【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及静态随机存取存储器(static random access memory,SRAM),尤其是一种预烧测试静态随机存取存储器的方法及装置。请参考附图说明图1,图1为习知测试装置10测试一静态随机存取存储器20时的示意图。静态随机存取存储器20包含有复数个用来储存资料的存储器单元22、复数条字线(word lines)24、复数条第一位元线(bit lines)26以及复数条第二位元线28,而每一存储器单元22电连接于一对应的字线24、一对应的第一位元线26以及一对应的第二位元线28。测试装置10则包含有一控制电路12用来控制测试装置10的操作,一电源14用来供应电源予测试装置10的各个组成元件,一行解码器(column decoder)16,以及一列解码器(row decoder)18,测试装置10可通过行解码器16以及列解码器18来选择所要进行测试的存储器单元22。每一存储器单元22电连接于电源14,当测试装置10测试静态随机存取存储器20时,电源14会持续施加一维持在+5伏的工作电压Vcc于每一存储器单元22直到完成测试静态随机存取存储器20为止,而控制电路12则会通过行解码器16以及列解码器18来逐一地选择存储器单元22以进行资料写入及读取的动作。请参考图2,图2为图1存储单元22的电路图。如图2所示,每一存储单元22包含有一储存电路32、一第一开关电路34及一第二开关电路36。其中储存电路32电连接于电源14,用来储存一位元(one bit)的资料,而第一及第二开关电路34、36皆电连接于一对应的字线24并分别电连接于对应的第一 ...
【技术保护点】
一种预烧测试静态随机存取存储器的方法,该静态随机存取存储器包含有: 复数条字线; 复数条第一位元线; 复数条第二位元线;以及 复数个存储器单元,用来储存资料,每一存储器单元电连接于一对应的字线、一对应的第一位元线、一对应的第二位元线以及一电源,该电源可施加一工作电压于该存储器单元,以使该存储器单元得以运作;其特征是:该方法包含下面步骤: 从该复数个存储器单元中选择一预定数目的存储器单元进行测试; 使所选择的存储器单元其所电连接的字线的电压高于一第一电压值; 使所选择的存储器单元其所电连接的第一位元线及第二位元线之间的电压差大于一第二电压值;以及 当所选择的存储器单元其所电连接的字线的电压高于该第一电压值以及所选择的存储器单元其所电连接的第一位元线及第二位元线之间的电压差大于该第二电压值时,使该工作电压从一第三电压值提升至一第四电压值。
【技术特征摘要】
US 2001-7-3 09/681.9891.一种预烧测试静态随机存取存储器的方法,该静态随机存取存储器包含有复数条字线;复数条第一位元线;复数条第二位元线;以及复数个存储器单元,用来储存资料,每一存储器单元电连接于一对应的字线、一对应的第一位元线、一对应的第二位元线以及一电源,该电源可施加一工作电压于该存储器单元,以使该存储器单元得以运作;其特征是该方法包含下面步骤从该复数个存储器单元中选择一预定数目的存储器单元进行测试;使所选择的存储器单元其所电连接的字线的电压高于一第一电压值;使所选择的存储器单元其所电连接的第一位元线及第二位元线之间的电压差大于一第二电压值;以及当所选择的存储器单元其所电连接的字线的电压高于该第一电压值以及所选择的存储器单元其所电连接的第一位元线及第二位元线之间的电压差大于该第二电压值时,使该工作电压从一第三电压值提升至一第四电压值。2.如权利要求1所述的方法,其特征是该第三电压值等于零伏特。3.如权利要求1所述的方法,其特征是其另包含下面步骤对所选择的存储器单元其所电连接的第一位元线及第二位元线施加两互补的周期性电压信号,以周期性地改变该第一位元线与该第二位元线之间的电压差。4.如权利要求3所述的方法,其特征是其另包含下面步骤当所选择的存储器单元其所电连接的第一及第二位元线之间的电压差小于该第二电压值时,使该电源停止施加该工作电压予所选择的存储器单元;以及当所选择的存储器单元其所电连接的第一及第二位元线之间的电压差大于该第二电压值时,使该工作电压提升至该第四电压值。5.如权利要求3所述的方法,其特征是其另包含下面步骤当所选择的存储器单元其所电连接的第一及第二位元线之间的电压差小于该第二电压值时,使该工作电压小于该第四电压值;以及当所选择的存储器单元其所电连接的第一及第二位元线之间的电压差大于该第二电压值时,使该工作电压提升至该第四电压值。6.如权利要求1所述的方法,其特征是每一存储器单元包含有一储存电路、一第一开关电路及一第二开关电路,该储存电路电连接于该电源,可用来储存一位元的资料,该第一及第二开关电路电连接于该对应的字线且分别电连接于该对应的第一位元线及第二位元线。7.如权利要求6所述的方法,其特征是该储存电路为一互补式金属氧化半导体(CMOS)电路。8.如权利要求1所述的方法,其特征是当从该复数个存储器单元中选择存储器单元进行测试时,是选择该静态随机存取存储器中所有的存储器单元进行测试。9.一种预烧测试静态随机存取存储器的装置,用来对一静态随机存取存储器进行预烧测试,该静态随机存取存储器包...
【专利技术属性】
技术研发人员:陈瑞隆,黄世煌,
申请(专利权)人:联华电子股份有限公司,
类型:发明
国别省市:71[中国|台湾]
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。