一种回转体测量窄缝平行度及对称度的导架制造技术

技术编号:32050945 阅读:24 留言:0更新日期:2022-01-27 14:43
本实用新型专利技术公开了一种回转体测量窄缝平行度及对称度的导架,包括V形底座、压紧爪、紧定螺钉,V形底座的V形槽的外侧对称设有与延伸方向平行且相互平行的侧平面,连接槽设于侧平面且与V形槽延伸方向平行;压紧爪包括“∏”形基础架、分别设于基础架两侧脚底端的钩脚、设于基础架横梁并与两侧脚平行的螺孔,钩脚可插入连接槽中且钩脚内顶面与连接槽顶面可贴合,螺孔中心线与V形槽两斜面交线相交且垂直;紧定螺钉与螺孔配合压紧回转体。本实用新型专利技术通过V形底座配合压紧爪与紧定螺钉夹紧和调整回转体,通过对称的侧平面配合特定的测高仪,实现回转体随V形底座翻面即可测量平行度及对称度,具有结构简单、操作便捷、测量误差小、通用性强的特点。性强的特点。性强的特点。

【技术实现步骤摘要】
一种回转体测量窄缝平行度及对称度的导架


[0001]本技术属于测量
,具体涉及一种结构简单、操作便捷、测量误差小、通用性强的回转体测量窄缝平行度及对称度的导架。

技术介绍

[0002]平行度是评价直线之间、平面之间或直线与平面之间平行的程度,指一平面(或直线)相对于另一平面(或直线)平行的误差最大允许值。 目前在机械制造领域中,测量平面之间或直线与平面之间的平行度通常使用内径千分尺进行人工检测,但在实际使用中由于量程较小、表杆杆件组装繁琐且操作方法复杂,而且读数受主观因素较大,不能快速、有效的进行测量。针对大批量生产,为了提高检测的效率,现有技术中也有大量的专用平行度检测装置进行检测应用,虽然检测效率和精度都有大幅提高,但专用平行度检测装置适用于的品种较少,不适用于小批量生产,而且对于大批量生产品种较多的情况,采用专用平行度检测装置在保管、存放以及维护方面都存在一定困难。为此,越来越多的采用通用的三座标机进行检测,但三座标机拥有成本和使用成本较高,且对于回转体需要辅助的夹持装置才能进行材料,不恰当的夹持装置会加大测量误差,对于窄缝更是由于其测脚无法伸入其内无法测量,或是只能在缝隙口进行测量,会导致测量时测量面偏小,从而引起较大的误差。因此,目前对于窄缝的平行度及对称度测量没有较好的解决办法。

技术实现思路

[0003]本技术的目的在于提供一种结构简单、操作便捷、测量误差小、通用性强的回转体测量窄缝平行度及对称度的导架。
[0004]本技术是这些实现的:包括V形底座、压紧爪、紧定螺钉,所述V形底座包括V形槽、侧平面、连接槽,所述V形槽两侧壁的外侧对称设置有与V形槽延伸方向平行且相互平行的侧平面,所述连接槽设置于侧平面上且与V形槽的延伸方向平行;所述压紧爪包括“∏”形的基础架、分别固定设置于基础架两侧脚底端的钩脚、设置于基础架的横梁并与两侧脚平行的螺孔,所述钩脚可滑动的插入连接槽中且钩脚的内侧顶面与连接槽的顶面可相互贴合,所述螺孔的中心线与V形槽两斜面的交线相交且垂直;所述紧定螺钉与螺孔配合且紧定螺钉的底端可与待测回转体的外表面贴合。
[0005]本技术的有益效果:
[0006]1、本技术通过V形底座配合压紧爪与紧定螺钉,能够夹紧和调整回转体形成测量基础;而通过V形底座对称的侧平面结构再配合特定的小测脚测高仪,测量时测高仪不动,通过紧定螺钉的松紧而旋转调整回转体的位置,使回转体的窄缝一侧面形成测量基准,然后翻转V形底座测量回转体的窄缝另一侧面,从而完成窄缝平行度及对称度的测量,整体结构简单、操作便捷。
[0007]2、本技术V形底座的V形槽可适应较大尺寸范围内的回转体测量紧固,而特定的小测脚测高仪可通过调整高度以适应不同位置缝隙的测量,因此本技术的适应性及
通用性较强。
[0008]3、本技术的V形底座对称的侧平面结构结构,能够保证所夹持的回转体的轴线与侧平面平行,因此由于夹持而产生的累积误差较小,而且特定的小测脚测高仪的测脚能够伸入到窄缝中进行测量,可以保证测量面满足测量要求,因此也能够有效减少测量误差,测量的精度较高。
[0009]综上所述,本技术具有结构简单、操作便捷、测量误差小、通用性强的特点。
附图说明
[0010]图1为待测回转体结构示意图;
[0011]图2为本技术结构示意图;
[0012]图3为本技术之侧量式高度计结构示意图;
[0013]图4为图3之横置支杆局部剖切结构示意图;
[0014]图中:1

V形底座,1A

V形槽,1B

侧平面,1C

连接槽,2

压紧爪,2A

基础架,2B

钩脚,3

紧定螺钉,4

回转体,4A

窄缝,5

压紧块,6

侧量式高度计,6A

高度计,6B

横置支杆,6C

测头,6D

测表Ⅰ,6E

测表Ⅱ,6F

压缩弹簧。
具体实施方式
[0015]下面结合附图和实施例对本技术作进一步的说明,但不以任何方式对本技术加以限制,基于本技术教导所作的任何变更或改进,均属于本技术的保护范围。
[0016]如图1和2所示,本技术包括V形底座1、压紧爪2、紧定螺钉3,所述V形底座1包括V形槽1A、侧平面1B、连接槽1C,所述V形槽1A两侧壁的外侧对称设置有与V形槽1A延伸方向平行且相互平行的侧平面1B,所述连接槽1C设置于侧平面1B上且与V形槽1A的延伸方向平行;所述压紧爪2包括“∏”形的基础架2A、分别固定设置于基础架2A两侧脚底端的钩脚2B、设置于基础架2A的横梁并与两侧脚平行的螺孔,所述钩脚2B可滑动的插入连接槽1C中且钩脚2B的内侧顶面与连接槽1C的顶面可相互贴合,所述螺孔的中心线与V形槽1A两斜面的交线相交且垂直;所述紧定螺钉3与螺孔配合且紧定螺钉3的底端可与待测回转体4的外表面贴合。
[0017]所述侧平面1B为以连接槽1C分界的台阶面,所述侧平面1B靠近V形槽1A一侧的平面高度低于远离侧的平面高度。
[0018]所述侧平面1B在连接槽1C两侧的平面高度之差不小于基础架2A的两侧脚厚度。
[0019]所述V形槽1A两侧的侧平面1B中远离V形槽1A的平面之间的平行度不大于0.002mm。
[0020]所述V形槽1A两侧任意斜面沿长度方向的母线与两侧任意侧平面1B中远离V形槽1A的平面之间的平行度不大于0.002mm。
[0021]所述紧定螺钉3的底端铰接有压紧块5,所述压紧块5的底端设置有V形或弧形槽。
[0022]如图3所示,本技术还包括与之配套测量的侧量式高度计6,所述侧量式高度计6包括高度计6A、横置支杆6B、测头6C、测表Ⅰ6D,所述测表Ⅰ6D固定设置于高度计6A的测量支架上,所述横置支杆6B的一端与高度计6A的测量支架固定连接,所述测头6C为细长杆并
向下倾斜设置且底端与横置支杆6B连接。
[0023]所述横置支杆6B上固定设置有测表Ⅱ6E,所述测头6C的中部与横置支杆6B远离测量支架的一端铰接,所述测头6C靠近测表Ⅱ6E的一侧与测表Ⅱ6E的测量表脚抵接。
[0024]所述测头6C的上表面与其上部设置的测表Ⅱ6E的测量表脚抵接,所述横置支杆6B在靠近测表Ⅱ6E的测量表脚一侧下方设置有盲孔,所述盲孔中设置有上部抵接测头6C下表面的压缩弹簧6F。
[0025]本技术工作原理和工作过程:
[0026]如图1、2和3所示,测量前,将回转体4放入V形槽1A内,然后将压紧爪2两侧的钩脚2B套入连接槽1C内并滑动到夹持位置,随之用紧定螺钉3使之底部稍微抵紧回转体本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种回转体测量窄缝平行度及对称度的导架,其特征在于包括V形底座(1)、压紧爪(2)、紧定螺钉(3),所述V形底座(1)包括V形槽(1A)、侧平面(1B)、连接槽(1C),所述V形槽(1A)两侧壁的外侧对称设置有与V形槽(1A)延伸方向平行且相互平行的侧平面(1B),所述连接槽(1C)设置于侧平面(1B)上且与V形槽(1A)的延伸方向平行;所述压紧爪(2)包括“∏”形的基础架(2A)、分别固定设置于基础架(2A)两侧脚底端的钩脚(2B)、设置于基础架(2A)的横梁并与两侧脚平行的螺孔,所述钩脚(2B)可滑动的插入连接槽(1C)中且钩脚(2B)的内侧顶面与连接槽(1C)的顶面可相互贴合,所述螺孔的中心线与V形槽(1A)两斜面的交线相交且垂直;所述紧定螺钉(3)与螺孔配合且紧定螺钉(3)的底端可与待测回转体(4)的外表面贴合。2.根据权利要求1所述回转体测量窄缝平行度及对称度的导架,其特征在于所述侧平面(1B)为以连接槽(1C)分界的台阶面,所述侧平面(1B)靠近V形槽(1A)一侧的平面高度低于远离侧的平面高度。3.根据权利要求2所述回转体测量窄缝平行度及对称度的导架,其特征在于所述侧平面(1B)在连接槽(1C)两侧的平面高度之差不小于基础架(2A)的两侧脚厚度。4.根据权利要求2或3所述回转体测量窄缝平行度及对称度的导架,其特征在于所述V形槽(1A)两侧的侧平面(1B)中远离V形槽(1A)的平面之间的平行度不大于0.002mm。5.根据权...

【专利技术属性】
技术研发人员:徐海昆李丽华徐海龙杨懿杨瑾张光和柳杰
申请(专利权)人:昆明弘固机械制造有限公司
类型:新型
国别省市:

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