一种集成电路测试设备制造技术

本实用新型专利技术公开了一种集成电路测试设备，涉及集成电路技术领域。本实用新型专利技术包括底座、调节机构和放置平台，放置平台位于底座的顶部固定连接，调节机构位于放置平台的一侧且与底座固定连接，调节机构包括手柄和调节单元，手柄的底部活动连接调节单元，调节单元包括齿轮和两个齿条，两个齿条分别位于齿轮的两侧啮合。本实用新型专利技术通过调节两个齿条相背端之间的距离，从而适应测试点，向下压手柄使套筒跟随其下降，可进行测试多个集成电路，解决了手动改变两引脚的距离，较为麻烦的问题；通过将橡胶块固定在顶板上，防止在测试过程中电路板滑动，解决了直接放置在桌面容易造成电路板磨损的问题。的问题。的问题。

【技术实现步骤摘要】
一种集成电路测试设备


[0001]本技术属于集成电路
，特别是涉及一种集成电路测试设备。

技术介绍

[0002]集成电路是一种微型电子器件或部件，采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，使电子元件微小型化、低功耗，在集成电路生产时，需要对其测试，但它在实际使用中仍存在以下弊端：
[0003]1、现有的一种集成电路测试设备测试的效率相对较低，且在测试时经常会由于触点的接触问题从而导致无法测试，增加了集成电路的测试成本，且通常生产多数集成电路后，需要统一测试，而目前测试设备均是手动改变两引脚的距离，较为麻烦；
[0004]2、现有的一种集成电路测试设备在使用时，大都是将集成电路直接放置在桌面上进行测试，容易出现集成电路沾染污垢导致无法使用，且在引脚下压后，容易造成电路板底面与桌面摩擦，继而出现磨损的情况。
[0005]因此，现有的集成电路测试设备，无法满足实际使用中的需求，所以市面上迫切需要能改进的技术，以解决上述问题。

技术实现思路

[0006]本技术的目的在于提供一种集成电路测试设备，通过调节两个齿条相背端之间的距离，从而适应测试点，向下压手柄使套筒跟随其下降，可进行测试多个集成电路，解决了手动改变两引脚的距离，较为麻烦的问题；通过将橡胶块固定在顶板上，防止在测试过程中电路板滑动，解决了直接放置在桌面容易造成电路板磨损的问题。
[0007]为解决上述技术问题，本技术是通过以下技术方案实现的：
[0008]本技术为一种集成电路测试设备，包括底座、调节机构和放置平台，所述放置平台位于底座的顶部固定连接，所述调节机构位于放置平台的一侧且与底座固定连接，所述调节机构包括手柄和调节单元，所述手柄的底部活动连接调节单元，由手柄控制调节单元的升降，继而使调节单元的两个引脚顶压需要测试的两点，所述调节单元包括齿轮和两个齿条，两个齿条分别位于齿轮的两侧啮合，齿轮转动时，两个齿条同时反向滑动，继而可调节两个齿条相背端之间的距离，从而适应测试点。
[0009]进一步地，所述底座包括外框和显示屏，所述外框的侧面固定连接有总控开关，用于控制整个设备电路，外框的顶面且位于放置平台的一侧固定连接显示屏，所述显示屏的下侧且与外框固定连接有多个分控开关，可直接观察所测点的参数，且通过调节单元，可测量集成电路板内两电压脚之间的间距，便于后续改良。
[0010]进一步地，所述调节机构还包括立板和弓形架，所述立板固定连接在外框顶面，立板的顶部固定连接有传导块，所述传导块的外侧固定连接弓形架，所述手柄的顶部与弓形架的顶部转动连接，手柄中部的两侧均转动连接有连接条，所述连接条的底端转动连接有套筒，向上提起手柄使套筒跟随其上升，反之则下降，且由两个连接条的作用，手柄转动的
幅度较大，而套筒升降的距离较小，从而更加精准的寻找所测点位，所述调节单元活动卡接在套筒底部。
[0011]进一步地，所述放置平台包括底板、卡接柱和顶板，所述底板顶面的四个拐角处均固定连接有卡接柱，所述顶板位于底板上方，且与卡接柱滑动卡接，所述卡接柱的外柱面缠绕有弹簧，由弹簧的作用，在调节单元下压集成电路板时，可下降电路板高度，继而避免调节单元下降高度过大而损坏电路板。
[0012]进一步地，所述调节单元还包括传导柱和旋钮，所述传导柱活动卡接在套筒内部，且与传导块连接有导线，传导柱可转动，传导柱底部的两侧固定连接有滑轨，所述齿轮与传导柱的底部转动连接，齿轮的顶部固定连接旋钮，传导柱贯穿旋钮，继而转动旋钮使齿轮转动，从而调节两个齿条，两个所述齿条分别滑动卡接在两个滑轨内部，两个齿条的相背端均固定连接有引脚。
[0013]进一步地，所述外框的顶面开设有多个安装孔，通过螺栓分别固定连接立板和底板。
[0014]进一步地，所述弓形架的底部固定连接有套环，所述套筒贯穿套环，使套筒始终保持垂直升降，避免调节单元倾斜，从而不便与测试点位接触。
[0015]进一步地，所述顶板的表面活动卡接有多个橡胶块，橡胶块根据集成电路板的底面固定在顶板上，避免电路板底面直接接触顶板造成磨损，且防止在测试过程中电路板滑动。
[0016]本技术具有以下有益效果：
[0017]1、本技术通过转动旋钮，齿轮转动，继而两个齿条同时反向滑动，调节两个齿条相背端之间的距离，从而适应测试点，向下压手柄使套筒跟随其下降，可进行测试多个集成电路，解决了手动改变两引脚的距离，较为麻烦的问题。
[0018]2、本技术通过将橡胶块固定在顶板上，避免电路板底面直接接触顶板造成磨损，且防止在测试过程中电路板滑动，解决了直接放置在桌面容易造成电路板磨损的问题。
附图说明
[0019]为了更清楚地说明本技术实施例的技术方案，下面将对实施例描述所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0020]图1为本技术的整体结构示意图；
[0021]图2为本技术的底座结构示意图；
[0022]图3为本技术的调节机构结构示意图；
[0023]图4为本技术的手柄连接结构示意图；
[0024]图5为本技术的调节单元结构示意图；
[0025]图6为本技术的滑轨连接结构示意图；
[0026]图7为本技术的放置平台结构示意图。
[0027]附图中，各标号所代表的部件列表如下：
[0028]100、底座；110、外框；120、安装孔；130、总控开关；140、显示屏；150、分控开关；
200、调节机构；210、立板；220、传导块；230、弓形架；240、套环；250、手柄；260、连接条；270、套筒；280、调节单元；281、传导柱；282、滑轨；283、齿轮；284、旋钮；285、齿条；286、引脚；300、放置平台；310、底板；320、卡接柱；330、顶板；340、弹簧；350、橡胶块。
具体实施方式
[0029]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。
[0030]请参阅图1
‑
7所示，本技术为一种集成电路测试设备，包括底座100、调节机构200和放置平台300，放置平台300位于底座100的顶部固定连接，调节机构200位于放置平台300的一侧且与底座100固定连接，调节机构200包括手柄250和调节单元280，手柄250的底部活动连接调节单元280，由手柄250控制调节单元280的升降，继而使调节单元280的两个引脚286顶压需要测试的两点，调节单元280包括齿轮283和两个齿条285，两个齿条285分别位于齿轮283的两侧啮合，齿轮283转动时，两个齿条285同时反向滑动，继而可调节两个齿条285相背端之间的距离，从而适应测试本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种集成电路测试设备，包括底座(100)、调节机构(200)和放置平台(300)，其特征在于：所述放置平台(300)位于底座(100)的顶部固定连接，所述调节机构(200)位于放置平台(300)的一侧且与底座(100)固定连接，所述调节机构(200)包括手柄(250)和调节单元(280)，所述手柄(250)的底部活动连接调节单元(280)，所述调节单元(280)包括齿轮(283)和两个齿条(285)，两个齿条(285)分别位于齿轮(283)的两侧啮合。2.根据权利要求1所述的一种集成电路测试设备，其特征在于，所述底座(100)包括外框(110)和显示屏(140)，所述外框(110)的侧面固定连接有总控开关(130)，外框(110)的顶面且位于放置平台(300)的一侧固定连接显示屏(140)，所述显示屏(140)的下侧且与外框(110)固定连接有多个分控开关(150)。3.根据权利要求1所述的一种集成电路测试设备，其特征在于，所述调节机构(200)还包括立板(210)和弓形架(230)，所述立板(210)固定连接在外框(110)顶面，立板(210)的顶部固定连接有传导块(220)，所述传导块(220)的外侧固定连接弓形架(230)，所述手柄(250)的顶部与弓形架(230)的顶部转动连接，手柄(250)中部的两侧均转动连接有连接条(260)，所述连接条(260)的底端转动连接有套筒(270)，所述调节单元(...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈益群，徐刚，袁泉，王泽山，
申请(专利权)人：宁波群芯微电子有限责任公司，
类型：新型
国别省市：