述电源模块包括：
[0014]交流滤波器，接入所述初级电源回路，用于将所述初级电源回路中的电网电压进行滤波处理得到平稳电压；
[0015]调压器，接入所述初级电源回路，且与所述交流滤波器电连接，用于对所述平稳电
压进行调压处理。
[0016]进一步地，所述升压模块包括变压器，所述变压器的初级绕组连接所述初级电源回路，所述变压器的次级绕组连接所述次级电源回路。
[0017]进一步地，所述高压检测模块包括：
[0018]高压检测设备，与所述升压模块电连接；
[0019]第一电阻和第二电阻，所述第一电阻和第二电阻串联后的两端分别连接所述升压模块的两端，所述第一电阻和第二电阻的连接端与所述高压检测设备连接。
[0020]进一步地，所述漏电信号测试装置包括：
[0021]漏电检测设备、第三电阻和第二电容，所述漏电检测设备与所述升压模块连接，所述第三电阻与所述第二电容并联后连接在所述次级电源回路中，且所述漏电检测设备分别连接所述第三电阻与所述第二电容并联后的两端。
[0022]进一步地，所述局部放电信号检测装置包括：
[0023]局部放电检测设备和第四电阻，所述第四电阻连接在所述次级电源回路中，所述第四电阻的两端均连接所述局部放电信号检测设备。
[0024]进一步地，所述次级电源回路还包括：
[0025]第一电容，两端分别连接所述次级电源回路的两端。
[0026]进一步地，所述次级电源回路还包括：
[0027]第五电阻、第六电阻、第三电容和第四电容，所述第三电容与所述第五电阻并联后连接在所述次级电源回路的一端，所述第六电阻与所述第四电容并联后连接在所述次级电源回路的另一端。
[0028]本技术提供的用于数字隔离芯片的测试系统，通过局部放电信号测试装置可以实时有效地观测局部放电电荷量，并准确测试出待测试数字隔离芯片的隔离电压，支持最高10KV高压和uA级泄露电流测试，保证一定高压下系统局部放电电荷量小于5pC，且该用于数字隔离芯片的测试系统具有安全可靠的优势。
附图说明
[0029]附图是用来提供对本技术的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与下面的具体实施方式一起用于解释本技术，但并不构成对本技术的限制。在附图中：
[0030]图1为本技术提供的用于数字隔离芯片的测试系统的结构框图。
[0031]图2为本技术提供的用于数字隔离芯片的测试系统的具体工作原理图。
具体实施方式
[0032]需要说明的是，在不冲突的情况下，本技术中的实施例及实施例中的特征可以相互结合。下面将参考附图并结合实施例来详细说明本技术。
[0033]为了使本领域技术人员更好地理解本技术方案，下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本技术保护的范围。
[0034]需要说明的是，本技术的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本技术的实施例。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包括，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。
[0035]在本实施例中提供了一种用于数字隔离芯片的测试系统，图1是根据本技术实施例提供的用于数字隔离芯片的测试系统的结构框图，如图1所示，包括：
[0036]电源转换装置100，包括初级电源回路和次级电源回路，所述初级电源回路用于连接电网，所述次级电源回路用于连接待测试数字隔离芯片，所述电源转换装置100用于将所述初级电源回路中的电网电压进行处理得到所述次级电源回路所需的测试电压；
[0037]漏电信号测试装置200，接入所述次级电源回路，且连接待测试数字隔离芯片，用于检测所述次级电源回路中在所述测试电压升高时的漏电流值；
[0038]局部放电信号测试装置300，接入所述次级电源回路，且连接待测试数字隔离芯片，用于检测所述次级电源回路中在所述测试电压升高时的放电信号；
[0039]脉冲校准装置400，接入所述次级电源回路，且连接待测试数字隔离芯片，用于发出脉冲信号进行校准。
[0040]应当理解的是本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于数字隔离芯片的测试系统，其特征在于，包括：电源转换装置，包括初级电源回路和次级电源回路，所述初级电源回路用于连接电网，所述次级电源回路用于连接待测试数字隔离芯片，所述电源转换装置用于将所述初级电源回路中的电网电压进行处理得到所述次级电源回路所需的测试电压；漏电信号测试装置，接入所述次级电源回路，且连接待测试数字隔离芯片，用于检测所述次级电源回路中在所述测试电压升高时的漏电流值；局部放电信号测试装置，接入所述次级电源回路，且连接待测试数字隔离芯片，用于检测所述次级电源回路中在所述测试电压升高时的放电信号；脉冲校准装置，接入所述次级电源回路，且连接待测试数字隔离芯片，用于发出脉冲信号进行校准。2.根据权利要求1所述的用于数字隔离芯片的测试系统，其特征在于，所述电源转换装置包括：电源模块，接入所述初级电源回路，用于将所述初级电源回路中的电网电压进行滤波处理得到平稳电压，以及对所述平稳电压进行调压处理；升压模块，分别连接所述初级电源回路和次级电源回路，用于对调压处理后的电压进行升压得到所述测试电压；高压检测模块，接入所述次级电源回路，且与所述升压模块电连接，用于检测所述测试电压升高时的电压值。3.根据权利要求2所述的用于数字隔离芯片的测试系统，其特征在于，所述电源模块包括：交流滤波器，接入所述初级电源回路，用于将所述初级电源回路中的电网电压进行滤波处理得到平稳电压；调压器，接入所述初级电源回路，且与所述交流滤波器电连接，用于对所述平稳电压进行调压处理。4.根据权利要求2所述的用于数字隔离芯片的测试系统，...

【专利技术属性】
技术研发人员：林希，黄飞明，黄昊丹，王俊云，孟明宇，
申请(专利权)人：无锡硅动力微电子股份有限公司，
类型：新型
国别省市：