一种具备压阻反馈的静电MEMS微镜及制造方法技术

技术编号:32023730 阅读:16 留言:0更新日期:2022-01-22 18:48
本发明专利技术涉及一种具备压阻反馈的静电MEMS微镜及制造方法,包括衬底(1)、镜面(2)、定梳齿装置、两组动梳齿装置和两个压阻模块(3),通过压阻模块(3)上所设各金属电极(6)与对应扭转梁(4)之间惠斯通电桥的建立与应用,应用惠斯通电桥所具备检测应力变化的能力,以及镜面(2)的扭转角度与扭转梁(4)端部应力间的正比关系,实现对扭转梁(4)端部应力变化情况的检测,最终获得MEMS静电微镜的镜面(2)偏转角度,拥有直接检测高速旋转镜面(2)角度的优点,整个设计方案具有实时、连续检测微镜镜面(2)运动状态的优点,同时整个结构封装尺寸小、结构紧凑,更加节省成本。更加节省成本。更加节省成本。

【技术实现步骤摘要】
一种具备压阻反馈的静电MEMS微镜及制造方法


[0001]本专利技术涉及一种具备压阻反馈的静电MEMS微镜及制造方法,属于微机电系统


技术介绍

[0002]MEMS微镜在投影、成像、激光雷达等领域得到了广泛的应用,MEMS微镜存在高频率的周期性谐振应用模式。在该应用模式下,实时监测MEMS微镜的偏转角度,可以对微镜系统投影和成像的漂移等问题进行有效的抑制和改善。但是由于微镜处于高速的运动状态,实时监测角度存在较大难度。
[0003]现有技术中,为了获得微镜镜面的运动状态,会使用外置光电模块来检测若干个点。如专利申请CN207963768U与CN205679203U,胆识如此设计不但增加了封装结构的难度,而且只能检测少量的点来推算微镜镜面的运动状态,不能实时地掌控整个微镜镜面的运动状态。

技术实现思路

[0004]本专利技术所要解决的技术问题是提供一种具备压阻反馈的静电MEMS微镜,通过对压阻模块的集成,实现对扭转梁端部应力变化情况的检测,最终实时地获得MEMS静电微镜的镜面偏转角度。
[0005]本专利技术为了解决上述技术问题采用以下技术方案:本专利技术设计了一种具备压阻反馈的静电MEMS微镜,包括衬底、镜面、定梳齿装置、两组动梳齿装置和两个压阻模块;其中,衬底为硅片材料制成的环形结构,且衬底的各部位共面;镜面和两组动梳齿装置均为硅片材料制成,两组动梳齿装置的结构彼此相同,镜面上彼此相对的两侧边位置分别通过一组动梳齿装置对接衬底环形结构的内侧边,且镜面侧边上该两连接位置之间呈对称分布;各组动梳齿装置分别均包括扭转梁、固定座、以及分别对接扭转梁两侧的动齿条组,各组动梳齿装置中,扭转梁与其两侧所连的动齿条组相共面,各动齿条组分别均包括至少一根齿条,且各动齿条组中各根齿条彼此相平行、以及相邻齿条之间等间距;各组动梳齿装置中扭转梁的其中一端分别与镜面侧边上对应位置相连接,各组动梳齿装置中扭转梁的另一端分别对接对应固定座,且各固定座分别设置于衬底环形结构上内侧边上对应动梳齿装置相对接的位置;两个压阻模块分别经绝缘层设置于各固定座上表面,各压阻模块上表面分别均设置至少两个适用于惠斯通电桥的金属电极,且各金属电极分别通过惠斯通电桥对接其所设压阻模块下方固定座所连的扭转梁;定梳齿装置为硅片材料制成,定梳齿装置包括环形结构、以及分别对接该环形结构内侧边的各定齿条组,定义该环形结构为上部环形结构,上部环形结构的内径、外径分别与衬底环形结构的内径、外径相适应,上部环形结构经绝缘层设置于衬底环形结构上表面,且上部环形结构上对应两组动梳齿装置中固定座与两压阻模块的位置分别设置缺口,用于
实现上部环形结构与各固定座、各压阻模块之间的隔离;上部环形结构与其内侧边所连各定齿条组共面,各定齿条组分别均包括至少一根齿条,各定齿条组中的各根齿条分别对接上部环形结构内侧边,且各定齿条组中各根齿条彼此相平行、以及相邻齿条之间等间距;上部环形结构内侧边所连定齿条组的数量与两组动梳齿装置中各扭转梁上所连动齿条组的数量相等,且上部环形结构内侧边所连各定齿条组的位置分别与两组动梳齿装置中各扭转梁上所连各动齿条组的位置一一对应,以及在垂直于衬底所在面的方向上,各组动梳齿装置中各动齿条组的各根齿条的投影、分别与对应位置下定齿条组的各根齿条的投影彼此平行、且彼此相互交错;其中一个压阻模块的上表面与上部环形结构上表面分别设置供电电极;通过向各供电电极供电,在定梳齿装置中各定齿条组的各齿条与对应位置下动齿条组的各齿条之间的相互作用力下,实现各组动梳齿装置相对其扭转梁的转动,完成镜面角度的驱动调整,并通过各惠斯通电桥经各金属电极的输出,计算相应扭转梁的应力状态,实现对镜面运动的参数确定。
[0006]作为本专利技术的一种优选技术方案:所述各组动梳齿装置中扭转梁上与对应固定座相连端部位置的两侧分别沿对应扭转梁方向、设置贯穿其上下面的小于对应扭转梁长度的开槽。
[0007]作为本专利技术的一种优选技术方案:所述两组动梳齿装置相对镜面位置呈对称分布。
[0008]作为本专利技术的一种优选技术方案:所述各组动梳齿装置中各动齿条组的各根齿条均与其所连扭转梁相垂直,所述定梳齿装置中各定齿条组的各根齿条均与其所连上部环形结构内侧边相垂直。
[0009]作为本专利技术的一种优选技术方案:所述镜面、定梳齿装置、以及两组动梳齿装置均采用电阻率低于103Ω
·
cm的低阻硅,所述压阻模块通过对电阻率高于104Ω
·
cm的高阻硅进行离子注入工艺制作获得。
[0010]作为本专利技术的一种优选技术方案:所述两个压阻模块分别经氧化硅层设置于各固定座上表面,所述上部环形结构经氧化硅层设置于衬底环形结构上表面。
[0011]与上述相对应,本专利技术还要解决的技术问题是提供一种具备压阻反馈的静电MEMS微镜的制造方法,通过简洁制造工艺的设计与应用,即可实现所设计MEMS微镜的制造,基于对扭转梁端部应力变化情况的检测,最终实时地获得MEMS静电微镜的镜面偏转角度。
[0012]本专利技术为了解决上述技术问题采用以下技术方案:本专利技术设计了一种针对具备压阻反馈的静电MEMS微镜的制造方法,基于由下至上依次堆叠的衬底硅层、氧化硅层、中间硅层、氧化硅层、顶部硅层的结构,执行如下步骤:步骤A. 针对顶部硅层上表面对应所述压阻模块的位置,应用离子注入工艺制作所述两个压阻模块;步骤B. 针对顶部硅层、以及顶部硅层与中间硅层之间的氧化硅层进行刻蚀,突出两个压阻模块的位置、以及裸露中间硅层上表面中间对应两压阻模块之间区域;步骤C. 针对中间硅层上表面裸露区域中对应供电电极的位置、以及压阻模块上表面对应供电电极与各金属电极的位置,分别生长金属导电薄膜,实现各供电电极与各金属电极的制作;
步骤D. 针对中间硅层上表面裸露区域中对应镜面、定梳齿装置、以及两组动梳齿装置的位置,执行刻蚀操作,分别实现镜面、定梳齿装置、以及两组动梳齿装置的制作;步骤E. 针对镜面活动区域下方的衬底硅层、以及衬底硅层与中间硅层之间的氧化硅层进行刻蚀掏空,即完成具备压阻反馈的静电MEMS微镜的制造。
[0013]作为本专利技术的一种优选技术方案:所述步骤A中,针对顶部硅层上表面对应所述压阻模块的位置,应用离子注入工艺,先注入10
10
~10
17 ions/cm2剂量的硼或磷,形成压电感应区,再向压电感应区注入10
12
~10
20 ions/cm2剂量的硼或磷,进而实现压阻模块的制作。
[0014]作为本专利技术的一种优选技术方案:所述顶部硅层为电阻率高于104Ω
·
cm的高阻硅,所述中间硅层为电阻率低于103Ω
·
cm的低阻硅。
[0015]作为本专利技术的一种优选技术方案:所述衬底硅层与中间硅层之间的氧化硅层、以及中间硅层与顶部硅层之间的氧化硅层,均为0.5um~5um厚度。
[0016]本专利技术所述一种具备压阻反馈的静电MEMS微镜及制造方法,采用以上技术方案与现有技术相比,具有本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种具备压阻反馈的静电MEMS微镜,其特征在于:包括衬底(1)、镜面(2)、定梳齿装置、两组动梳齿装置和两个压阻模块(3);其中,衬底(1)为硅片材料制成的环形结构,且衬底(1)的各部位共面;镜面(2)和两组动梳齿装置均为硅片材料制成,两组动梳齿装置的结构彼此相同,镜面(2)上彼此相对的两侧边位置分别通过一组动梳齿装置对接衬底(1)环形结构的内侧边,且镜面(2)侧边上该两连接位置之间呈对称分布;各组动梳齿装置分别均包括扭转梁(4)、固定座、以及分别对接扭转梁(4)两侧的动齿条组(5),各组动梳齿装置中,扭转梁(4)与其两侧所连的动齿条组(5)相共面,各动齿条组(5)分别均包括至少一根齿条,且各动齿条组(5)中各根齿条彼此相平行、以及相邻齿条之间等间距;各组动梳齿装置中扭转梁(4)的其中一端分别与镜面(2)侧边上对应位置相连接,各组动梳齿装置中扭转梁(4)的另一端分别对接对应固定座,且各固定座分别设置于衬底(1)环形结构上内侧边上对应动梳齿装置相对接的位置;两个压阻模块(3)分别经绝缘层设置于各固定座上表面,各压阻模块(3)上表面分别均设置至少两个适用于惠斯通电桥的金属电极(6),且各金属电极(6)分别通过惠斯通电桥对接其所设压阻模块(3)下方固定座所连的扭转梁(4);定梳齿装置为硅片材料制成,定梳齿装置包括环形结构、以及分别对接该环形结构内侧边的各定齿条组(8),定义该环形结构为上部环形结构(7),上部环形结构(7)的内径、外径分别与衬底(1)环形结构的内径、外径相适应,上部环形结构(7)经绝缘层设置于衬底(1)环形结构上表面,且上部环形结构(7)上对应两组动梳齿装置中固定座与两压阻模块(3)的位置分别设置缺口,用于实现上部环形结构(7)与各固定座、各压阻模块(3)之间的隔离;上部环形结构(7)与其内侧边所连各定齿条组(8)共面,各定齿条组(8)分别均包括至少一根齿条,各定齿条组(8)中的各根齿条分别对接上部环形结构(7)内侧边,且各定齿条组(8)中各根齿条彼此相平行、以及相邻齿条之间等间距;上部环形结构(7)内侧边所连定齿条组(8)的数量与两组动梳齿装置中各扭转梁(4)上所连动齿条组(5)的数量相等,且上部环形结构(7)内侧边所连各定齿条组(8)的位置分别与两组动梳齿装置中各扭转梁(4)上所连各动齿条组(5)的位置一一对应,以及在垂直于衬底(1)所在面的方向上,各组动梳齿装置中各动齿条组(5)的各根齿条的投影、分别与对应位置下定齿条组(8)的各根齿条的投影彼此平行、且彼此相互交错;其中一个压阻模块(3)的上表面与上部环形结构(7)上表面分别设置供电电极(9);通过向各供电电极(9)供电,在定梳齿装置中各定齿条组(8)的各齿条与对应位置下动齿条组(5)的各齿条之间的相互作用力下,实现各组动梳齿装置相对其扭转梁(4)的转动,完成镜面(2)角度的驱动调整,并通过各惠斯通电桥经各金属电极(6)的输出,计算相应扭转梁(4)的应力状态,实现对镜面(2)运动的参数确定。2.根据权利要求1所述一种具备压阻反馈的静电MEMS微镜,其特征在于:所述各组动梳齿装置中扭转梁(4)上与对应固定座相连端部位置的两侧分别沿对应扭转梁(4)方向、设置贯穿其上下面的小于...

【专利技术属性】
技术研发人员:章程浩陈巧陈敏
申请(专利权)人:苏州知芯传感技术有限公司
类型:发明
国别省市:

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