一种可测量窄缝的高度和平面度的高度计制造技术

本实用新型专利技术公开了一种可测量窄缝的高度和平面度的高度计，包括高度计、测爪、横置支架、测针、百分表，测爪一端与高度计的测表固定，横置支架一侧与测爪远离测表的一侧连接，测针向下倾斜设置且中部与横置支架一端铰接，百分表固定于横置支架的中部且表脚竖直向下延伸，测针靠近测爪的一侧与百分表表脚抵接。本实用新型专利技术通过在普通高度计的测爪上设置装有百分表的横置支架，然后在横置支架的一端铰接倾斜向下的的测针，既可通过倾斜的测针测量窄锋面的高度，还能通过百分表显示测针与被测面的接触状况，来测量软性材料构件的高度，更能通过面上测针多点的测量以获取平面度，具有结构简单、测量便捷和精度高、多功能的特点。多功能的特点。多功能的特点。

【技术实现步骤摘要】
一种可测量窄缝的高度和平面度的高度计


[0001]本技术属于测量工具
，具体涉及一种结构简单、测量便捷和精度高、多功能的可测量窄缝的高度和平面度的高度计。

技术介绍

[0002]在零部件的生产过程中，为了把控产品质量，经常需要对产品进行测量校准。高度计是用于测量高度的常用工具，通常会根据需要采用带有深度尺的游标卡尺或专用的高度计来进行测量。此外，对于平面不仅需要测量高度，通常还需要测量平面的平面度、平行度及垂直度等形位公差。现有技术中，测量平面的高度和形位公差，一般采用高度计及对应的不同形位公差测量仪器进行测量，虽然能够满足测量要求，但分别测量的方式会增加测量成本及人工工时。为此，现有技术中也有部分集成测量高度及形位公差的量仪，但也存在诸如垂直测脚难以适应窄小缝隙的高度测量，具有一定的局限性；虽然也有采用在普通高度计的测脚上增加安装块将百分表斜置的方式，来适应窄小空间内的测量，但由于百分表侧置不仅会导致百分表表杆的移动方向与高度测量方向存在夹角，从而使百分表的示值与真实测量值之间存在较大的误差，测量精度较低；而且百分表的表杆直接倾斜测量的测量值为点值，对于只需要测量平面的高度值时还需要通过百分表平均计算才能得出，因此会导致测量过程复杂化，使用不便且适应性差。

技术实现思路

[0003]本技术的目的在于提供一种结构简单、测量便捷和精度高、多功能的可测量窄缝的高度和平面度的高度计。
[0004]本技术是这些实现的：包括高度计、测爪、横置支架、测针、百分表，所述测爪的一端与高度计的测表固定连接，所述横置支架横向设置且一侧与测爪远离测表的一侧连接，所述测针向下倾斜设置且中部与横置支架远离测爪的一端铰接，所述百分表固定设置于横置支架的中部且表脚竖直向下延伸，所述测针靠近测爪的一侧与百分表的表脚抵接。
[0005]本技术的有益效果：
[0006]1、本技术通过在普通高度计的测爪上设置装有百分表的横置支架，然后在横置支架的一端铰接倾斜向下的的测针，既可通过倾斜的测针测量窄锋面的高度，还能通过百分表显示测针与被测面的接触状况，来测量软性材料构件的高度，更能通过面上测针多点的测量值以获取平面度，从而将高度测量与平面度测量集成为一体，节省了测量时间，也提高了工作效率。
[0007]2、本技术通过测针与被测面或被测点接触，然后以杠杆的方式传递到百分表上进行间接测量，不仅倾斜的测针可便捷的伸入倒窄小空间内进行测量，而且测针所测量的高度方向变动量传递到另一端竖直的百分表表脚上，由于百分表的表脚移动方向与高度测量方向一致，因此可避免测量误差，测量精度较高。特别是测针的测头与针座采用可拆卸的连接方式，可在仅测量平面高度时将测头更换为平底斜杆结构，可在高度计上直接读出
示值，避免百分表示值的换算；而在需要同时测量平面的高度值和平面度时，或是需要测量非平面的高度值时，将测头更换为直线型的针状结构，就能方便的直接读出点的高度值或通过换算得出平面的高度值及平面度，使用灵活方便，适应性较好。
[0008]综上所述，本技术具有结构简单、测量便捷和精度高、多功能的特点。
附图说明
[0009]图1为本技术结构示意图之一；
[0010]图2为本技术结构示意图之二；
[0011]图3为图2之滑套剖切结构示意图；
[0012]图中：1
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高度计，1A
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测表，2
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测爪，3
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横置支架，4
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测针，4A
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针座，4B
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测头，4C
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测针螺钉，4D
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弧形凹槽，5
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百分表，6
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压缩弹簧，7
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滑套，8
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锁紧螺钉，9
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锁紧片。
具体实施方式
[0013]下面结合附图和实施例对本技术作进一步的说明，但不以任何方式对本技术加以限制，基于本技术教导所作的任何变更或改进，均属于本技术的保护范围。
[0014]如图1和2所示，本技术包括高度计1、测爪2、横置支架3、测针4、百分表5，所述测爪2的一端与高度计1的测表1A固定连接，所述横置支架3横向设置且一侧与测爪2远离测表1A的一侧连接，所述测针4向下倾斜设置且中部与横置支架3远离测爪2的一端铰接，所述百分表5固定设置于横置支架3的中部且表脚竖直向下延伸，所述测针4靠近测爪2的一侧与百分表5的表脚抵接。
[0015]所述测针4一侧的上表面与百分表5的表脚抵接，所述测针4与百分表5的表脚抵接的下表面与横置支架3间设置有压缩弹簧6，或者测针4近百分表5的表脚抵接侧的上表面与横置支架3间设置有拉伸弹簧。
[0016]所述测针4包括针座4A、测头4B，所述针座4A的中部与横置支架3铰接且一侧与百分表5的表脚抵接，所述针座4A远离百分表5的一侧通过测针螺钉4C或螺纹与测头4B固定连接。
[0017]所述测头4B为针状或平底斜杆的倒“厂”形，所述测头4B的接触端到针座4A铰接点的距离与铰接点到百分表5的表脚抵接处距离相等。
[0018]所述针座4A与测头4B的连接侧设置有方形连接孔，所述测头4B的连接侧设置有与测头4B连接孔对应的方形连接头，所述针座4A的方形连接孔及测头4B的方形连接头分别设置有与测针螺钉4C配合的螺孔。
[0019]所述测头4B的接触端到针座4A铰接点的水平距离与铰接点到百分表5的表脚抵接处的水平距离相等，所述针座4A与百分表5的表脚抵接处设置有弧形凹槽4D，所述弧形凹槽4D的半径大于百分表5的表脚测头半径。
[0020]所述测爪2远离测表1A的一侧固定设置有滑套7，所述滑套7设置有垂直于高度计1的导柱并可滑动穿过横置支架3的导向孔，所述滑套7的侧壁或底壁上还设置有垂直并连通导向孔的锁紧螺孔，所述锁紧螺孔上设置有可锁紧横置支架3的锁紧螺钉8。
[0021]如图3所示，所述滑套7上导向孔的内壁在锁紧螺孔下方设置有锁紧片9，所述锁紧
螺钉8的端部抵紧锁紧片9。锁紧片既可以避免锁紧螺钉8的端部划伤横置支架3，还能增大锁紧时的接触面积，使得锁紧更加可靠。
[0022]所述滑套7的导向孔为方孔，所述横置支架3与滑套7的导向孔连接侧为方杆，所述锁紧螺孔设置于导向孔的侧壁1。
[0023]所述高度计1为双柱带表高度计、单柱型高度计或数显高度计。
[0024]本技术工作原理和工作过程：
[0025]如图1所示，测量前，根据待测零部件的待测部位预估尺寸，松开锁紧螺钉8并水平调整横置支架3后锁紧，使之能够适应预估尺寸的水平位置，然后根据测量的项目，选择对应的结构的测头4B；测量时，将零部件放置在平整的平面上，移动零部件或高度计，先将测针4底部与基准面接触对零，使高度计1的测表1A归零；然后移动零部件或高度计，将测头4B接触端与被本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种可测量窄缝的高度和平面度的高度计，其特征在于包括高度计（1）、测爪（2）、横置支架（3）、测针（4）、百分表（5），所述测爪（2）的一端与高度计（1）的测表（1A）固定连接，所述横置支架（3）横向设置且一侧与测爪（2）远离测表（1A）的一侧连接，所述测针（4）向下倾斜设置且中部与横置支架（3）远离测爪（2）的一端铰接，所述百分表（5）固定设置于横置支架（3）的中部且表脚竖直向下延伸，所述测针（4）靠近测爪（2）的一侧与百分表（5）的表脚抵接。2.根据权利要求1所述可测量窄缝的高度和平面度的高度计，其特征在于所述测针（4）一侧的上表面与百分表（5）的表脚抵接，所述测针（4）与百分表（5）的表脚抵接的下表面与横置支架（3）间设置有压缩弹簧（6），或者测针（4）近百分表（5）的表脚抵接侧的上表面与横置支架（3）间设置有拉伸弹簧。3.根据权利要求2所述可测量窄缝的高度和平面度的高度计，其特征在于所述测针（4）包括针座（4A）、测头（4B），所述针座（4A）的中部与横置支架（3）铰接且一侧与百分表（5）的表脚抵接，所述针座（4A）远离百分表（5）的一侧通过测针螺钉（4C）或螺纹与测头（4B）固定连接。4.根据权利要求3所述可测量窄缝的高度和平面度的高度计，其特征在于所述测头（4B）为针状或平底斜杆的倒“厂”形，所述测头（4B）的接触端到针座（4A）铰接点的距离与铰接点到百分表（5）的表脚抵接处距离相等。5.根据权利要求4所述可测量窄...

【专利技术属性】
技术研发人员：徐海昆，李丽华，徐海龙，杨安帅，杨瑾，张光和，柳杰，
申请(专利权)人：昆明弘固机械制造有限公司，
类型：新型
国别省市：