本发明专利技术提供一种集成电路测试用智能分离设备，涉及集成电路测试领域。该集成电路测试用智能分离设备，包括安装架和输送结构，所述输送结构位于安装架的下方，安装架的上表面固定连接有电动机，安装架的上表面位于电动机的左侧固定连接有电源块，电源块的右端与电动机连接，输送结构的上方设置有两个竖板，两个竖板相互靠近的一面通过连接架固定连接。该集成电路测试用智能分离设备，通过设置蓄力弹簧、拨动伸缩杆、偏心半环、挡板和挡杆，当集成电路线路没有问题时，使放料板上的物料在重力的作用下滑下，当集成电路板线路不通时，电动机不产生转动，放料板不会产生转动，进而将坏掉的集成电路板与正常的集成电路板进行自动分离。集成电路板与正常的集成电路板进行自动分离。集成电路板与正常的集成电路板进行自动分离。
【技术实现步骤摘要】
一种集成电路测试用智能分离设备
[0001]本专利技术涉及集成电路测试领域，具体为一种集成电路测试用智能分离设备。
技术介绍
[0002]集成电路或称微电路、微芯片、晶片/芯片在电子学中是一种把电路(主要包括半导体设备，也包括被动组件等)小型化的方式，并时常制造在半导体晶圆表面上，集成电路可以把模拟和数字电路集成在一个单芯片上，以做出如模拟数字转换器和数字模拟转换器等器件。这种电路提供更小的尺寸和更低的成本。
[0003]集成电路在加工完成以后需要对集成电路的连通性进行检测，一般将多个检测结构放在输送结构上，输送结构通过定位停止将集成电路板移动到检测触板的下方检测，但是现今在检测后不能将有问题的集成电路板与没有问题的集成电路板分开，需要后续再进行分离。
技术实现思路
[0004]针对现有技术的不足，本专利技术提供了一种集成电路测试用智能分离设备，解决了在检测后不能将有问题的集成电路板与没有问题的集成电路板分开，需要后续再进行分离的问题。
[0005]为实现以上目的，本专利技术通过以下技术方案予以实现：一种集成电路测试用智能分离设备，包括安装架和输送结构，所述输送结构位于安装架的下方，安装架的上表面固定连接有电动机，安装架的上表面位于电动机的左侧固定连接有电源块，电源块的右端与电动机连接，输送结构的上方设置有两个竖板，两个竖板相互靠近的一面通过连接架固定连接，连接架的底面与输送结构的上表面固定连接，两个竖板之间位于连接架的上方设置有放料板，安装架的正面转动贯穿有转轴，转轴位于安装架后方的一端转动套接有从动齿轮，从动齿轮的上方啮合有主动齿轮，主动齿轮固定套接在电动机的输出端，转轴的外表面且位于从动齿轮后方的一端固定套接有棘轮，棘轮的正面固定连接有蓄力弹簧，蓄力弹簧的前端与从动齿轮的背面固定连接，蓄力弹簧活动套接在转轴的外表面，棘轮的右侧啮合有棘牙，棘牙与安装架的背面弹性铰接，转轴位于安装架前方的一端固定套接有拨动伸缩杆，拨动伸缩杆的下端背面固定连接有挡板，拨动伸缩杆的下端正面转动插接有控制轴，控制轴的下方设置有偏心半环，偏心半环的两端均与安装架的正面固定连接。
[0006]所述放料板的左端转动插接有插接轴A，放料板的右端转动插接有插接轴B，两个竖板的正面均开设有竖槽，两个竖板的正面均开设有横槽，两个竖槽的内部均滑动插接有滑块A，两个滑块A均转动套接在插接轴A的外表面，两个滑块A的底面均固定连接有竖向弹簧，两个竖向弹簧的下端分别与两个竖槽的内底壁固定连接，两个横槽的内部均滑动插接有滑块B，两个滑块B的左侧面均固定连接有横向弹簧，两个横向弹簧的左端分别与两个横槽的左侧内壁固定连接，两个滑块B均转动套接在插接轴B的外表面。
[0007]所述放料板的上方设置有移动架，移动架的左右两端均固定连接有检测触板，移
动架的上表面固定连接有控制伸缩杆，控制伸缩杆的上端与安装架的底面固定连接，位于前方的滑块B的正面固定连接有接触杆，接触杆位于拨动伸缩杆的下方，挡板的左下方设置有挡杆，挡杆与移动架的上表面固定连接，两个检测触板的上表面均固定连接有连接电线，两个连接电线的上端均固定贯穿安装架的底面，位于左侧的连接电线的上端与电源块的左侧面连接，位于右侧的连接电线的上端与电动机连接。
[0008]优选的，所述输送结构的下方设置有平行板，平行板的左右两端均与安装架固定连接。
[0009]优选的，所述移动架的上表面位于控制伸缩杆的左右两侧均固定连接有稳定伸缩杆，稳定伸缩杆的上端与安装架固定连接。
[0010]优选的，所述偏心半环与转轴偏心设置，偏心半环的轴线位于转轴的右上侧。
[0011]优选的，所述横向弹簧与竖向弹簧垂直设置，插接轴A与插接轴B平行设置，插接轴A位于插接轴B左下方。
[0012]优选的，两个检测触板平行设置，两个检测触板以控制伸缩杆的轴线左右对称分布。
[0013]与现有技术相比，本专利技术具备以下有益效果：
[0014]1、该集成电路测试用智能分离设备，通过设置蓄力弹簧、拨动伸缩杆、偏心半环、挡板和挡杆，当输送结构带动集成电路板移动到检测触板下方后，控制伸缩杆推动移动架带动两个检测触板与集成电路板接触，当集成电路线路没有问题时，电源块、电动机、两个检测触板、连接电线和集成电路板形成回路，可以使电源块对电动机通电，电动机带动主动齿轮转动，从动齿轮与主动齿轮啮合通过蓄力弹簧带动棘轮和转轴转动，使拨动伸缩杆进行顺时针方向转动，当挡板与挡杆接触时停止转动，在电动机继续转动时调动蓄力弹簧产生扭转蓄力，在控制伸缩杆带动移动架向上移动时，使挡杆向上移动脱离挡板范围，使拨动伸缩杆转动可以继续顺时针转动，通过接触杆推动滑块B向左移动，由于滑块A位于滑块B的左下方，在滑块B和滑块A移动时使放料板倾斜转动，使放料板上的物料在重力的作用下滑下，当集成电路板线路不通时，电动机不产生转动，放料板不会产生转动，进而将坏掉的集成电路板与正常的集成电路板进行自动分离。
[0015]2、该集成电路测试用智能分离设备，通过设置偏心半环和控制轴，在拨动伸缩杆顺时针转动时，带动控制轴在偏心半环内环面上滑动，由于偏心半环位于转轴的右上方，使控制轴在偏心半环内环面上滑动时，逐渐带动拨动伸缩杆压缩，使拨动伸缩杆拨动接触轴向左移动一段距离后，拨动伸缩杆脱离接触轴，使滑块B可以在横向伸缩杆的推动下复位，同时保证拨动伸缩在蓄力弹簧的作用下正常转动，对蓄力弹簧卸力，便于对下一个集成电路板进行检测。
[0016]3、该集成电路测试用智能分离设备，通过设置平行板，平行板与输送结构接触，对输送结构上的连接架进行支撑，保证集成电路板进行检测时，集成电路板保持稳定，防止由于输送结构由于较软造成检测时连接架产生倾斜，造成检测不准确。
附图说明
[0017]图1为本专利技术结构示意图；
[0018]图2为本专利技术滑块B与横向弹簧连接示意图；
[0019]图3为本专利技术控制伸缩杆与移动架连接示意图；
[0020]图4为本专利技术挡板与拨动伸缩杆连接示意图；
[0021]图5为本专利技术蓄力弹簧与主动齿轮连接示意图；
[0022]图6为本专利技术棘牙与棘轮连接示意图。
[0023]其中，1安装架、2输送结构、3电动机、4电源块、5竖板、6连接架、7转轴、8放料板、9从动齿轮、10主动齿轮、11棘轮、12蓄力弹簧、13棘牙、14拨动伸缩杆、15挡板、16偏心半环、17控制轴、18插接轴A、19插接轴B、20竖槽、21横槽、22滑块A、23竖向弹簧、24滑块B、25横向弹簧、26移动架、27检测触板、28控制伸缩杆、29接触杆、30挡杆、31连接电线、32平行板、33稳定伸缩杆。
具体实施方式
[0024]如图1
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6所示，一种集成电路测试用智能分离设备，包括安装架1和输送结构2，输送结构2可以进行定点输送停止，输送结构2位于安装架1的下方，安装架1的上表面固定连接有电动机3，安装架1的上表面位于电动机3的左侧固定连接有电源块4，电源块4的右端与电动机本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种集成电路测试用智能分离设备，包括安装架(1)和输送结构(2)，其特征在于：所述输送结构(2)位于安装架(1)的下方，安装架(1)的上表面固定连接有电动机(3)，安装架(1)的上表面位于电动机(3)的左侧固定连接有电源块(4)，电源块(4)的右端与电动机(3)连接，输送结构(2)的上方设置有两个竖板(5)，两个竖板(5)相互靠近的一面通过连接架(6)固定连接，连接架(6)的底面与输送结构(2)的上表面固定连接，两个竖板(5)之间位于连接架(6)的上方设置有放料板(8)，安装架(1)的正面转动贯穿有转轴(7)，转轴(7)位于安装架(1)后方的一端转动套接有从动齿轮(9)，从动齿轮(9)的上方啮合有主动齿轮(10)，主动齿轮(10)固定套接在电动机(3)的输出端，转轴(7)的外表面且位于从动齿轮(9)后方的一端固定套接有棘轮(11)，棘轮(11)的正面固定连接有蓄力弹簧(12)，蓄力弹簧(12)的前端与从动齿轮(9)的背面固定连接，蓄力弹簧(12)活动套接在转轴(7)的外表面，棘轮(11)的右侧啮合有棘牙(13)，棘牙(13)与安装架(1)的背面弹性铰接，转轴(7)位于安装架(1)前方的一端固定套接有拨动伸缩杆(14)，拨动伸缩杆(14)的下端背面固定连接有挡板(15)，拨动伸缩杆(14)的下端正面转动插接有控制轴(17)，控制轴(17)的下方设置有偏心半环(16)，偏心半环(16)的两端均与安装架(1)的正面固定连接；所述放料板(8)的左端转动插接有插接轴A(18)，放料板(8)的右端转动插接有插接轴B(19)，两个竖板(5)的正面均开设有竖槽(20)，两个竖板(5)的正面均开设有横槽(21)，两个竖槽(20)的内部均滑动插接有滑块A(22)，两个滑块A(22)均转动套接在插接轴A(18)的外表面，两个滑块A(22)的底面均固定连接有竖向弹簧(23)，两个竖向弹簧(23)的下端分别与两个竖槽(20)的内底壁固定连接，两个横槽(21)的内部均滑动插接有滑块B(24)，两个滑...
【专利技术属性】
技术研发人员：何志，
申请(专利权)人：何志，
类型：发明
国别省市：
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