一种异形双头大电流测试探针制造技术

本实用新型专利技术涉及一种异形双头大电流测试探针，包括弹簧、轴芯，和滑动套设在轴芯一端上的轴芯管；弹簧的一端套设在轴芯上，另一端套设在轴芯管上，轴芯和轴芯管相背离的一端均设有弹簧止位件，轴芯和轴芯管相背离的一端上分别设有第一针头和第二针头，第二针头与轴芯管可拆卸连接；整体结构简单，电导接触优良，可承载大电流，通过轴芯和轴芯管的配合杜绝了传统探针过大电流时弹簧易烧毁的情况，同时对于轴芯和轴芯管的加工精度和难度都得到了保障，降低了加工的难度，进一步提升了产品的生产效率，此外，可拆卸设置的针头可以适配不同应用场合，灵活性和适应性极高。灵活性和适应性极高。灵活性和适应性极高。

【技术实现步骤摘要】
一种异形双头大电流测试探针


[0001]本技术涉及电子元件
，特别涉及一种异形双头大电流测试探针。

技术介绍

[0002]测试探针是一种高端精密链接器件，广泛应用于测试PCB线路板、FPC(印刷电路)，其主要作为起连接作用的精密探针使用，目前已广泛应用于手机、汽车、医疗以及航天航空等

[0003]使用时，测试探针安装于测试治具上，测试探针的一端连接输出端(输出端指电压、频率等)，测试探针的另外一端则连接被测试元件，方可进行测试。测试过程中对测试探针的要求极高，但是现有的探针设计对过电压和频率输出有限，电压增大就会造成测试探针的内部零件烧坏现象，而且结构不易加工，工艺难度很大，导致探针的生产效率和精度控制得不到保证，另外在适应性和灵活性上也满足不了生产日常需求，故而，本技术提出一种异形双头大电流测试探针以解决上述问题。

技术实现思路

[0004]本技术的目的在于针对现有技术的不足，提供一种异形双头大电流测试探针,该异形双头大电流测试探针可以很好地解决上述问题。
[0005]为达到上述要求本技术解决其技术问题所采用的技术方案是：
[0006]提供一种异形双头大电流测试探针，包括弹簧、轴芯，和滑动套设在所述轴芯一端上的轴芯管；所述弹簧的一端套设在所述轴芯上，另一端套设在所述轴芯管上，所述轴芯和所述轴芯管相背离的一端均设有弹簧止位件，所述轴芯和所述轴芯管相背离的一端上分别设有第一针头和第二针头，所述第二针头与所述轴芯管可拆卸连接。
[0007]本技术所述的异形双头大电流测试探针，其中，所述轴芯管背离所述轴芯的一端设有针头座，所述第二针头具有探测端和插接端，所述针头座上设有配合所述插接端的插槽，所述插接端的侧壁上设有定位槽，所述插槽的内壁上设有配合所述定位槽的定位凸起。
[0008]本技术所述的异形双头大电流测试探针，其中，所述针头座形成与所述轴芯管相接的所述弹簧止位件，所述针头座与所述轴芯管一体设置，所述插槽连通所述轴芯管的内腔。
[0009]本技术所述的异形双头大电流测试探针，其中，所述针头座的外侧壁上对应所述定位凸起设有挤压位。
[0010]本技术所述的异形双头大电流测试探针，其中，所述定位槽呈环形。
[0011]本技术所述的异形双头大电流测试探针，其中，所述第一针头背离所述弹簧的一端成型有尖端。
[0012]本技术所述的异形双头大电流测试探针，其中，当所述弹簧处于自然状态时，所述轴芯插接于所述轴芯管内。
[0013]本技术所述的异形双头大电流测试探针，其中，装配到位时，所述轴芯与所述轴芯管的内壁紧密配合。
[0014]本技术所述的异形双头大电流测试探针，其中，第二针头背离所述弹簧的一端成型有光滑半球面。
[0015]本技术的有益效果在于：本技术公开一种异形双头大电流测试探针，该探针的整体结构简单，电导接触优良，可承载大电流，通过轴芯和轴芯管的配合杜绝了传统探针过大电流时弹簧易烧毁的情况，长久使用依然不会造成配合的部件松散松动，相比较传统探针寿命更长，同时简单的结构设计使轴芯和轴芯管的加工精度和难度都得到了保障，降低了加工的难度，进一步提升了产品的生产效率，此外，可拆卸设置的针头可以适配不同应用场合，灵活性和适应性极高。
附图说明
[0016]为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将结合附图及实施例对本技术作进一步说明，下面描述中的附图仅仅是本技术的部分实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他附图：
[0017]图1是本技术异形双头大电流测试探针的整体结构图。
[0018]图2是本技术异形双头大电流测试探针的爆炸状态图。
[0019]图3是本技术异形双头大电流测试探针的另一视角图。
具体实施方式
[0020]为了使本技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整的描述，显然，所描述的实施例是本技术的部分实施例，而不是全部实施例。基于本技术的实施例，本领域普通技术人员在没有付出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术的保护范围。
[0021]本技术较佳实施例的异形双头大电流测试探针，如图1
‑
3所示，包括弹簧1、轴芯2，和滑动套设在轴芯2一端上的轴芯管3；弹簧1的一端套设在轴芯2上，另一端套设在轴芯管3上，轴芯2和轴芯管3相背离的一端均设有弹簧止位件4，轴芯2和轴芯管3相背离的一端上分别设有第一针头5和第二针头6，第二针头6与轴芯管3可拆卸连接，本技术公开了一种异形双头大电流测试探针，其整体结构简单，电导接触优良，可承载大电流，通过轴芯2和轴芯管3的配合杜绝了传统探针过大电流时弹簧1易烧毁的情况，长久使用依然不会造成配合部件的松散或松动，相比较传统探针寿命更长，同时简单的结构设计使轴芯2和轴芯管3的加工精度和难度都得到了保障，降低了加工的难度，进一步提升了产品的生产效率以及降低了一定的生产成本，而且，可拆卸设置的针头可以适配不同应用场合，灵活性和适应性极高。
[0022]优选的，轴芯管3背离轴芯2的一端设有针头座7，针头座7呈圆柱结构，第二针头6具有探测端61和插接端62，针头座7上设有配合插接端62的插槽8，以方便固定第二针头6，具体的，探测端61的外径大于插槽8的内径，以起到在使用过程中防止第二针头6被抵进插槽8内的作用，插接端62的侧壁上设有定位槽9，插槽8的内壁上设有配合定位槽9的定位凸
起10，以防止第二针头6脱出插槽8。
[0023]优选的，针头座7形成与轴芯管3相接的弹簧止位件4，以起到缩小这个题体积的目的，避免设置过多的结构增加成本、体积等，针头座7与轴芯管3一体设置，方便制造，插槽8连通轴芯管3的内腔31，该设计可方便开模，同时还可以减轻重量，节省一定的材料。
[0024]具体的，弹簧止位件4和第二针头6均呈圆柱体结构，第一针头5呈扁平状。
[0025]优选的，针头座7的外侧壁上对应定位凸起10设有挤压位11，以方便用于冲压床或者挤压治具上进行加压变形。
[0026]优选的，定位槽9呈环形，可方便第二针头6旋转，以适配不同的应用场合，其中，定位凸起10可以是环形的，也可以是点状凸起，当定位凸起10为点状凸起结构时，至少设有两个且相对排布，以保证第二针头6受力均匀。
[0027]优选的，第一针头5背离弹簧1的一端成型有尖端12，以方便刺破待检测物件表面的氧化层。
[0028]优选的，当弹簧1处于自然状态时，轴芯2插接于轴芯管3内，以防止轴芯2和轴芯管3脱离。
[0029]优选的，装配到位时，轴芯2与轴芯管3的内壁紧密配合，进一步提升电导接触良率，防止使用过程中产生局部升温的情况。
[0030]优选的，第二针头6背离弹簧1本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种异形双头大电流测试探针，其特征在于，包括弹簧、轴芯，和滑动套设在所述轴芯一端上的轴芯管；所述弹簧的一端套设在所述轴芯上，另一端套设在所述轴芯管上，所述轴芯和所述轴芯管相背离的一端均设有弹簧止位件，所述轴芯和所述轴芯管相背离的一端上分别设有第一针头和第二针头，所述第二针头与所述轴芯管可拆卸连接。2.根据权利要求1所述的异形双头大电流测试探针，其特征在于，所述轴芯管背离所述轴芯的一端设有针头座，所述第二针头具有探测端和插接端，所述针头座上设有配合所述插接端的插槽，所述插接端的侧壁上设有定位槽，所述插槽的内壁上设有配合所述定位槽的定位凸起。3.根据权利要求2所述的异形双头大电流测试探针，其特征在于，所述针头座形成与所述轴芯管相接的所述弹簧止位件，所述针头座与所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：龚坚，李军，
申请(专利权)人：深圳市美锐精密电子有限公司，
类型：新型
国别省市：