模组测试设备和模组测试设备的测试方法技术

本发明专利技术提供了一种模组测试设备和模组测试设备的测试方法。模组测试设备用于测试模组组件，模组组件包括模组支架和柔性电路板，模组支架具有用于容置模组的容置区域，柔性电路板与模组支架连接并伸入到容置区域内，模组设置在柔性电路板朝向容置区域的一侧，模组测试设备包括：测试结构；分拨结构，测试结构位于分拨结构远离模组支架的一侧，分拨结构具有推面，模组支架可拆卸地在分拨结构上，推面与柔性电路板具有模组的一侧抵接，在模组支架向分拨结构所在一侧滑动时推面逐渐压接柔性电路板向远离模组支架的方向运动，以使柔性电路板弯折预设角度后模组裸露，测试结构能够对模组进行测试。本发明专利技术解决了现有技术中模组存在测试难的问题。试难的问题。试难的问题。

【技术实现步骤摘要】
模组测试设备和模组测试设备的测试方法


[0001]本专利技术涉及模组测设
，具体而言，涉及一种模组测试设备和模组测试设备的测试方法。

技术介绍

[0002]对于单个的模组连接器无遮挡，模组和连接器容易定位，普通的探针治具即可实现探针出图，但是多模组组合类支架模块类产品，无法实现探针连接，只能采用手工转接带扣接的方式连接出图工装，测试难、生产效率低，作业人员投入多，不适合大批量生产。
[0003]也就是说，现有技术中模组存在测试难的问题。

技术实现思路

[0004]本专利技术的主要目的在于提供一种模组测试设备和模组测试设备的测试方法，以解决现有技术中模组存在测试难的问题。
[0005]为了实现上述目的，根据本专利技术的一个方面，提供了一种模组测试设备，模组测试设备用于测试模组组件，模组组件包括模组支架和柔性电路板，模组支架具有用于容置模组的容置区域，柔性电路板与模组支架连接并伸入到容置区域内，模组设置在柔性电路板朝向容置区域的一侧，模组测试设备包括：测试结构；分拨结构，测试结构位于分拨结构远离模组支架的一侧，分拨结构具有推面，模组支架可拆卸地设置在分拨结构上，推面与柔性电路板具有模组的一侧抵接，在模组支架向分拨结构所在一侧滑动时推面逐渐压接柔性电路板向远离模组支架的方向运动，以使柔性电路板弯折预设角度后模组裸露，测试结构能够对模组进行测试。
[0006]进一步地，推面包括：第一推面，模组支架安装到分拨结构上后第一推面与柔性电路板抵接；第二推面，第二推面与第一推面呈角度设置，在模组支架向分拨结构所在一侧滑动时第一推面逐渐压接柔性电路板向远离模组支架的方向运动，第二推面逐渐压接柔性电路板并弯折预设角度。
[0007]进一步地，第一推面与第二推面形成的夹角的开口朝向远离模组支架方向。
[0008]进一步地，第一推面与第二推面的夹角为钝角。
[0009]进一步地，分拨结构包括两个滑轨，两个滑轨间隔设置形成间隔区域，模组支架与两个滑轨滑动连接，滑轨的至少一个端面具有推面。
[0010]进一步地，分拨结构还包括连接板，连接板与两个滑轨远离推面的一端连接，连接板和两个滑轨围成的区域为间隔区域。
[0011]进一步地，滑轨具有滑槽，模组支架在滑槽内滑动。
[0012]进一步地，模组支架、分拨结构和测试结构顺次叠置形成内部结构，模组测试设备还包括框架结构，框架结构包覆在内部结构的外侧。
[0013]进一步地，模组测试设备还包括侧压推块，侧压推块可滑动地设置在框架结构上，侧压推块为多个，多个侧压推块分别设置在内部结构的两侧，侧压推块具有夹紧位置和松
弛位置，侧压推块位于夹紧位置时，侧压推块与模组支架抵接以夹紧模组支架，侧压推块位于松弛位置时，侧压推块与模组支架间隔设置。
[0014]进一步地，模组测试设备还包括压盖，压盖可开闭地设置在框架结构上，压盖朝向框架结构的表面具有多个斜压块，多个斜压块与多个侧压推块一一对应，压盖盖设到框架结构的过程中斜压块推顶侧压推块从松弛位置向夹紧位置运动，以夹紧模组支架。
[0015]进一步地，框架结构具有合盖开关，合盖开关与测试结构电连接，压盖朝向框架结构的表面具有开关触发件，侧压推块运动至夹紧位置时，压盖与框架结构盖合到位，开关触发件触发合盖开关发送合盖信号给测试结构，测试结构的探针结构向靠近模组组件的方向运动并对模组进行测试。
[0016]进一步地，测试结构包括探针结构和驱动结构，驱动结构设置在探针结构远离模组支架的一侧，驱动结构能够驱动探针结构向靠近模组支架和远离模组支架的方向运动。
[0017]进一步地，框架结构的内侧壁具有第一定位结构，探针结构具有与第一定位结构配合的第二定位结构，第一定位结构与第二定位结构配合，以保证探针结构测试的准确性。
[0018]进一步地，探针结构包括：探针，探针座，探针座具有板体和定位座，板体具有导入孔，探针设置在导入孔内，定位座位于导入孔的下方，柔性电路板的端面与定位座抵接后形成一次定位后模组伸入到导入孔内与探针配合测试。
[0019]进一步地，探针座还包括两个导正块，两个导正块分别位于导入孔两侧且间隔设置形成导入间隔，以将柔性电路板限位在导入间隔处，便于模组伸入到导入孔内。
[0020]根据本专利技术的另一个方面，提供了一种模组测试设备的测试方法，上述的模组测试设备应用模组测试设备的测试方法，模组测试设备的测试方法包括：步骤S10：获取模组组件和模组测试设备，模组组件放置到模组测试设备上；步骤S20：获取分拨结构，分拨结构将模组组件的柔性电路板压弯；步骤S30：模组测试设备合盖对模组组件的模组测试；步骤S40：模组测试设备开盖，模组组件侧向退出模组测试设备。
[0021]进一步地，步骤S30包括：获取压盖和框架结构，压盖盖设到框架结构上，斜压块推顶侧压推块从松弛位置向夹紧位置运动，以夹紧模组组件的模组支架；压盖与框架结构盖合到位后，开关触发件触发合盖开关发送合盖信号给测试结构，测试结构的探针结构向靠近模组组件的方向运动并对模组进行测试。
[0022]进一步地，步骤S40包括：压盖被打开，探针结构复位，侧压推块从夹紧位置向松弛位置运动，以释放模组组件；模组组件退出模组测试设备。
[0023]应用本专利技术的技术方案，模组测试设备用于测试模组组件，模组组件包括模组支架和柔性电路板，模组支架具有用于容置模组的容置区域，柔性电路板与模组支架连接并伸入到容置区域内，模组设置在柔性电路板朝向容置区域的一侧，模组测试设备包括测试结构和分拨结构，测试结构位于分拨结构远离模组支架的一侧，分拨结构具有推面，模组支架可拆卸地设置在分拨结构上，推面与柔性电路板具有模组的一侧抵接，在模组支架向分拨结构所在一侧滑动时推面逐渐压接柔性电路板向远离模组支架的方向运动，以使柔性电路板弯折预设角度后模组裸露，测试结构能够对模组进行测试。
[0024]模组支架的设置能够为模组提供支撑，柔性电路板能够为模组供电，以便于模组稳定工作，模组设置在柔性电路板朝向容置区域的一侧以保证模组支架对模组形成保护，避免其他结构件对模组产生干涉，保证了模组工作的稳定性。分拨结构的设置能够暂时固
定柔性电路板的状态，以使得模组裸露出来，以便于测试结构对裸露出来的模组进行测试。这样就无需采用人为将柔性电路板掰弯进行测试，使得模组的测试变得简单。在模组组件安装到分拨结构上时，推面就压在柔性电路板上，在模组组件逐渐滑动时，推面进一步压柔性电路板，以使柔性电路板弯折角度变大，直到柔性电路板弯折预设角度后，测试结构对暴露的模组进行测试。这样就大大减少了人力的操作，使得模组的测试变得更加简便。
附图说明
[0025]构成本申请的一部分的说明书附图用来提供对本专利技术的进一步理解，本专利技术的示意性实施例及其说明用于解释本专利技术，并不构成对本专利技术的不当限定。在附图中：
[0026]图1示出了本专利技术的一个可选实施例的模组测试设备的结构示意示意图；以及
[0027]图2示本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种模组测试设备，其特征在于，所述模组测试设备用于测试模组组件，所述模组组件包括模组支架(10)和柔性电路板(30)，所述模组支架(10)具有用于容置模组(20)的容置区域(11)，所述柔性电路板(30)与所述模组支架(10)连接并伸入到所述容置区域(11)内，所述模组(20)设置在所述柔性电路板(30)朝向所述容置区域(11)的一侧，所述模组测试设备包括：测试结构(40)；分拨结构(50)，所述测试结构(40)位于所述分拨结构(50)远离所述模组支架(10)的一侧，所述分拨结构(50)具有推面(52)，所述模组支架(10)可拆卸地设置在所述分拨结构(50)上，所述推面(52)与所述柔性电路板(30)具有所述模组(20)的一侧抵接，在所述模组支架(10)向所述分拨结构(50)所在一侧滑动时所述推面(52)逐渐压接所述柔性电路板(30)向远离所述模组支架(10)的方向运动，以使所述柔性电路板(30)弯折预设角度后所述模组(20)裸露，所述测试结构(40)能够对所述模组(20)进行测试。2.根据权利要求1所述的模组测试设备，其特征在于，所述推面(52)包括：第一推面(521)，所述模组支架(10)安装到所述分拨结构(50)上后所述第一推面(521)与所述柔性电路板(30)抵接；第二推面(522)，所述第二推面(522)与所述第一推面(521)呈角度设置，在所述模组支架(10)向所述分拨结构(50)所在一侧滑动时所述第一推面(521)逐渐压接所述柔性电路板(30)向远离所述模组支架(10)的方向运动，所述第二推面(522)逐渐压接所述柔性电路板(30)并弯折预设角度。3.根据权利要求2所述的模组测试设备，其特征在于，所述第一推面(521)与所述第二推面(522)形成的夹角的开口朝向远离所述模组支架(10)方向。4.根据权利要求2所述的模组测试设备，其特征在于，所述第一推面(521)与所述第二推面(522)的夹角为钝角。5.根据权利要求1所述的模组测试设备，其特征在于，所述分拨结构(50)包括两个滑轨(53...

【专利技术属性】
技术研发人员：龚云亮，诸潇洒，俞辉，孙湖滨，陈成权，
申请(专利权)人：余姚舜宇智能光学技术有限公司，
类型：发明
国别省市：