一种基于模拟开关的线束测试切换系统技术方案

一种基于模拟开关的线束测试切换系统，包括：控制主板，与通讯模块电连接，通过通讯模块向N个驱动模块中的任一或任几驱动模块发送控制指令；通讯模块，与控制主板和N个驱动模块电连接，实现控制主板与N个驱动模块之间通讯；N个驱动模块，每个驱动模块电连接至少一个模拟开关芯片，每个驱动模块分别驱动与其对应的模拟开关芯片动作，任一或任几驱动模块接收控制主板发送的指令并分别控制对应的至少一个模拟开关芯片动作。本实用新型专利技术通过驱动模块驱动模拟开关芯片动作，从而实现线束检测设备的快速切换，使得线束检测设备体积的大大减小；电源端安装有抗干扰模块，利用抗干扰模块对电源端进行防护，防止线束切换系统受到电源端传入的电磁干扰。的电磁干扰。的电磁干扰。

【技术实现步骤摘要】
一种基于模拟开关的线束测试切换系统


[0001]本技术涉及线束测试领域，尤其涉及一种基于模拟开关的线束测试切换系统。

技术介绍

[0002]传统的线束测试仪通常采用机械继电器进行开关的切换，由于机械继电器单次动作时间通常需要ms，线束测试中进行通道切换时往往需要多个继电器配合进行闭合的动作，因此切换速度往往在100点/s以下，极限情况下也不会超过200点/S。同时，机械继电器频繁切换也会严重影响其寿命。
[0003]在线束关系识别过程中，传统的方法往往通过预定义的芯线关系分别测量两点之间的阻值，以确定其通、断、短状态。而采用这种方法，如果要识别所有点之间的关系及状态则需要N次(N为线束总点数)测量，以100点线束在100点/s的速度下进行测试来计算，需要10s的时间。而在大型复杂电子设备中，线束点数往往上千甚至上万，识别时间过长，不具备太大的操作性。
[0004]有鉴于此，有必要提供一种基于模拟开关的线束测试切换系统，以识别线束两点之间的通路、断路和短路。

技术实现思路

[0005]本技术所要解决的技术问题在于克服上述现有技术的缺点，提供一种缩短线束测试切换设备测试时间的基于模拟开关的线束测试切换系统。
[0006]解决上述技术问题所采用的技术方案是：
[0007]一种基于模拟开关的线束测试切换系统，包括：
[0008]控制主板，与通讯模块电连接，通过通讯模块向N个驱动模块中的任一或任几驱动模块发送控制指令；
[0009]通讯模块，与控制主板和N个驱动模块电连接，实现控制主板与N个驱动模块之间通讯；
[0010]N个驱动模块，每个驱动模块电连接至少一个模拟开关芯片，每个驱动模块分别驱动与其对应的模拟开关芯片动作，任一或任几驱动模块接收控制主板发送的指令并分别控制对应的至少一个模拟开关芯片动作。
[0011]作为本技术的进一步改进，还包括：
[0012]输入模块，与控制主板电连接，通过输入模块向控制主板发送任一或任几模拟开关芯片动作指令。
[0013]作为本技术的进一步改进，还包括：
[0014]M个线束插拔接口，外部欲测试线束连接到至少一个线束插拔接口；M个线束插拔接口均与不同模拟开关芯片电连接，线束插拔接口与模拟开关芯片的连接电路上还连接有电源接口，电源接口与电源模块连接。
[0015]作为本技术的进一步改进，每个驱动模块电连接X个模拟开关芯片，X≥2；
[0016]所述驱动模块的输入引脚接通讯模块，所述驱动模块的输出引脚接X个模拟开关芯片。
[0017]作为本技术的进一步改进，所述驱动模块具有4X+2个引脚，其中，2X个引脚为输入引脚，分别接同一或不同通信模块，2X个引脚为输出引脚，2X个输出引脚两两接一模拟开关芯片；一个引脚为供电端，另一个引脚接地。
[0018]作为本技术的进一步改进，所述控制主板包括第一控制芯片和第二控制芯片，所述第一控制芯片与M个驱动模块连接，所述第一控制芯片向M个驱动模块发送控制指令，所述第二控制芯片与N
‑
M个驱动模块连接，所述第二控制芯片向N
‑
M个驱动模块发送控制指令。
[0019]作为本技术的进一步改进，所述第一控制芯片的clkl接线端串接电阻R65后与芯片Y1的OUT引脚连接，芯片Y1的GND引脚接地，芯片Y1的VCC引脚接VDD2电源，芯片Y1的VCC引脚还串接电容C11后接地。
[0020]本技术的有益效果是：
[0021]1、本技术通过驱动模块驱动模拟开关芯片动作，从而实现线束检测设备的快速切换，使得线束检测设备体积的大大减小。
[0022]2、本技术的模拟开关芯片连接电源端，电源端安装有抗干扰模块，利用抗干扰模块对电源端进行防护，防止线束切换系统受到电源端传入的电磁干扰。
附图说明
[0023]图1为本技术线束测试切换系统的原理图；
[0024]图2为第一模拟开关芯片的示意图；
[0025]图3为第六十四模拟开关芯片的示意图；
[0026]图4为第一驱动模块的示意图；
[0027]图5为第八驱动模块的示意图；
[0028]图6为第一控制芯片的示意图；
[0029]图7为第二控制芯片的示意图；
[0030]图8为芯片Y1的示意图；
[0031]图9为与第一控制芯片POWER引脚连接的电源电路示意图；
[0032]图10为另一种线束测试切换系统的原理图。
具体实施方式
[0033]为了使本技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本技术，并不用于限定本技术。
[0034]本技术实施例提供了一种基于模拟开关的线束测试切换系统，包括控制主板、通讯模块和N个驱动模块，从图4和图5可以看出，本技术实施例有八个驱动模块，说明书附图中省略了第二驱动模块至第七驱动模块的示意图。从图2和图3可以看出，本技术实施例有64个模拟开关芯片，说明书附图中省略了第二模拟开关芯片至第六十三模拟
开关芯片的示意图。其中，一个驱动模块电连接八个模拟开关芯片，具体的，如图4所示，第一驱动模块的17引脚和18引脚接第一模拟开关芯片，第一驱动模块的15引脚和16引脚接第十七模拟开关芯片，第一驱动模块的13引脚和14引脚接第二模拟开关芯片，第一驱动模块的11引脚和12引脚接第十八模拟开关芯片，如图4和图6所示，第一驱动模块的1引脚和2引脚接第一控制模块的20引脚和21引脚，第一驱动模块的3引脚和4引脚接第一控制模块的18引脚和19引脚，第一驱动模块的5引脚和6引脚接第一控制模块的16引脚和17引脚，第一驱动模块的7引脚和8引脚接第一控制模块的7引脚和15引脚。需要说明的是，本技术实施例的模拟开关芯片型号优选为DG409。在本技术实施例中，每个模拟开关芯片的PCB板上都有两个继电器，两个继电器是用来控制电压电流总线的。
[0035]如图5所示，第一驱动模块的17引脚和18引脚接第十五模拟开关芯片，第一驱动模块的15引脚和16引脚接第三十一模拟开关芯片，第一驱动模块的13引脚和14引脚接第十六模拟开关芯片，第一驱动模块的11引脚和12引脚接第三十二模拟开关芯片，如图5和图7所示，第八驱动模块的1引脚和2引脚接第一控制模块的42引脚和43引脚，第八驱动模块的3引脚和4引脚接第一控制模块的38引脚和41引脚，第八驱动模块的5引脚和6引脚接第一控制模块的35引脚和36引脚，第八驱动模块的7引脚和8引脚接第一控制模块的33引脚和34引脚。
[0036]控制主板与通讯模块电连接，通过通讯模块向N个驱动模块中的任一或任几驱动模块发送控制指令；通讯模块与控制主板和N个驱动模块电连接，实现控制主板与N个驱动模块之间通讯；N个驱动模块中，每个驱动模块电连接至少本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于模拟开关的线束测试切换系统，其特征在于，包括：控制主板，与通讯模块电连接，通过通讯模块向N个驱动模块中的任一或任几驱动模块发送控制指令；通讯模块，与控制主板和N个驱动模块电连接，实现控制主板与N个驱动模块之间通讯；N个驱动模块，每个驱动模块电连接至少一个模拟开关芯片，每个驱动模块分别驱动与其对应的模拟开关芯片动作，任一或任几驱动模块接收控制主板发送的指令并分别控制对应的至少一个模拟开关芯片动作。2.根据权利要求1所述的基于模拟开关的线束测试切换系统，其特征在于，还包括：输入模块，与控制主板电连接，通过输入模块向控制主板发送任一或任几模拟开关芯片动作指令。3.根据权利要求1所述的基于模拟开关的线束测试切换系统，其特征在于，还包括：M个线束插拔接口，外部欲测试线束连接到至少一个线束插拔接口；M个线束插拔接口均与不同模拟开关芯片电连接，线束插拔接口与模拟开关芯片的连接电路上还连接有电源接口，电源接口与电源模块连接。4.根据权利要求1所述的基于模拟开关的线束测试切换系统，其特征在于：所述驱动模块电连接X个模拟开关芯...

【专利技术属性】
技术研发人员：王佳航，魏坤，
申请(专利权)人：西安安泰电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：