一种半导体绝缘测试治具制造技术

本实用新型专利技术适用于半导体测试技术领域，提供了一种半导体绝缘测试治具，包括框体、探针、升降机构、夹持机构和调节机构，所述升降机构滑动安装于框体上，与所述夹持机构滑动连接，且所述升降机构工作时调节夹持机构的位置；所述夹持机构与框体侧壁滑动连接，用于对不同类型的半导体元件进行固定，以便快速更换元件；所述调节机构安装于框体的内壁上，用以调节探针的位置，本测试治具在半导体绝缘测试的过程中定位简单，能够快速完成多种半导体元件的更换工作，从而提高测试效率，并通过推动元件的移动方式替代探针的升降，能够有效避免测试过程中对元件造成的损坏。程中对元件造成的损坏。程中对元件造成的损坏。

【技术实现步骤摘要】
一种半导体绝缘测试治具


[0001]本技术属于半导体测试
，尤其涉及一种半导体绝缘测试治具。

技术介绍

[0002]半导体常温下的导电性能介于导体与绝缘体之间，在集成电路、消费电子、通讯系统、光伏发电、照明、大功率电源转换等领域都有应用，对科技或经济发展具有重要意义。半导体元件在投入使用之前需要进行测试，目前的测试治具通常在抽拉过程中完成对元件的更换工作，探针下降与之接触进行测试，存在更换时间长测试时间相对短以及容易损坏元件的情况。

技术实现思路

[0003]本技术实施例的目的在于提供一种半导体绝缘测试治具，旨在解决现有的治具不便于快速更换半导体元件及测试过程中对元件造成损坏的技术问题。
[0004]本技术实施例是这样实现的，包括框体和探针，还包括：
[0005]升降机构，所述升降机构滑动安装于框体上，与所述夹持机构滑动连接，且所述升降机构工作时调节夹持机构的位置；
[0006]夹持机构，所述夹持机构与框体侧壁滑动连接，用于对不同类型的半导体元件进行固定，以便快速更换元件；以及/>[0007]调节本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种半导体绝缘测试治具，包括框体和探针，其特征在于，还包括：升降机构，所述升降机构滑动安装于框体上，与夹持机构滑动连接，且所述升降机构工作时调节夹持机构的位置；夹持机构，所述夹持机构与框体侧壁滑动连接，用于对不同类型的半导体元件进行固定，以便快速更换元件；以及调节机构，所述调节机构安装于框体的内壁上，用以调节探针的位置。2.根据权利要求1所述的半导体绝缘测试治具，其特征在于，所述升降机构包括驱动组件和执行组件；所述驱动组件包括伸缩件、设置于伸缩件顶端的限位杆、以及与所述限位杆滑动连接的活动板；所述伸缩件的一端与框体固定连接，另一端与安装架铰接，且所述安装架与限位杆铰接；所述活动板转动安装于所述框体上，其侧面设置有齿并与执行组件啮合。3.根据权利要求2所述的半导体绝缘测试治具，其特征在于，所述执行组件包括齿板；所述齿板的底端与框体以及框体底部的支座在高度方向滑动连接；所述齿板的顶端与夹持...

【专利技术属性】
技术研发人员：魏明宇，金飞，
申请(专利权)人：徐州汉通电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：