一种传感器芯片位置间接检查装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术提供一种传感器芯片位置间接检查装置，包括：安装治具、传感器供电及负载模块、传感器相位采集和处理模块、芯片位置检查模块、传感器激励模块、供电模块；其中，所述安装治具上设置有多个安装位置；所述传感器供电及负载模块电性连接待测传感器；所述传感器相位采集和处理模块分别电性连接所述传感器和所述芯片位置检查模块；所述传感器激励模块电性连接所述芯片位置检查模块，所述传感器激励模块包含传感器目标轮及驱动系统；所述供电模块分别与上述各模块电性连接。本实用新型专利技术的传感器芯片位置间接检查装置，不需要物理切割传感器，不会造成损伤和浪费，且安装检测简便快速，能有效地检测出芯片是否发生了偏移或倾斜。斜。斜。

【技术实现步骤摘要】
一种传感器芯片位置间接检查装置


[0001]本技术属于产品检测与测试
，尤其涉及一种传感器芯片位置间接检查装置。

技术介绍

[0002]传感器尤其是引擎传感器等在设计、生产及其验证过程中，需要检查芯片位置。任何芯片的偏移或倾斜，都会导致传感器检测信号的相位角度发生偏移，进而导致测量准确性降低。以往传感器芯片位置的检查，采用物理切割的方法，检查成本高、方法复杂、检查速度慢，且必须损伤传感器，该方法易造成产品浪费。

技术实现思路

[0003]本技术为了克服现有技术中的不足，提供一种成本低、方法简单、速度快且不破坏传感器的芯片位置间接检查装置。
[0004]为实现上述目的，本技术提出一种传感器芯片位置间接检查装置，包括：安装治具、传感器供电及负载模块、传感器相位采集和处理模块、芯片位置检查模块、传感器激励模块、供电模块；其中，
[0005]所述安装治具上设置有多个安装位置用于固定所述传感器；
[0006]所述传感器供电及负载模块电性连接待测传感器并为所述传感器提供供电及工作负载；
[0007]所述传感本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种传感器芯片位置间接检查装置，其特征在于，包括：安装治具、传感器供电及负载模块、传感器相位采集和处理模块、芯片位置检查模块、传感器激励模块、供电模块；其中，所述安装治具上设置有多个安装位置用于固定待测传感器；所述传感器供电及负载模块电性连接待测传感器并为所述传感器提供供电及工作负载；所述传感器相位采集和处理模块分别电性连接所述传感器和所述芯片位置检查模块以采集并处理所述传感器输出的相位信号，并将处理后的相位信号传输至所述芯片位置检查模块；所述传感器激励模块电性连接所述芯片位置检查模块，所述传感器激励模块包含传感器目标轮及驱动系统并为所述传感器提供信号激励；所述芯片位置检查模块包括主控电脑及安装于主控电脑的芯片位置检查单元，以接收所述传感器相位采集和处理模块输出的相位信号，并对所述相位信号进行测量和计算以确定所述传感器内的芯片位置状态；所述供电模块分别与所述传感器供电及负载模块、所述传感器相位采集和处理模块、所述芯片位置检查模块及所述传感器激励模块电性连接。2.如权利要求1所述的一种传感器芯片位置间接检查装置，其特征在于，所述安装治具的多个安装位置为四个，分别位于0度、90度、180度及270度的位置。3.如权利要求1所述的一种传感器芯片位置间接检查装置，其特征在于，所述传感器供电及负载模块包括直流稳压电源、负载电阻及负载电容，还包括可自定义过电流阈值的自定义负载保护电路，保护所述传感器供电及负载模块免受过电流损坏。4.如权利要求1所述的一种传感器芯片位置间接检查装置，其特征在于，所述传感器相位采集和处理模块包括信号采集卡及信号调理电路；其中，所述信号采集卡与传感器连接并采集传感器输出的相位信号；信号调理电路与信号...

【专利技术属性】
技术研发人员：谢春旭，张军，徐艳春，朱谨，王俊博，
申请(专利权)人：大陆汽车电子连云港有限公司，
类型：新型
国别省市：