半导体装置及ID产生装置制造方法及图纸

本发明专利技术的半导体装置（１０）具有：根据所输入的电路动作设定数据来切换电路构成的可重构电路（１１）；预先写入电路动作设定数据的非易失性存储器（１３）；和在接通电源时向可重构电路（１１）供给由非易失性存储器（１３）装载的电路动作设定数据的寄存器（１４）。由于可重构电路（１１）的电路构成是由寄存器（１４）供给的电路动作设定数据而决定的，故不能通过所述剥离分析来分析动作。由此，可实现一种难以进行逆向工程的构成。

【技术实现步骤摘要】
半导体装置及ID产生装置
本专利技术涉及半导体装置及ID产生装置。
技术介绍
通常在移动电话机等便携式机器中，装载了向主体供给电力的蓄电池的电池组件构成为能从主体上装卸。由此，当电池劣化时，只需更换电池组件便可继续使用便携式机器。但是，由于制造这种电池组件的厂家过于追求降低成本，往往造成一些不能满足质量要求的产品。使用这样的电池组件时，存在机器无法使用，或由于发热等造成主体机器故障的危险。因此，以往为了识别所制造的电池组件是否为质量上没有问题的合格品，而在主体机器所安装的电池组件等外部机器的认证中，采用了识别信号(例如参照专利文献1)。图5是表示现有的认证系统60的整体构成图。该图示出了适用于对安装在便携式机器61(主体机器)上的电池组件62(外部机器)进行识别的系统的示例。该电池组件62相对便携式机器61是能装卸的。而且，将微处理器63安装在便携式机器61上，通过在该微处理器63与电池组件62所装载的专用LSI64之间进行数据交换，从而可进行电池组件62的识别。该认证系统60的概要说明如下：若将电池组件62安装在便携式机器61上，则为了获得用于识别电池组件62是否是合格品的识别信号(ID：Identification)，微处理器63启动认证处理部71，以使取得ID用的代码(符号列)产生。将该代码输入微处理器63的密码处理部72中。该密码处理部72通过根据所述代码通过进行所定的运算处理(密码处理)，从而使作为便携-->式机器61侧的识别信号的第1识别信号产生。另外，通过微处理器63、专用LSI64的各通信部73、74，将所述代码也输入该LSI64的密码处理部75，该密码处理部75通过根据所述代码进行所定的运算处理(密码处理)，从而使作为电池组件62侧的识别信号的第2识别信号产生。该第2识别信号通过各通信部74、73而被转送到认证处理部71。然后，在认证处理部71中，通过比较所述第1识别信号和所述第2识别信号，从而可判断从便携式机器61侧看到的电池组件62是否是合格品。[专利文献1]特开2003-162986号公报可是，通常在LSI(半导体装置)中，剥离封装的模之后，利用分析各层配线图案中的接点，边剥离上层的配线图案，边依次分析下层配线图案，最终进行晶体管级分析的所谓剥离分析，能够完全分析其电路构成。或者，在剥离封装模后，通过机械探针和使用电子束(EB：ElectronBeam)的电子探针，来分析动作状态的器件内部信号的所谓信号分析，也能够完全分析电路动作。因此，通过对所述专用LSI64(图5)实施这种剥离分析或信号分析，进行其电路构成或电路动作的分析(所谓逆向工程，reverse engineering)，从而能比较容易地获得所述识别信号。因此，在保密性方面不能满足要求。
技术实现思路
本专利技术鉴于所述实情，其目的在于，提供一种难以实现逆向工程的半导体装置及ID产生装置。为了达到所述目的，根据方案1所述的专利技术，半导体装置包括：根据输入电路动作设定数据而变换电路构成的可重构电路(reconfigurablecircuit)；可预先写入所述电路动作设定数据的非易失性存储器；和在投入电源源时将由所述非易失性存储器装载的所述电路动作设定数据提供给可重构电路的寄存器。根据该构成，可重构电路的构成由非易失性存储器内的电路动作设定数据决定。其结果，利用剥离分析不能分析可重构电路-->的动作，故可实现难以进行逆向工程的构成。根据方案2所述的专利技术，在所述寄存器内形成的信号配线中、至少在传输对该寄存器值分析重要的信号的信号配线上层，形成掩藏该信号配线的阻止探针用配线。利用该构成，通过在对信号分析重要的信号配线的上层上，形成掩藏其信号配线的阻止探针用配线，从而利用机械探针或采用EB的电子探针不能进行寄存器值分析。其结果，即使利用剥离分析，进行了可重构电路的构成分析，也可通过防止获取寄存器值，来防止分析出可重构电路的动作。故可实现更难进行逆向工程的构成。根据方案3所述的专利技术，是一种具有多层配线结构的半导体装置，其在形成信号配线的配线层中，至少在传输对电路动作分析重要的信号的信号配线上层上，形成掩藏该信号配线的阻止探针用配线。利用该构成，在对处于动作状态的电路内的信号分析重要的信号配线上层，形成掩藏该信号配线的阻止探针用配线。其结果，通过机械探针或利用EB的电子探针，不能进行信号分析，故可实现难以进行逆向工程的构成。根据方案4所述的专利技术，所述阻止探针用配线由电源配线所形成的配线层同层的配线形成。利用该构成，在剥离阻止探针用配线时，电源配线也被一起剥离。因此，可实现阻止信号分析，使逆向工程更困难的构成。根据方案5所述的专利技术，利用方案1或2所述的半导体装置构成ID产生装置，在所述可重构电路中具备：根据所定的密码处理，而产生对装设于主体机器中的外部机器的认证所必需的识别信号的功能。利用该构成，通过使用难以进行逆向工程的半导体装置来构成ID产生装置，从而可以实现保密性高的ID产生装置。根据本专利技术，能防止配线的剥离分析或利用探针的信号分析，可以提供难以进行逆向工程的半导体装置及ID产生装置。附图说明图1是表示一种实施方式的半导体装置的概略构成的框图。图2是表示可重构单元的一构成示例的简要电路框图。图3(a)是表示构成寄存器的倒相电路的部分配线图案的说明图，(b)是表示形成了探针阻止用配线的配线图案的说明图。-->图4是表示将同实施方式的半导体装置适用于认证系统的ID产生装置的一示例的说明图。图5是表示现有的认证系统的概略的整体构成图。图中：10-半导体装置，11-可重构电路，13-非易失性存储器，14-寄存器，33a、33b-作为信号配线的第2层配线，34a、34b-作为电源配线的第3层配线，34c-作为探针阻止用配线的第3层配线，41-作为主体机器的便携式机器，42-作为外部机器的电池组件，44、45-作为ID产生装置的专用LSI(第1及第2LSI)。具体实施方式下面，参照附图，对将本专利技术具体化的半导体装置的一实施方式进行说明。图1是本实施方式的半导体装置10的概略构成的框图。该半导体装置10具备：可重构电路11、上电启动(power on boot)电路(以下简称“启动电路”)12、非易失性存储器13以及寄存器14，这些形成在同一芯片内。所述可重构电路11由分别独立地进行动作控制(编程)的多个可重构电路21(参照图2)构成。因此，可重构电路11根据由各可重构电路21设定的组合逻辑，来切换电路构成。在所述非易失性存储器13中，根据用所述可重构电路11而实现的功能，预先写入用来设定各可重构单元21的组合逻辑的电路动作设定数据。该电路动作设定数据，在装置(半导体装置10)接通电源时，随着由启动电路12实施的初始启动动作，而装载到寄存器14后，从该寄存器14提供给可重构电路11。因此，可重构电路11根据经寄存器14输入的非易失性存储器13内的电路动作设定数据，切换对应于该电路实现的功能的电路构成。由此，可重构电路11相对来自外部输入(输入信号IN)，进行对应于此时刻的电路构成的输出(输出信号OUT)。在此，根据图2，对构成可重构电路11的各单元(可重构单元21)的一构成示例进行说明。-->如该图所示，可重构单元21备有：实现组合逻辑的本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种半导体装置，其特征在于，包括：根据所输入的电路动作设定数据来切换电路构成的可重构电路；预先写入所述电路动作设定数据的非易失性存储器；和当接通电源时，向可重构电路供给由所述非易失性存储器装载的所述电路动作设定数据的 寄存器。

【技术特征摘要】
JP 2003-8-26 2003-3015261.一种半导体装置，其特征在于，包括：根据所输入的电路动作设定数据来切换电路构成的可重构电路；预先写入所述电路动作设定数据的非易失性存储器；和当接通电源时，向可重构电路供给由所述非易失性存储器装载的所述电路动作设定数据的寄存器。2.如权利要求1所述的半导体装置，其特征在于，在所述寄存器内形成的信号配线中、至少在传输对分析该寄存器值重要的信号的信号配线的上层上，形成掩藏该信号配线的阻...

【专利技术属性】
技术研发人员：大久保健一，野田笃，
申请(专利权)人：三洋电机株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]