开关切换时间测试方法、相关系统和设备及存储介质技术方案

本发明专利技术实施例提供了一种开关切换时间测试方法，包括波形发生器、反相器、示波器、开关、信号发生器、功率放大器以及检波器，该方法包括如下步骤：搭建测试系统，启动测试系统，调整测试设备，计算开关切换时间。本发明专利技术实施例还提供了一种开关切换时间测试系统、开关切换时间测试设备及计算机可读存储介质。采用本发明专利技术的技术方案的测试结构简单且易于操作。的技术方案的测试结构简单且易于操作。的技术方案的测试结构简单且易于操作。

【技术实现步骤摘要】
开关切换时间测试方法、相关系统和设备及存储介质


[0001]本专利技术涉及开关测试
，尤其涉及一种开关切换时间测试方法、开关切换时间测试系统、开关切换时间测试设备以及计算机可读存储介质。

技术介绍

[0002]随着即时通讯终端数量及音视频数据量的急速递增，对无线接入点(Access Point，简称AP)性能提出了更高要求。其中，为满足日益增长的多任务数据传输需求，低延时的任务切换尤为重要。测试开关的开关切换时间成为基本的测试需求。
[0003]目前，现有技术中，测试人员通过不同的测试设备进行测试，仪器厂商未提供成套的解决方案。如何提供一套结构简单，方便测试人员利用通用的测试设备快速对开关切换时间进行测试成为一项需要解决的技术问题。
[0004]因此，实有必要提供一种新的方法、相关系统和设备来解决上述技术问题。

技术实现思路

[0005]本专利技术的目的是克服上述技术问题，提供一种测试结构简单且易于操作的开关切换时间测试方法、开关切换时间测试设备以及计算机可读存储介质。
[0006]第一方面，本专利技术实施例提供了一种开关切换时间测试方法，提供波形发生器、反相器、示波器、开关、信号发生器、功率放大器以及检波器，该方法包括如下步骤：
[0007]搭建测试系统，将所述波形发生器的输出端分别连接至所述反相器的输入端、所述示波器的第一输入端以及所述开关的第一控制端，将所述反相器的输出端连接至所述开关的第二控制端，将所述信号发生器的输出端通过串联所述功率放大器后连接至所述开关的输入端，将所述开关的输出端连接至所述检波器的输入端，将所述检波器的输出端连接至所示波器的第二输入端；
[0008]启动测试系统，将所述波形发生器、所述反相器、所述示波器、所述开关、所述信号发生器、所述功率放大器以及所述检波器通电并设置于工作状态；
[0009]调整测试设备，将所述波形发生器调整至预设波形设置，将所述信号发生器调整至预设输出状态设置，将所述示波器调整至预设分辨读数设置；
[0010]计算开关切换时间，通过读取所述示波器显示的所述波形发生器输出的第一波形和所述检波器输出的第二波形，根据所述第一波形的其中一个周期中的高电位或低电位和与该周期内相应的所述第二波形的初始稳定状态的低电位或高电位获得开关起止时间，根据所述第二波形的高低电平翻转时间获得延时时间差，并根据所述开关起止时间和所述延时时间差计算得出所述开关切换时间，并满足如下公式：
[0011]Td＝Tosc
–
Tdet，
[0012]其中，Td为所述开关切换时间，Tosc为所述开关起止时间，Tdet 为所述延时时间差。
[0013]优选的，所述预设波形设置为所述波形发生器的输出波形设置于 100Khz的频率
和3V的幅度。
[0014]优选的，所述预设输出状态设置为所述信号发生器的输出波形设置于1Ghz的频率和
‑
10dbm的功率幅度。
[0015]优选的，所述预设输出状态设置根据所述功率放大器的属性进行相应调整。
[0016]优选的，所述预设输出状态设置为所述信号发生器的输出波形设置于5Ghz的频率和
‑
20dbm的功率幅度。
[0017]第二方面，本专利技术实施例还提供了一种开关切换时间测试系统，该系统包括测试模块和计算模块，
[0018]所述测试模块包括波形发生器、反相器、示波器、开关、信号发生器、功率放大器以及检波器；所述波形发生器的输出端分别连接至所述反相器的输入端、所述示波器的第一输入端以及所述开关的第一控制端，所述反相器的输出端连接至所述开关的第二控制端，所述信号发生器的输出端通过串联所述功率放大器后连接至所述开关的输入端，所述开关的输出端连接至所述检波器的输入端，所述检波器的输出端连接至所示波器的第二输入端；其中，所述波形发生器、所述反相器、所述示波器、所述开关、所述信号发生器、所述功率放大器以及所述检波器通电并设置于工作状态，所述波形发生器调整至预设波形设置，所述信号发生器调整至预设输出状态设置，所述示波器调整至预设分辨读数设置；
[0019]所述计算模块用于读取所述示波器显示的所述波形发生器输出的第一波形和所述检波器输出的第二波形，根据所述第一波形的其中一个周期中的高电位或低电位和与该周期内相应的所述第二波形的初始稳定状态的低电位或高电位获得开关起止时间，根据所述第二波形的高低电平翻转时间获得延时时间差，并根据所述开关起止时间和所述延时时间差计算得出所述开关切换时间，并满足如下公式：
[0020]Td＝Tosc
–
Tdet，
[0021]其中，Td为所述开关切换时间，Tosc为所述开关起止时间，Tdet 为所述延时时间差。
[0022]第三方面，本专利技术实施例还提供了一种开关切换时间测试设备，包括处理器和存储器，所述处理器用于读取所述存储器中的程序，所述处理器读取所述存储器中的程序时执行本专利技术实施例的上述的开关切换时间测试方法中的步骤。
[0023]第四方面，本专利技术实施例还提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序包括程序指令，所述程序指令被处理器执行时实现如上中任意一项所述的开关切换时间测试方法中的步骤。
[0024]与现有技术相比，本专利技术的开关切换时间测试方法通过如下步骤：搭建测试系统，启动测试系统，调整测试设备，计算开关切换时间。该步骤的实施，构建一个结构简单的测试系统，该测试系统包括波形发生器、反相器、示波器、开关、信号发生器、功率放大器以及检波器，该测试系统并未采用专业和复杂操作的测试设备，有利于测试人员进行测试和操作。更优的，测试人员在完成搭建测试系统后，只需对相关设备和器件进行通电启动，并对所述波形发生器、所述信号发生器及所述示波器进行简单调整后，读取所述示波器显示的所述波形发生器输出的第一波形和所述检波器输出的第二波形，并进行简单减法计算即可获得所述开关切换时间，整个测试过程简单并易于操作。从而使得本专利技术的开关切换时间测试方法、开关切换时间测试系统、开关切换时间测试设备以及计算机可读存储介质的测
试结构简单且易于操作。
附图说明
[0025]为了更清楚地说明本专利技术实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图，其中，
[0026]图1为本专利技术实施例提供的一种开关切换时间测试方法的流程框图；
[0027]图2为本专利技术实施例提供的一种开关切换时间测试方法的测试系统的结构示意图；
[0028]图3为图2中的波形发生器、反相器和检波器的输出波形图；
[0029]图4为本专利技术实施例提供的一种开关切换时间测试系统的模块结构框图；
[0030]图5为本专利技术实施例提供的一种开关切换时间测本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种开关切换时间测试方法，提供波形发生器、反相器、示波器、开关、信号发生器、功率放大器以及检波器，其特征在于，该方法包括如下步骤：搭建测试系统，将所述波形发生器的输出端分别连接至所述反相器的输入端、所述示波器的第一输入端以及所述开关的第一控制端，将所述反相器的输出端连接至所述开关的第二控制端，将所述信号发生器的输出端通过串联所述功率放大器后连接至所述开关的输入端，将所述开关的输出端连接至所述检波器的输入端，将所述检波器的输出端连接至所示波器的第二输入端；启动测试系统，将所述波形发生器、所述反相器、所述示波器、所述开关、所述信号发生器、所述功率放大器以及所述检波器通电并设置于工作状态；调整测试设备，将所述波形发生器调整至预设波形设置，将所述信号发生器调整至预设输出状态设置，将所述示波器调整至预设分辨读数设置；计算开关切换时间，通过读取所述示波器显示的所述波形发生器输出的第一波形和所述检波器输出的第二波形，根据所述第一波形的其中一个周期中的高电位或低电位和与该周期内相应的所述第二波形的初始稳定状态的低电位或高电位获得开关起止时间，根据所述第二波形的高低电平翻转时间获得延时时间差，并根据所述开关起止时间和所述延时时间差计算得出所述开关切换时间，并满足如下公式：Td＝Tosc
–
Tdet，其中，Td为所述开关切换时间，Tosc为所述开关起止时间，Tdet为所述延时时间差。2.根据权利要求1所述的开关切换时间测试方法，其特征在于，所述预设波形设置为所述波形发生器的输出波形设置于100Khz的频率和3V的幅度。3.根据权利要求2所述的开关切换时间测试方法，其特征在于，所述预设输出状态设置为所述信号发生器的输出波形设置于1Ghz的频率和
‑
10dbm的功率幅度。4.根据权利要求2所述的开关切换时间测试方法，其特征在于，所述预设输出状态设置根据所述功率放大器的属性进行相应调整。5.根据权利要求4所述的开关切换时间测试方法，其特征在于，所述预...

【专利技术属性】
技术研发人员：薛厚，郭嘉帅，
申请(专利权)人：深圳飞骧科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：