【技术实现步骤摘要】
一种单分子层表面改性的InGaAs纳米线光电探测器及制备方法
[0001]本专利技术涉及半导体光电器件领域以及电子器件制备工艺领域,具体设计一种单分子层表面改性的InGaAs纳米线光电探测器的制备方法,该方法可以增强对纳米线表面态的操控能力,提高纳米线光电探测性能。
技术介绍
[0002]光电探测器广泛应用于光通信、图像传感、医学成像与空间监测等诸多重要领域。随着对光电探测器需求的提高,要求其具有小尺寸、高性能、柔韧性和易于集成等特点。III
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V族半导体纳米线以其高电子迁移率、优良的机械柔韧性和优异的光电特性,在高性能高频器件、光电探测、柔性电子器件和太阳能光伏等多个领域展现出广泛的应用前景。在III
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V族半导体纳米线中,三元InGaAs纳米线具有连续可调的带隙(0.35
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1.42eV)、较高的电子迁移率和量子效率、漏电流小和抗辐射性强等优点,引起了科学界浓厚的兴趣。InGaAs可调的带隙覆盖近红外到红外区,通过调整铟和镓元素的组分比值,可以获得对不同波长的近红外/ ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种单分子层表面改性InGaAs纳米线光电探测器,其特征在于,其结构从下至上依次是:表面有50nm厚的SiO2氧化层的掺硼p型硅片作为器件的衬底、经单分子层表面改性处理的InGaAs纳米线作为器件的光吸收和电子传输沟道、经单分子层表面改性处理的InGaAs纳米线两侧源漏电极镍电极连接外部电源。2.根据权利要求1所述的一种单分子层表面改性InGaAs纳米线光电探测器,其特征在于:InGaAs纳米线是使用固态源化学气相沉积法在非晶衬底上生长的,纳米线生长的催化剂为金薄膜。3.根据权利要求1所述的一种单分子层表面改性InGaAs纳米线光电探测器,其特征在于:表面改性剂溶液为硫化铵及芳香族硫醇化合物(NO2‑
C6H4SH、F
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C6H4SH、CH3O
‑
C6H4SH、CH3‑
C6H4SH),浓度为30
×
10
‑3M,处理时间为12小时。4.根据权利要求1所述的一种单分子层表面改性InGaAs纳米线光电探测器,其特征在于:源漏电极镍电极通过磁控溅射技术沉积,镍电极厚度为50nm。5.利用权利要求1
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4任一所述单分子层表面改性InGaAs纳米线光电探测器进行的制备方法,其特征在于,包括以下步骤:(1)InGaAs纳米线的制备;使用固态源化学气相沉积法在非晶基底上制备出高质量高结晶度的InGaAs纳米线;通过热蒸发的方式在衬底上镀一层0.5nm厚的金薄膜作为纳米线生长的催化剂,采用两步法生长工艺制备InGaAs纳米线;(2)InGaA...
【专利技术属性】
技术研发人员:申栗繁,钱欢,杨彦斌,马永豪,
申请(专利权)人:北京工业大学,
类型:发明
国别省市:
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