一种W波段信号测试方法技术

本发明专利技术公开了一种W波段信号测试方法，涉及微波信号测量领域。一种W波段信号测试方法，包括：将被测件连接在两个能够兼容拓展的变频模块之间，两个变频模块包括第一变频模块和第二变频模块；第一变频模块作为发射端向被测件发射W波段测试信号，第二变频模块作为接收端接收经过被测件后的W波段测试信号；分析设备通过对经过被测件前后的W波段测试信号进行分析计算，以获取被测件的特征参数。本发明专利技术所描述的W波段信号测试方法，通过在收发端分别增加可兼容拓展的变频模块，将W波段的信号测试转换为X波段的信号测试，降低了测试仪器的频率、功率需求，提升了测试过程的灵活性、便利性。性。性。

【技术实现步骤摘要】
一种W波段信号测试方法


[0001]本专利技术涉及微波信号测量
，具体涉及一种W波段信号测试方法。

技术介绍

[0002]针对W波段信号的测试，现有的测试方法主要有使用高端仪器直接测量的方式，以及使用扩频组件先倍频再分频，将W波段信号转换至低频段进行测试，或是采用W波段混频模块辅助进行测试三种方法。
[0003]若采用高端仪器直接测量的方式，仪器及线缆成本极高，且不便于搬动。若采用W波段的扩频组件，通过矢量网络分析仪级联上扩频组件来实现被测件的测量，扩频组件输出功率偏高(8～9dBm左右)且不可调，适应性差，难以适应不同的测试工件。

技术实现思路

[0004]为克服上述问题或部分解决上述问题，本专利技术的目的在于提供一种W波段信号测试方法，以提高测试的灵活性和适应性。
[0005]本专利技术通过下述技术方案实现：
[0006]本专利技术实施例提供一种W波段信号测试方法，包括：
[0007]S101、将被测件连接在两个能够兼容拓展的变频模块之间，上述两个变频模块包括第一变频模块和第二变频模块；S102、上述第一变频模块作为发射端向上述被测件发射W波段测试信号，上述第二变频模块作为接收端接收经过被测件后的W波段测试信号；S103、分析设备通过对经过被测件前后的W波段测试信号进行分析计算，以获取被测件的特征参数。
[0008]在本专利技术一些实施例中，上述变频模块内置微波PCB板，上述微波PCB板上设有混频器U2和倍频器U3，上述倍频器U3的输出端与上述混频器U2的本振信号端连接，上述倍频器U3的输入端串接衰减器U4后与本振输入接口连接；依据上述混频器U2的中频信号端及射频信号端串接元件的差异，将上述变频模块分为三种类型，分别为：Ⅰ型变频模块：上述混频器U2的中频信号端串接衰减器U5后与中频输入/出接口连接，上述混频器的射频信号端串接石英探针B1后与波导口连接；Ⅱ型变频模块：上述混频器U2的中频信号端依次串接衰减器U5、中频放大器芯片U6后与中频输入/出接口连接，上述混频器的射频信号端依次串接W波段功放芯片U1、石英探针B1后与波导口连接；Ⅲ型变频模块：上述混频器U2的中频信号端依次串接衰减器U5、中频放大器芯片U6后与中频输入/出接口连接，上述混频器的射频信号端依次串接W波段低噪放芯片U1＇、石英探针B1后与波导口连接。
[0009]在本专利技术一些实施例中，在常规的W波段测试中，第一变频模块和第二变频模块直接连接在被测件的两端，利用矢量网络分析仪分别向第一变频模块和第二变频模块提供本振信号，并利用上述矢量网络分析仪的S参数测量功能实现对被测件传输参数的测量。
[0010]在本专利技术一些实施例中，上述第一变频模块及上述第二变频模块均为上述Ⅰ型变频模块。
[0011]在本专利技术一些实施例中，在暗室测试环境下，进行被测件的发射特性测量时，第一变频模块直接与被测件的输入端连接，第二变频模块与标准增益喇叭连接；所述标准增益喇叭隔空接收由所述被测件发出的信号并将接收到的信号馈入所述第二变频模块；利用矢量网络分析仪为上述第一变频模块及第二变频模块提供本振信号和中频信号；第一变频模块馈入被测件的输入功率低于
‑
10dBm。
[0012]在本专利技术一些实施例中，若被测件为高增益的发射组件，则第一变频模块为Ⅰ型变频模块，否则为Ⅱ型变频模块；第二变频模块为Ⅲ型变频模块。
[0013]在本专利技术一些实施例中，在暗室测试环境下，进行被测件的接收特性测量时，第一变频模块与标准增益喇叭连接，上述第一变频模块发出的信号经上述标准增益喇叭隔空馈入上述被测件的输入端，上述被测件的输出端直接与上述第一变频模块连接；利用矢量网络分析仪为上述第一变频模块及第二变频模块提供本振信号和中频信号；第一变频模块馈入标准增益喇叭的输入功率等于15dBm。
[0014]在本专利技术一些实施例中，上述第一变频模块为Ⅱ型变频模块，第二变频模块为Ⅲ型变频模块。
[0015]在本专利技术一些实施例中，在外场测试环境下，进行被测件的特性测量时，第一变频模块与标准增益喇叭连接，上述第一变频模块发出的信号经上述标准增益喇叭隔空馈入所述被测件的输入端，所述被测件的输出端通过低噪声放大器与所述第二变频模块连接；利用第一手持式信号源和第二手持式信号源分别为所述第一变频模块提供本振信号和中频信号，利用第三手持式信号源为所述第二变频模块提供本振信号，利用所述手持式频谱仪接收由所述第二变频模块输出的信号。
[0016]在本专利技术一些实施例中，上述第一变频模块为Ⅱ型变频模块，第二变频模块为Ⅲ型变频模块。
[0017]本专利技术与现有技术相比，至少具有如下的优点和有益效果：
[0018]本专利技术所描述的W波段信号测试方法，通过在收发端分别增加可兼容拓展的变频模块，将W波段的信号测试转换为X波段的信号测试，降低了测试仪器的频率、功率需求。集成变频模块的测试系统呈线性特性，中频端口功率可视需求进行调整。变频模块具备可拓展性，在不更换屏蔽腔结构和驱动电源板的情况下，可从上下变频模块拓展成高发射功率上变频模块，或是拓展成高接收增益低噪声下变频模块，以根据测试需求搭建不同的测试环境。测试系统零件少，搭建便捷，同时可与手持式设备一起方便的搭建外场测试环境，变频模块功耗较低也能保证在移动电源供电的情况下长时间工作。变频模块尺寸小，集成功能全面，可在较少附加配件的情况下完成测试。
附图说明
[0019]为了更清楚地说明本专利技术示例性实施方式的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本专利技术的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。在附图中：
[0020]图1为一种W波段信号测试方法一实施例的流程示意图；
[0021]图2为变频模块的原理示意图；
[0022]图3为常规W波段测试时各器件连接示意图；
[0023]图4为暗室测试环境下被测件的发射特性测试时各器件连接示意图；
[0024]图5为暗室测试环境下被测件的接收特性测试时各器件连接示意图；
[0025]图6为外场测试环境下被测件的特性测试时各器件连接示意图。
具体实施方式
[0026]为使本专利技术的目的、技术方案和优点更加清楚明白，下面结合实施例和附图，对本专利技术作进一步的详细说明，本专利技术的示意性实施方式及其说明仅用于解释本专利技术，并不作为对本专利技术的限定。
[0027]需要说明的是，在本专利技术的描述中，出现的术语“第一”、“第二”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
[0028]实施例1
[0029]请参照图1和图2，在本专利技术实施例提供一种W波段信号测试方法，
[0030]S101、将被测件连接在两个能够兼容拓展的变频模块之间，上述两个变频模块包括第一变频模块和第二变频模块；
[0031]现有的采用W波段的扩频组件，通过矢量网络本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种W波段信号测试方法，其特征在于，包括：将被测件连接在两个能够兼容拓展的变频模块之间，两个变频模块包括第一变频模块和第二变频模块；所述第一变频模块作为发射端向所述被测件发射W波段测试信号，所述第二变频模块作为接收端接收经过被测件后的W波段测试信号；分析设备通过对经过被测件前后的W波段测试信号进行分析计算，以获取被测件的特征参数。2.根据权利要求1所述的W波段信号测试方法，其特征在于，所述变频模块内置微波PCB板，所述微波PCB板上设有混频器U2和倍频器U3，所述倍频器U3的输出端与所述混频器U2的本振信号端连接，所述倍频器U3的输入端串接衰减器U4后与本振输入接口连接；依据所述混频器U2的中频信号端及射频信号端串接元件的差异，将所述变频模块分为三种类型，分别为：Ⅰ型变频模块：所述混频器U2的中频信号端串接衰减器U5后与中频输入/出接口连接，所述混频器的射频信号端串接石英探针B1后与波导口连接；Ⅱ型变频模块：所述混频器U2的中频信号端依次串接衰减器U5、中频放大器芯片U6后与中频输入/出接口连接，所述混频器的射频信号端依次串接W波段功放芯片U1、石英探针B1后与波导口连接；Ⅲ型变频模块：所述混频器U2的中频信号端依次串接衰减器U5、中频放大器芯片U6后与中频输入/出接口连接，所述混频器的射频信号端依次串接W波段低噪放芯片U1＇、石英探针B1后与波导口连接。3.根据权利要求2所述的W波段信号测试方法，其特征在于，在常规的W波段测试中，第一变频模块和第二变频模块直接连接在被测件的两端，利用矢量网络分析仪分别向第一变频模块和第二变频模块提供本振信号，并利用所述矢量网络分析仪的S参数测量功能实现对被测件传输参数的测量。4.根据权利要求3所述的W波段信号测试方法，其特征在于，所述第一变频模块及所述第二变频模块均为所述Ⅰ型变频模块。5.根据权利要求2所述的W波段信号测试方法，其特征在于...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘益萍，管玉静，李灿，
申请(专利权)人：北京天地一格科技有限公司，
类型：发明
国别省市：