一种半导体高度检测设备制造技术

本实用新型专利技术公开了一种半导体高度检测设备，一种半导体高度检测设备，包括底台，所述底台顶部的一侧固定连接有调节杆，所述调节杆的内腔设置有移动机构，所述调节杆的外侧设置有检测探头，所述底台的顶部固定连接有限位杆；本实用新型专利技术提供的技术方案中，通过将半导体放置在检测台上，通过设置移动机构，能够通过移动机构带动检测探头移动，通过检测探头对半导体进行检测，再通过设置卡合机构，能够将套筒与检测台进行固定或移动，当检测台在移动时，使用者可使半导体在不同的地方进行对其进行高度检测，多次进行不同位测量有效提高精准度，从而提高半导体高度检测设备的检测效率，增加了检测时的精准度，提高检测速度。提高检测速度。提高检测速度。

【技术实现步骤摘要】
一种半导体高度检测设备


[0001]本技术涉及半导体检测
，具体为一种半导体高度检测设备。

技术介绍

[0002]半导体指常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料，半导体在集成电路、消费电子、通信系统、光伏发电、照明、大功率电源转换等领域都有应用，如二极管就是采用半导体制作的器件。
[0003]在传统的半导体零件检测大多用高度测量仪进行测量，主要为检测高度、深度、平面度等，现有的半导体高度检测设备检测效率较为低下，从而降低了检测时的精准度和检测速度，导致测量失准。

技术实现思路

[0004]本技术的目的在于针对现有技术的不足之处，提供一种半导体高度检测设备，以解决
技术介绍
中提出的问题。
[0005]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种半导体高度检测设备，包括底台，所述底台顶部的一侧固定连接有调节杆，所述调节杆的内腔设置有移动机构，所述调节杆的外侧设置有检测探头，所述底台的顶部固定连接有限位杆，所述限位杆的外侧套设有套筒，所述套筒的顶部固定连接有检测台，所述检测台的底部固定连接有安装块，所述安装块的内腔设本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种半导体高度检测设备，包括底台(1)，其特征在于：所述底台(1)顶部的一侧固定连接有调节杆(2)，所述调节杆(2)的内腔设置有移动机构，所述调节杆(2)的外侧设置有检测探头(3)，所述底台(1)的顶部固定连接有限位杆(4)，所述限位杆(4)的外侧套设有套筒(5)，所述套筒(5)的顶部固定连接有检测台(6)，所述检测台(6)的底部固定连接有安装块(7)，所述安装块(7)的内腔设置有卡合机构，所述底台(1)的顶部开设有卡槽(8)。2.根据权利要求1所述的一种半导体高度检测设备，其特征在于：所述移动机构包括电机(9)、丝杆(10)和螺纹套(11)，所述电机(9)与调节杆(2)内壁的底部固定连接，所述丝杆(10)的底部与电机(9)的输出端固定连接，所述丝杆(10)的顶部通过轴承与调节杆(2)内壁的顶部转动连接，所述螺纹套(11)的内圈与丝杆(10)的外侧螺纹连接，所述螺纹套(11)的一侧与检测探头(3)固定连接，所述检测探头(3)远离螺纹套(11)的一端贯穿调节杆(2)并延伸至调节杆(2)的外侧。3.根据权利要求1所述的一种半导体高度检测设备，其特征在于：所述卡合机构包括弹簧(12)和卡块(13)，所述弹簧(1...

【专利技术属性】
技术研发人员：翁晓升，
申请(专利权)人：南通捷晶半导体技术有限公司，
类型：新型
国别省市：