本实用新型专利技术提供了一种IC卡芯片自动检测装置，包括到位检测装置、次品芯片检测装置、读写性能检测装置和打标装置，芯片读写性能检测装置包括往复运动驱动机构和芯片读写检测头，往复运动驱动机构的一端安装所述芯片读写检测头。IC卡芯片自动检测装置对芯片料带边缘的孔和芯片中的孔进行检测，对有问题的芯片进行激光标记。本实用新型专利技术具有较高的自动化程度，节省空间，对芯片能够自动检测和计数且能够进行个性化标记，可广泛地在IC卡生产企业中应用。用。用。
【技术实现步骤摘要】
一种IC卡芯片自动检测装置
[0001]本技术涉及一种IC卡芯片检测领域，具体为一种能进行全自动IC卡芯片读写检测、料带分段计数并个性化标记的装置。
技术介绍
[0002]二代身份证，公交一卡通等都是非接触IC卡，非接触式IC卡由IC芯片、感应天线组成，非接触性IC卡与读卡器之间通过无线电波来完成读写操作。非接触性IC卡本身是无源卡，当读写器对卡进行读写操作时，读写器发出的信号由两部分叠加组成：一部分是电源信号，该信号由感应线圈接收后，感应线圈产生一个瞬间能量来供给芯片工作。另一部分则是指令和数据信号，指挥芯片完成数据的读取、修改、储存等，并返回信号给读写器,完成一次读写操作。
[0003]IC卡生产企业需要向各大芯片厂商采购IC卡芯片，IC卡芯片多以料盘形式保存，将多个IC卡芯片固定在料盘的料带上，料带上的每个IC芯片都需要进行检验，检测为不良产品的IC芯片，会在不良IC芯片上开设标记孔，例如CN102773878A。目前大部分IC卡企业在收到芯片料盘以后采用人工方式清点IC卡芯片数量，通过人工肉眼观察标记孔识别出不良IC芯片，这种清点方式效率慢，识别效率低，并且无法检测芯片是否读写性能正常，当后续IC卡封装工序出现问题时不方便进行芯片读写损坏原因的追溯，容易产生纠纷。现有技术中也有少量检测装置，但已有的检测装置仅能进行一种或两种检测步骤，且装置存在检测效率低、自动化程度不够高、空间布局不够合理等问题。
技术实现思路
[0004]本技术要解决的技术问题在于克服现有技术中的检测效率低、检测功能少、自动化程度不够高、空间布局不够合理等问题。
[0005]本技术的目的在于提供一种自动进行芯片检测的装置，对合格的芯片和不合格的芯片进行分辨，该装置还可以进行读写性能检测、标记，具有噪音小、结构紧凑、方便调整的特点。
[0006]本技术提供如下技术方案：一种IC卡芯片自动检测装置，包括检测轨道，检测轨道具有用于容纳芯片通过的工位通道，IC卡芯片自动检测装置包括到位检测装置和次品芯片检测装置，IC卡芯片自动检测装置还包括芯片读写性能检测装置、和/或打标装置；所述到位检测装置和次品芯片检测装置均设置于检测轨道，所述芯片读写性能检测装置和/或打标装置设置于检测轨道。
[0007]其中，工位通道可以具有底部和侧壁，也可以仅具备有底部，可以无传送带，也可以有传送带，可以检测来自料盘的置于料带的芯片，也可以是单独被载送的芯片，例如采用吸取装置将芯片从盘式载运装置中吸取后放置于工位通道的传送带上。其中的次品芯片检测装置可以进行打孔检测，也可以进行其他功能检测或者兼有其他功能的检测，例如外观检测等。打标装置可以是本技术实施方式中的激光打标机，也可以是其它打标装置比
如印刷等。到位检测装置可以是本技术实施方式中的检测料带边缘的孔的到位检测也可以是其他到位检测装置，例如红外、紫外或者其他装置。到位检测装置可以有计数功能，也可以不具有,可以根据本领域技术人员的需要进行选择。其中读写性能检测装置的读写原理可以采用本技术实施例中的读写性能检测装置的原理也可以是其它读写装置的读写原理以适应不同的IC卡芯片。IC卡芯片自动检测装置可以设置打标装置，也可以不设置打标装置，例如将结果一一对应的被另设的控制系统中的程序记录。
[0008]本技术中的打孔检测和读写检测不是简单的叠加，而是通过一个检测轨道进行结合，检测时间和芯片前进的时间通过另设的控制系统进行协调，并且将多个检测置于一套装置中，更方便使用一个控制系统进行多个检测结果的统一记录或标记，便于后续的追溯。
[0009]优选的，所述芯片读写性能检测装置包括往复运动驱动机构和芯片读写检测头，往复运动驱动机构的一端安装所述芯片读写检测头，所述芯片读写性能检测装置包括感应线圈和读卡器，所述芯片读写检测头连接感应线圈，读卡器对感应线圈感应。
[0010]与线圈连接的读写性能检测装置可以包括本技术具体实施方式中的探针，也可以是本领域的其它读写检测装置。
[0011]优选的，所述芯片读写检测头包括探针，所述探针有一组或多组，每一组包括两根或多根探针，探针与感应线圈相连，感应线圈置于读卡器上侧，所述读卡器根据检测需求设置一个或多个相同的读卡器或者是多个不同的读卡器，往复运动驱动机构是电磁铁驱动组件、液压组件、气缸或其它驱动装置，所述读卡器可拆卸的放置在检测轨道外部或插设于检测轨道内部。所述感应线圈设置一个或多个相同的感应线圈或者是多个不同的感应线圈。
[0012]其中，读卡器进行位置的灵活设置可以便于配置各种读卡器、节省空间，当需要根据芯片的类型更换对应的读卡器时，可以实现快速的操作。采用探针式的芯片读写检测头即可以节省空间，也可以方便布置多组检测，还可以节省装置自身的重量，能够实现快速、精确、便捷的检测。
[0013]优选的，芯片读写性能检测装置包括芯片读写辊，所述芯片读写辊上设置有检测导体，所述检测导体包括环形结构，环形结构分布有齿或针或凸点。
[0014]优选的，芯片读写性能检测装置包括探针，探针与芯片读写辊上的检测导体连接。
[0015]优选的，芯片读写辊还包括辊筒、料带定位环和轴，辊筒两侧分别安装料带定位环，轴穿过辊通，轴的两端安装在第一侧支架和第二侧支架上，辊筒上安装所述环形结构。
[0016]优选的，探针安装在探针底座，芯片读写辊安装于读写辊支撑件，读写辊支撑件包括第一侧支架和第二侧支架，所述探针底座与第一侧支架和第二侧支架的上部连接。
[0017]优选的，检测轨道两端分别设置导向辊，所述导向辊通过支架固定于检测轨道，所述芯片设置于芯片料带上，所述料带从导向辊下方通过。
[0018]利用导向辊的滚动代替摩擦，降低噪音且提高了传送的稳定性。选择芯片料带检测时，便于芯片的放料和收料，有效提高检测效率。
[0019]优选的，所述芯片到位检测装置包括芯片位置检测传感器和第一支架，芯片位置检测传感器为对射传感器，芯片位置检测传感器的第一光线接收端通过第一支架安装于检测轨道，所述工位通道设置凹槽，用于放置芯片位置检测传感器光源发射端，所述芯片位置检测传感器检测料带边缘的孔并进行计数。
[0020]在现有技术中，有些装置使用步进电机的齿轮带动料带边缘的孔前进，进而带动料带向检测工位前进，这种方式使得检测装置结构更复杂。本技术通过到位检测装置检测料带边缘的孔，采用光线传感器检测并通过控制系统进行反馈，使驱动装置位置选择更灵活，检测轨道中的料带能够平整稳定地前进，并且减少了对料带外观的影响。该孔可以是具体实施方式中的方孔，也可以是其它常规形状或者特殊形状的孔。其中，计数可以记孔数，也可以按照芯片的数目进行计数。
[0021]优选的，次品芯片检测光线传感器为对射传感器，次品检测光线传感器的第二光线接收端通过第二支架安装于检测轨道，次品芯片检测光线传感器的光源发射端设置于工位通道的另一凹槽，所述次品芯片检测装置检测芯片上的孔。
[0022]将光本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种IC卡芯片自动检测装置，包括检测轨道(11)，检测轨道(11)具有用于芯片通过的工位通道(12)，其特征在于：IC卡芯片自动检测装置包括到位检测装置(3)和次品芯片检测装置(4)，IC卡芯片自动检测装置还包括芯片读写性能检测装置(5)和/或打标装置(6)；所述到位检测装置(3)和次品芯片检测装置(4)均设置于检测轨道(11)，所述芯片读写性能检测装置(5)和/或打标装置设置于检测轨道(11)。2.根据权利要求1所述的IC卡芯片自动检测装置，其特征在于：所述芯片读写性能检测装置(5)包括往复运动驱动机构(51)和芯片读写检测头(52)，往复运动驱动机构(51)的一端安装所述芯片读写检测头(52)；所述芯片读写性能检测装置(5)包括感应线圈和读卡器，所述芯片读写检测头(52)连接感应线圈，读卡器对感应线圈感应。3.根据权利要求2所述的IC卡芯片自动检测装置，其特征在于：所述芯片读写检测头(52)包括探针，所述探针有一组或多组，每一组包括两根或多根探针，探针与感应线圈相连，感应线圈置于读卡器(53)上侧，所述读卡器(53)设置一个或多个相同的或者是多个不同的，所述感应线圈设置一个或多个相同或者是多个不同的，往复运动驱动机构(51)是电磁铁驱动组件、液压组件、气缸或其它驱动装置，所述读卡器可拆卸的放置在检测轨道外部或插设于检测轨道内部。4.根据权利要求1所述的IC卡芯片自动检测装置，其特征在于：芯片读写性能检测装置包括芯片读写辊，所述芯片读写辊上设置有检测导体，所述检测导体包括环形结构(561，562，563，564，565，566)，环形结构分布有齿或针或凸点。5.根据权利要求4所述的IC卡芯片自动检测装置，其特征在于：芯片读写性能检测装置包括探针，探针与芯片读写辊上的检测导体连接。6.根据权利要求5所述的IC卡芯片自动检测装置，其特征在于：芯片读写辊还包括辊筒(58)、料带定位环和轴(551，552)，辊筒(58)两侧分别安装料带定位环，轴(593)穿过辊筒(58)，轴(593)的两端安装在第一侧支架(591)和第二侧支架(592)上，辊筒(58)上安装所述环形结构(561，562，563，564，565，56...
【专利技术属性】
技术研发人员：刘志明，孟红亮，曹小虎，刘健康，王永捷，王桂贺，彭明振，
申请(专利权)人：北京金辰西维科安全印务有限公司，
类型：新型
国别省市：
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