本发明专利技术公开了一种半导体指纹传感器LGA颗粒测试装置及测试方法，其可实现半导体指纹传感器LGA颗粒性能的准确测试，测试装置包括主控制器、电流表、芯片开关、测试点、假手指模，测试点包括电流测试点、主板测试点、假手指模测试点、图像通信测试点，第一电流测试点与电流表的负极连接，电流表的正极、主板测试点与主控制器连接，假手指模测试点通过图像通信测试点与主控制器连接，主控制器与上位机连接，测试方法包括：芯片开关开启，电流表采集第一电流测试点的电流信息，测试点4采集假手指模的图像信息，图像信息通过测试点13～26将图像信息发送给主控制器，主控制器将图像信息发送给上位机，通过上位机判断图像信息是否符合标准。准。准。
【技术实现步骤摘要】
一种半导体指纹传感器LGA颗粒测试装置及测试方法
[0001]本专利技术涉及半导体指纹传感器
，具体为一种半导体指纹传感器LGA颗粒测试装置及测试方法。
技术介绍
[0002]指纹传感器是实现指纹自动采集的关键部件，按传感原理，可将其分为光学指纹传感器、半导体指纹传感器、半导体热敏传感器、超声波传感器和射频RF传感器等，目前市面上常见的指纹传感器包括BS801C/2C/4C/6C/8C、BS804C、BS808C，其中半导体指纹传感器主要包括电容式指纹传感器、电感式指纹传感器，使用该类指纹传感器获取指纹图像时，手指贴在其上与其构成电容(电感)的另一面，由于手指平面凸凹不平，凸点处和凹点处接触平板的实际距离不同，形成的电容/电感数值不同，根据这个原理将采集到的不同数值汇总，实现指纹采集。
[0003]现在市场上指纹系列的产品越来越广泛，出货量也在持续的增长，好的生产效率和品质保证是所有指纹厂商的竞争优势，也是各个厂商目前攻关的目标，因此在指纹传感器批量生产时，需要对其LGA颗粒(电容/电感)的性能进行测试，该性能主要包括触摸功能和芯片功能，触摸功能指手指触摸传感器时，手指指纹图像是否能显示在PC机上，芯片功能指传感器内的芯片开关打开后，电流是否正常。但现有技术中用于半导体指纹传感器LGA颗粒测试的装置较为缺乏，严重影响了半导体指纹传感器的成品质量和生产效率的提升。
技术实现思路
[0004]针对现有技术中存在的用于半导体指纹传感器LGA颗粒测试的装置较为缺乏，影响生产效率提升的问题，本专利技术提供了一种半导体指纹传感器LGA颗粒测试装置及测试方法，其可实现半导体指纹传感器LGA颗粒性能的准确测试，可提高生产效率。
[0005]为实现上述目的，本专利技术采用如下技术方案：
[0006]一种半导体指纹传感器LGA颗粒测试装置，包括主控制器、电流表、芯片开关、测试点、假手指模，其特征在于，所述测试点包括电流测试点、主板测试点、假手指模测试点、图像通信测试点，所述芯片开关与所述主控制器的VCC端连接，所述电流测试点包括第一电流测试点、第二电流测试点，所述第一电流测试点与所述电流表的负极连接，所述第二电流测试点通过磁珠与所述电流表的负极连接，所述电流表的正极、主板测试点与所述主控制器连接，所述假手指模与所述假手指模测试点连接，所述假手指模测试点通过所述图像通信测试点与所述主控制器连接，所述主控制器与上位机连接。
[0007]其进一步特征在于，
[0008]所述测试点包括32个，分别为测试点1～测试点32；
[0009]所述第一电流测试点包括三个，分别为测试点2、测试点6、测试点8，所述第二电流测试点包括五个，分别为测试点1、测试点7、测试点16、测试点22、测试点32；所述测试点1、测试点7、测试点16、测试点22、测试点32连接所述磁珠的一端，所述磁珠另一端与所述测试
点2、测试点6、测试点8均连接所述电流表的输入端，所述电流表的输出端连接所述主控制器的1管脚；
[0010]所述假手指模测试点包括测试点4，所述假手指模连接所述测试点4；
[0011]所述图像通信测试点包括测试点10、11、31、13～26，所述测试点10、11、31连接所述主控制器的2管脚，所述测试点13～26分别连接所述主控制器的2～15管脚，用于实现所述半导体指纹传感器的图像信号与所述主控制器的通信；
[0012]所述测试点3、5、9、12、28、29、30为预留测试点；
[0013]其还包括电压转接板，所述电压转接板的GND端口连接所述主控制器的GND端口，所述电压转接板的DP端口连接所述主控制器的DP端口，所述电压转接板的DN端口连接所述主控制器的DN端口，所述电压转接板通过所述芯片开关与所述主控制器连接。
[0014]一种测试方法，该方法应用所述测试装置对所述半导体指纹传感器LGA颗粒的性能进行测试，所述性能包括图像功能、芯片功能，通过所述芯片开关选择是否测试所述LGA颗粒，其特征在于，S1、所述芯片开关开启，所述主控制器通电工作；
[0015]S2、通过所述电流表采集所述第一电流测试点、第二电流测试点的电流信息；
[0016]S3、通过所述测试点4采集所述假手指模的图像信息；
[0017]S4、所述图像信息通过所述测试点13～26将所述图像信息发送给所述主控制器；
[0018]S5、所述主控制器将所述图像信息发送给所述上位机；
[0019]S6、通过所述上位机判断所述图像信息是否符合标准。
[0020]其进一步特征在于，
[0021]所述电流表为带有显示屏的显示电流表，用于显示所述第一电流测试点的所述电流信息；
[0022]所述电流表通过电流反馈电路与所述主控制器连接，所述电流反馈电路包括反馈电阻R，所述电阻R的一端连接所述电流表的负极，所述电阻R的另一端连接所述主控制器的I/O信号输入端；所述主控制器包括第一数据处理单元，所述第一数据处理单元用于将所述电流信息与预先存储的电流阈值进行对比；
[0023]所述上位机包括第二数据处理单元，所述第二处理单元用于将所述图像信息与预先存储的标准图像进行对比。
[0024]采用本专利技术上述结构可以达到如下有益效果：该测试装置包括电流测试点、主板测试点、假手指模测试点、图像通信测试点，通过电流测试点可以测试半导体指纹传感器的电流信息，通过假手指模测试点、图像通信测试点可以采集假手指模的图像信息，并通过主控制器将图像信息发送给上位机，通过上位机可判断图像信息是否符合标准，电流信息用于判断半导体指纹传感器的芯片功能，图像信息用于判断半导体指纹传感器的芯片功能，从而实现半导体指纹传感器LGA颗粒的性能判断。
[0025]应用测试装置对半导体指纹传感器LGA颗粒的性能进行测试，测试时可以通过芯片开关选择是否测试半导体指纹传感器LGA颗粒，芯片开关开启后，电流表会显示半导体指纹传感器电流测试点的电流信息，测试人员判断电流信息是否超过电流阈值，超过电流阈值则说明电流信息异常，半导体指纹传感器的芯片功能异常；通过假手指模测试点、图像通信测试点可以采集假手指模的图像信息，并通过主控制器将图像信息发送给上位机，通过上位机将图像信息与预先存储的标准图像进行对比，若与标准图像差别较大，则说明半导
体指纹传感器的图像功能异常，从而实现了半导体指纹传感器LGA颗粒性能的准确测试，防止了不良产品流入市场，提高了生产效率。
附图说明
[0026]图1为本专利技术实施例一半导体指纹传感器LGA颗粒测试装置的结构框图；
[0027]图2为本专利技术实施例一半导体指纹传感器LGA颗粒测试装置的接口电路原理图；
[0028]图3为本专利技术实施例二半导体指纹传感器LGA颗粒测试装置另一实施例的结构框图；
[0029]图4为本专利技术实施例二半导体指纹传感器LGA颗粒测试装置的接口电路原理图；
[0030]图5为应用测试装置对半导体指纹传感器LGA颗粒的本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种半导体指纹传感器LGA颗粒测试装置，包括主控制器、电流表、芯片开关、测试点、假手指模，其特征在于，所述测试点包括电流测试点、主板测试点、假手指模测试点、图像通信测试点，所述芯片开关与所述主控制器的VCC端连接，所述电流测试点包括第一电流测试点、第二电流测试点，所述第一电流测试点与所述电流表的负极连接，所述第二电流测试点通过磁珠与所述电流表的负极连接，所述电流表的正极、主板测试点与所述主控制器连接，所述假手指模与所述假手指模测试点连接，所述假手指模测试点通过所述图像通信测试点与所述主控制器连接，所述主控制器与上位机连接。2.根据权利要求1所述的一种半导体指纹传感器LGA颗粒测试装置，其特征在于，所述测试点包括32个，分别为测试点1～测试点32，所述第一电流测试点包括三个，分别为测试点2、测试点6、测试点8，所述第二电流测试点包括五个，分别为测试点1、测试点7、测试点16、测试点22、测试点32；所述测试点1、测试点7、测试点16、测试点22、测试点32连接所述磁珠的一端，所述磁珠另一端与所述测试点2、测试点6、测试点8均连接所述电流表的输出端，所述电流表的输入端连接所述主控制器的1管脚。3.根据权利要求2所述的一种半导体指纹传感器LGA颗粒测试装置，其特征在于，所述假手指模测试点包括测试点4，所述假手指模连接所述测试点4，所述测试点4用于获取所述假手指模的图像信息，所述图像通信测试点包括测试点10、11、31、13～26，所述测试点10、11、31连接所述主控制器的2管脚，所述测试点13～26分别连接所述主控制器的2～15管脚，用于实现所述半导体指纹传感器的图像信号与所述主控制器的通信。4.根据权利要求1或3所述...
【专利技术属性】
技术研发人员：陶长青，
申请(专利权)人：江苏邦融微电子有限公司，
类型：发明
国别省市：
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