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本实用新型涉及电子芯片测试技术领域，特别涉及一种测试弹片及测试装置，包括：测试部，与电子芯片的引脚抵接，用于测试所述电子芯片；弹性部，整体为弧形结构，与所述测试部连接，用于缓冲电子芯片的引脚与所述测试弹片的硬性接触，所述弹性部上还至少设有一...
该专利属于深圳市福瑞达电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市福瑞达电子有限公司授权不得商用。

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