【技术实现步骤摘要】
一种硅靶材焊接面的镀镍方法
[0001]本专利技术涉及半导体靶材
,涉及硅靶材,尤其涉及一种硅靶材焊接面的镀镍方法。
技术介绍
[0002]粉末压结类靶材一般指的是采用粉末冶金制备得到的靶材,而粉末冶金是一种将金属粉末实施成形和烧结进而制备得到多孔、半致密或全致密产品的工艺方法。目前,一般采用铟焊将粉末压结类靶材和背板进行焊接,通过将熔化的焊料对焊接面进行浸润处理,提高粉末压结类靶材与背板的焊接结合率。例如CN105436644A公开了一种靶材组件的焊接方法,包括:提供背板与靶材;在所述背板的焊接面上设置熔化的焊料;采用钢刷对所述背板的焊接面以及熔化的焊料进行浸润处理,采用超声波对所述背板的焊接面以及熔化的焊料进行处理;采用钢刷对靶材的焊接面进行处理;将所述靶材的焊接面与所述背板的焊接面相贴合,进而使所述靶材与背板相互焊接。所述焊接方法增加了熔化的焊料与背板焊接面之间的接触面积,有利于熔化的焊料浸润背板焊接面的表面,使得靶材与背板的焊接质量更高。
[0003]然而,一些特殊材质的粉末压结类靶材却无法进行浸润处理或者浸润效果不佳,如钨靶材、钼靶材、铬硅靶材、钨硅靶材、碳化硼靶材等,因为上述靶材与铟等焊料几乎没有结合性能,如果直接将上述靶材与背板通过铟等焊料进行铟焊,无法得到具有目标结合率和结合强度的靶材组件。为此,研究者们对上述靶材的焊接面采用化学方法镀一层易浸润层,一般为镍膜,以此来提高焊接面浸润性,从而使得特殊材质的粉末压结类靶材达到焊接条件。例如CN105331938A公开了一种钨硅靶材组件的制备方 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种硅靶材焊接面的镀镍方法,其特征在于,所述镀镍方法包括如下步骤:(1)将硅靶材焊接面采用钛靶进行真空离子镀轰击处理;(2)将步骤(1)处理后的硅靶材焊接面采用镍靶进行第一真空溅射镀膜处理;(3)将步骤(2)处理后的硅靶材焊接面采用钛靶进行真空离子镀钛处理;(4)将步骤(3)处理后的硅靶材焊接面采用镍靶进行第二真空溅射镀膜处理,得到带有镍膜的硅靶材。2.根据权利要求1所述的镀镍方法,其特征在于,在步骤(1)所述真空离子镀轰击处理之前,对所述硅靶材焊接面进行表面处理;优选地,所述表面处理包括采用清洗液进行擦拭清洗;优选地,所述清洗液包括纯度≥98wt%的乙醇和/或纯度≥95wt%的异丙醇。3.根据权利要求1或2所述的镀镍方法,其特征在于,所述镀镍方法在物理气相沉积炉中进行,在所述真空离子镀轰击处理之前,进行抽真空与预热;优选地,所述抽真空的目标真空度为1
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‑3~6
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‑3Pa;优选地,所述预热的目标温度为110~150℃;优选地,所述预热的保温时间为20~40min。4.根据权利要求1
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3任一项所述的镀镍方法,其特征在于,步骤(1)所述真空离子镀轰击处理的温度为100~140℃;优选地,步骤(1)所述真空离子镀轰击处理的时间为120~180s;优选地,步骤(1)所述真空离子镀轰击处理的真空度为1.5
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‑1~2.5
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‑1Pa;优选地,步骤(1)所述真空离子镀轰击处理的电流为100~120A。5.根据权利要求1
‑
4任一项所述的镀镍方法,其特征在于,步骤(2)所述第一真空溅射镀膜处理的温度为120~140℃;优选地,步骤(2)所述第一真空溅射镀膜处理的真空度为3
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‑1~4
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‑1Pa;优选地,步骤(2)所述第一真空溅射镀膜处理的功率为6.5~8kW;优选地,步骤(2)所述第一真空溅射镀膜处理的时间为1~2h;优选地,步骤(2)所述第一真空溅射镀膜处理的中间气体为氩气,氩气流量为10~14mL/s。6.根据权利要求1
‑
5任一项所述的镀镍方法,其特征在于,步骤(3)所述真空离子镀钛处理的温度为130~180℃;优选地,步骤(3)所述真空离子镀钛处理的真空度为3
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‑1~4
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‑1Pa;优选地,步骤(3)所述真空离子镀钛处理的电流为60~70A;优选地,步骤(3)所述真空离子镀钛处理的时间为1~2h;优选地,步骤(3)所述真空离子镀钛处理的中间气体为氩气,氩气流量为10~14mL/s。7.根据权利要求1
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6任一项所述的镀镍方法,其特征在于,步骤(4)所述第二真空溅射镀膜处理的温度为120~140℃;优选地,步骤(4)所述第二真空溅射镀膜处理的真空度为3
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【专利技术属性】
技术研发人员:姚力军,潘杰,边逸军,王学泽,黄文杰,
申请(专利权)人:宁波江丰电子材料股份有限公司,
类型:发明
国别省市:
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