本发明专利技术公开了一种测试机校准方法、校准装置及测试机，测试机校准方法包括：获取多个基准阻抗测量值，其中，不同基准阻抗测量值对应不同标称值的基准阻抗；获取每个基准阻抗测量值与对应基准阻抗的标称值之间的偏差值，将一个基准阻抗测量值以及其对应的偏差值作为一个坐标点，利用全部坐标点生成拟合函数；获取待测工件的阻抗测量值，根据拟合确定待测工件的阻抗测量偏差值，根据待测工件的阻抗测量值和阻抗测量偏差值确定待测工件的实际阻抗值。通过本发明专利技术提出的测试机校准方法，当待测工件的阻抗值与基准阻抗的阻抗值相差较大时，可以准确的实现对阻抗测量值的校准，进而准确确定待测工件的实际值。待测工件的实际值。待测工件的实际值。
【技术实现步骤摘要】
一种测试机校准方法、校准装置及测试机
[0001]本专利技术实施例涉及阻抗测试技术，尤其涉及一种测试机校准方法、校准装置及测试机。
技术介绍
[0002]阻抗测试机用于被测装置或器件的阻抗测量，阻抗测试机通常存在测量误差，在使用阻抗测试机前需要对阻抗测试机进行校准，以确定阻抗测试机的测量误差以对工件的测量结果进行补偿。
[0003]现有技术中，通常采用50欧姆的校准件，可以构成单端阻抗50欧姆附近阻抗值的校准和差分阻抗100欧姆附近阻抗值的校准，当待测工件的阻抗值为50欧姆时，可以较为准确的得出阻抗测量值，但当待测工件的阻抗值与50欧姆相差较大时，不能准确的得出阻抗测量值。
技术实现思路
[0004]本专利技术提供一种测试机校准方法、校准装置及测试机，以达到准确的测量阻抗的目的。
[0005]第一方面，本专利技术实施例提供了一种测试机校准方法，包括：
[0006]获取多个基准阻抗测量值，其中，不同所述基准阻抗测量值对应不同标称值的基准阻抗；
[0007]获取每个基准阻抗测量值与对应所述基准阻抗的标称值之间的偏差值，将一个所述基准阻抗测量值以及其对应的所述偏差值作为一个坐标点，利用全部所述坐标点生成拟合函数；
[0008]获取待测工件的阻抗测量值，根据所述拟合确定所述待测工件的阻抗测量偏差值，根据所述待测工件的阻抗测量值和所述阻抗测量偏差值确定所述待测工件的实际阻抗值。
[0009]可选的，利用所述坐标点生成拟合函数包括：
[0010]将所述坐标点进行分组生成若干坐标点对，一个所述坐标点对包括两个指定的所述坐标点，确定每个所述坐标点对中两个所述坐标点之间的线性函数。
[0011]可选的，根据所述阻抗测量值确定与所述待测工件对应的线性函数；
[0012]根据与所述待测工件对应的线性函数确定所述待测工件的阻抗测量偏差值。
[0013]可选的，若所述阻抗测量值包含于一个所述线性函数的定义域内，则定义域包含所述阻抗测量值的线性函数与所述待测工件对应。
[0014]可选的，进行单端阻抗测试时，所述基准阻抗测量值为单端阻抗测试值；
[0015]进行差分阻抗测试时，所述基准阻抗测量值为差分阻抗测试值。
[0016]第二方面，本专利技术实施例还提供了一种校准装置，包括控制器和阻抗测试基准件；
[0017]所述阻抗测试基准件配置有多个标称值互不相同的基准阻抗；
[0018]所述控制器用于：获取多个基准阻抗测量值，其中，不同所述基准阻抗测量值对应不同标称值的基准阻抗；
[0019]获取每个基准阻抗测量值与对应所述基准阻抗的标称值之间的偏差值，将一个所述基准阻抗测量值以及其对应的所述偏差值作为一个坐标点，利用全部所述坐标点生成拟合函数；
[0020]获取待测工件的阻抗测量值，根据所述拟合确定所述待测工件的阻抗测量偏差值，根据所述待测工件的阻抗测量值和所述阻抗测量偏差值确定所述待测工件的实际阻抗值。
[0021]可选的，所述阻抗测试基准件还配置有若干信号端子、若干接地端子、若干射频接口；
[0022]一个射频接口与一个所述信号端子以及一个所述基准阻抗相连接。
[0023]可选的，所述阻抗测试基准件包括至少三组基准阻抗；
[0024]一组基准阻抗包括两个标称值相同的基准阻抗，不同组基准阻抗中的基准阻抗的标称值互不相同。
[0025]可选的，所述阻抗测试基准件至少包括25欧姆基准阻抗、50欧姆基准阻抗、75欧姆基准阻抗。
[0026]可选的，所述信号端子通过50欧姆阻抗线与所述射频接口相连接。
[0027]第三方面，本专利技术实施例还提供了一种测试机，包括本专利技术实施例记载的校准装置。
[0028]与现有技术相比，本专利技术的有益效果在于：本专利技术提出的阻抗测试机校准方法中，使用阻抗测试机测量数值不同的若干基准阻抗，获取对应的若干基准阻抗测量值，利用基准阻抗测量值进行函数拟合，获取拟合函数，当阻抗测试机测量一个待测工件的阻抗测量值后通过拟合函数获取该阻抗测量值的偏差值，进而对该阻抗测量值进行校准，通过本专利技术提出的阻抗测试机校准方法，当待测工件的阻抗值与基准阻抗的阻抗值相差较大时，可以准确的实现对阻抗测量值的校准，进而准确确定待测工件的实际值。
附图说明
[0029]图1是实施例中的测试机校准方法流程图；
[0030]图2是实施例中的另一种测试机校准方法流程图；
[0031]图3是实施例中的测试机校准装置结构示意图。
具体实施方式
[0032]下面结合附图和实施例对本专利技术作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本专利技术，而非对本专利技术的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本专利技术相关的部分而非全部结构。
[0033]实施例一
[0034]本实施例提出一种测试机校准方法，该方法适用于测试机(阻抗测试仪)的阻抗测量值校准的情况。
[0035]本实施例中，测试机测量待测工件时可以得到待测工件的阻抗测量值，对测试机
的阻抗测量值进行校准时，通过拟合函数确定阻抗测量值的阻抗测量偏差值，通过阻抗测量偏差值对阻抗测量值进行校准，以准确的确定测试机测量待测工件时，待测工件的实际阻抗值。
[0036]本实施例中，拟合函数的确定方法为：
[0037]获取多个基准阻抗测量值，其中，不同基准阻抗测量值对应不同标称值的基准阻抗。
[0038]获取每个基准阻抗测量值与对应基准阻抗的标称值之间的偏差值，将一个基准阻抗测量值以及其对应的偏差值作为一个坐标点，利用全部坐标点生成拟合函数。
[0039]本实施例中，拟合函数可以通过函数拟合的方式确定，根据函数拟合的方式，拟合函数可以表示为直线、分段直线等形式。
[0040]图1是实施例中的测试机校准方法流程图，参考图1，在一种可实施方案中，测试机校准方法具体包括：
[0041]S101.测量至少三个基准阻抗，得到至少三个基准阻抗测量值。
[0042]示例性的，本实施例中，基准阻抗的标称值和实际值相同，例如，标称值为50欧姆的基准阻抗的实际值同样为50欧姆。
[0043]示例性的，本实施例中，对基准阻抗的形式不做限定，基准阻抗可以为阻抗线、阻抗棒等。
[0044]本步骤中，一个基准阻抗对应至少一个基准阻抗测量值，至少三个基准阻抗的数值互不相同。
[0045]示例性的，以测量基准阻抗时采用单端阻抗测量模式为例，可以选用阻抗值分别为25欧姆、50欧姆、75欧姆的三个基准阻抗进行测量；
[0046]可以分别获取每个基准阻抗的一个基准阻抗测量值，共三个基准阻抗测量值(例如，24.5欧姆、50.5欧姆、74.1欧姆)；
[0047]也可以对一个基准阻抗测量多次，得到该基准阻抗的多个基准阻抗测量值，例如，对25欧姆基准阻抗测量两次，得到与25欧姆基准阻抗对应的两个基准阻抗测量值，对本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种测试机校准方法，其特征在于，包括：获取多个基准阻抗测量值，其中，不同所述基准阻抗测量值对应不同标称值的基准阻抗；获取每个基准阻抗测量值与对应所述基准阻抗的标称值之间的偏差值，将一个所述基准阻抗测量值以及其对应的所述偏差值作为一个坐标点，利用全部所述坐标点生成拟合函数；获取待测工件的阻抗测量值，根据所述拟合函数确定所述待测工件的阻抗测量偏差值，根据所述待测工件的阻抗测量值和所述阻抗测量偏差值确定所述待测工件的实际阻抗值。2.如权利要求1所述的测试机校准方法，其特征在于，利用全部所述坐标点生成拟合函数包括：将所述坐标点进行分组生成若干坐标点对，一个所述坐标点对包括两个指定的所述坐标点，确定每个所述坐标点对中两个所述坐标点之间的线性函数。3.如权利要求2所述的测试机校准方法，其特征在于，根据所述阻抗测量值确定与所述待测工件对应的线性函数；根据与所述待测工件对应的线性函数确定所述待测工件的阻抗测量偏差值。4.如权利要求3所述的测试机校准方法，其特征在于，若所述阻抗测量值包含于一个所述线性函数的定义域内，则定义域包含所述阻抗测量值的线性函数与所述待测工件对应。5.如权利要求1所述的测试机校准方法，其特征在于，进行单端阻抗测试时，所述基准阻抗测量值为单端阻抗测试值；进行差分阻抗测试时，所述基准阻抗测量值为差分阻抗测试值。6.一种校准装置，其...
【专利技术属性】
技术研发人员：袁绩，常远，
申请(专利权)人：苏州维嘉科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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