【技术实现步骤摘要】
一种测试弹片及测试装置
[0001]技术涉及电子芯片测试
，特别涉及一种测试弹片及测试装置。
技术介绍
[0002]随着现代电子产品的飞速发展，电子芯片作为其重要的组成核心，在生产与加工的过程中，对质量的检测管控越发的严格，在实际检测过程中，通过自动化产线，由测试夹具置电子芯片于限位框内并施力按压，电子芯片经由测试弹片与检测电路连通，以此实现电子芯片的性能检测。
[0003]目前，电子芯片的检测装置多采用开尔文测试方法进行芯片的性能测试，其亦被称之为四端子检测(4T检测，4T sensing)、四线检测或4点探针法，是一种电阻抗测量技术，使用单独的对载电流和电压检测电极，相比传统的两个终端(2T)传感能够进行更精确的测量，开尔文四线检测被用于一些欧姆表和阻抗分析仪，并在精密应变计和电阻温度计的接线配置，也可用于测量薄膜的薄层或芯片的电阻。
[0004]现有技术中，多采用金属弹片来连接电子芯片与检测电路，以此实现针对电子芯片的开尔文测试，但是，现有技术的金属弹片受自身材质的限制或结构的限制，在使用寿命上多...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种测试弹片，其特征在于，包括：测试部，与电子芯片的引脚抵接，用于测试所述电子芯片；弹性部，整体为弧形结构，与所述测试部连接，用于缓冲电子芯片的引脚与所述测试弹片的硬性接触，所述弹性部上还至少设有一条与所述弧形结构中弧形方向一致的弧形槽，以提高弹性部的韧性；以及固定部，与所述弹性部连接，用于固定所述测试弹片，所述固定部上还至少设有一个用于与PCB板电性连接的引脚连接部。2.根据权利要求1所述的一种测试弹片，其特征在于：所述固定部、弹性部、以及测试部为一体成型结构。3.根据权利要求1所述的一种测试弹片，其特征在于：所述测试部还包括一体成型的测试连接部和测试抵接部，并且所述测试连接部和测试抵接部之间设置有夹角，所述测试连接部用于与所述弹性部连接，所述测试抵接部用于与所述电子芯片的引脚抵接。4.根据权利要求3所述的一种测试弹片，其特征在于：所述弹性部在与所述测试连接部连接的一侧凸出所述测试连接部设置，以协调所述弹性部和测试部所受到的应力和弹力。5.根据权...
【专利技术属性】
技术研发人员：宁丽娟，
申请(专利权)人：深圳市福瑞达电子有限公司，
类型：新型
国别省市：
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