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本实用新型适用于半导体测试技术领域，提供了一种半导体绝缘测试治具，包括框体、探针、升降机构、夹持机构和调节机构，所述升降机构滑动安装于框体上，与所述夹持机构滑动连接，且所述升降机构工作时调节夹持机构的位置；所述夹持机构与框体侧壁滑动连接，用...
该专利属于徐州汉通电子科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过徐州汉通电子科技有限公司授权不得商用。

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