扇形金手指的对位方法、装置、计算机设备及存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种扇形金手指的对位方法，应用于电测领域，用于提高扇形金手指的生产良率。本发明专利技术提供的方法包括：获取待对位扇形金手指对应的检测图像；将检测图像输入到对位模型中；基于预设的选取顺序，从检测图像中选取出一个待对位金属接触片与待对位金属接触片对应的测试金属接触片进行相对位置偏差计算，得到相对偏差值；当相对偏差值不小于预设值时，则对待对位金属接触片进行对位处理，返回基于预设的选取顺序，从检测图像中选取出一个待对位金属接触片与待对位金属接触片对应的测试金属接触片进行相对位置偏差计算，得到相对偏差值的步骤继续执行；当所有相对偏差值小于预设值时，确认待对位扇形金手指完成对位。确认待对位扇形金手指完成对位。确认待对位扇形金手指完成对位。

【技术实现步骤摘要】
扇形金手指的对位方法、装置、计算机设备及存储介质


[0001]本专利技术涉及电测领域，尤其涉及一种扇形金手指的对位方法、装置、计算机设备及存储介质。

技术介绍

[0002]金手指是指电路板、柔性电路板的端部通常设有的导电电极。在金手指的生产过程中，随着芯片功能的提高，金手指中金属接触片的数量增加，金属接触片分布密度提高。
[0003]传统的平行分布的金手指设计，要求提高金手指的金属接触片尺寸的设计精度，导致对产品的加工生产精度要求提高，进而使产品的生产良率下降。基于生产良率的考虑，将金手指的形状设计成扇形。但由于扇形金手指中金属接触片分布密度较高且并不平行，扇形金手指的金属接触片在生产过程中会形成累积偏差，从而降低了扇形金手指的生产良率。
[0004]因此，现有方式存在扇形金手指因生产过程中形成的累积偏差而生产良率低的问题。

技术实现思路

[0005]本专利技术实施例提供一种扇形金手指的对位方法、装置、计算机设备及存储介质，以提高扇形金手指的生产良率。
[0006]一种扇形金手指的对位方法，包括：
[0007]获取待对位扇形金手指对应的检测图像，其中，所述检测图像包括至少两个待对位金属接触片；
[0008]将所述检测图像输入到对位模型中，其中，所述对位模型由测试扇形金手指训练得到，所述测试扇形金手指的测试金属接触片与所述待对位金属接触片数量相等；
[0009]基于预设的选取顺序，从所述检测图像中选取出一个待对位金属接触片与所述待对位金属接触片对应的测试金属接触片进行相对位置偏差计算，得到相对偏差值；
[0010]当所述相对偏差值不小于预设值时，则对所述待对位金属接触片进行对位处理，返回基于预设的选取顺序，从所述检测图像中选取出一个待对位金属接触片与所述待对位金属接触片对应的测试金属接触片进行相对位置偏差计算，得到相对偏差值的步骤继续执行；
[0011]当所有所述相对偏差值小于预设值时，确认所述待对位扇形金手指完成对位。
[0012]一种扇形金手指的对位装置，包括：
[0013]图像获取模块，用于获取待对位扇形金手指对应的检测图像，其中，所述检测图像包括至少两个待对位金属接触片；
[0014]图像输入模块，用于将所述检测图像输入到对位模型中，其中，所述对位模型由测试扇形金手指训练得到，所述测试扇形金手指的测试金属接触片与所述待对位金属接触片数量相等；
[0015]相对位置偏差计算模块，用于基于预设的选取顺序，从所述检测图像中选取出一个待对位金属接触片与所述待对位金属接触片对应的测试金属接触片进行相对位置偏差计算，得到相对偏差值；
[0016]第一对位模块，用于当所述相对偏差值不小于预设值时，则对所述待对位金属接触片进行对位处理，返回基于预设的选取顺序，从所述检测图像中选取出一个待对位金属接触片与所述待对位金属接触片对应的测试金属接触片进行相对位置偏差计算，得到相对偏差值的步骤继续执行；
[0017]第二对位模块，用于当所有所述相对偏差值小于预设值时，确认所述待对位扇形金手指完成对位。
[0018]一种计算机设备，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述扇形金手指的对位方法的步骤。
[0019]一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述扇形金手指的对位方法的步骤。
[0020]本专利技术实施例提供的扇形金手指的对位方法、装置、计算机设备及存储介质，通过获取待对位扇形金手指对应的检测图像，其中，所述检测图像包括至少两个待对位金属接触片；将所述检测图像输入到对位模型中，其中，所述对位模型由测试扇形金手指训练得到，所述测试扇形金手指的测试金属接触片与所述待对位金属接触片数量相等；基于预设的选取顺序，从所述检测图像中选取出一个待对位金属接触片与所述待对位金属接触片对应的测试金属接触片进行相对位置偏差计算，得到相对偏差值；当所述相对偏差值不小于预设值时，则对所述待对位金属接触片进行对位处理，返回基于预设的选取顺序，从所述检测图像中选取出一个待对位金属接触片与所述待对位金属接触片对应的测试金属接触片进行相对位置偏差计算，得到相对偏差值的步骤继续执行；当所有所述相对偏差值小于预设值时，确认所述待对位扇形金手指完成对位。通过上述步骤扇形金手指使得金手指整体宽度可调节，通过调整扇形金手指中的金属接触片从而减少扇形金手指在生产中出现的累积偏差，从而提高了扇形金手指的生产良率。
附图说明
[0021]为了更清楚地说明本专利技术实施例的技术方案，下面将对本专利技术实施例的描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0022]图1是本专利技术一实施例中扇形金手指的对位方法的一应用环境示意图；
[0023]图2是本专利技术一实施例中扇形金手指的对位方法的一流程图；
[0024]图3是本专利技术一实施例中扇形金手指的对位装置的结构示意图；
[0025]图4是本专利技术一实施例中计算机设备的一示意图。
具体实施方式
[0026]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完
整地描述，显然，所描述的实施例是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0027]本申请提供的扇形金手指的对位方法，可应用在如图1的应用环境中，其中，计算机设备通过网络与服务器进行通信。其中，计算机设备可以但不限于各种个人计算机、笔记本电脑、智能手机、平板电脑和便携式可穿戴设备。服务器可以用独立的服务器或者是多个服务器组成的服务器集群来实现。
[0028]在一实施例中，如图2所示，提供一种扇形金手指的对位方法，以该方法应用在图1中的服务器为例进行说明，包括如下步骤S101至步骤S105：
[0029]S101、获取待对位扇形金手指对应的检测图像，其中，检测图像包括至少两个待对位金属接触片。
[0030]在步骤S101中，上述待对位扇形金手指是指需要进行金属接触片对位检测的扇形金手指。
[0031]上述获取检测图像的方法包括但不限于相机拍摄，扫描。
[0032]上述待对位金属接触片是指待对位扇形金手指上用于导电的所有接触点PIN。
[0033]此处需要说明的是，在一个合格的扇形金手指中，任意两个金属接触片均互不平行，每个金属接触片都有其对应唯一一个角度，即斜率，且金属接触片的斜率可进行调整。所有金属接触片所在的直线上有且只有一个交点。
[0034]通过获取待对位扇形金手指对应的检测图像，有利于对后续对位模型对检测图像进行处理从而快速有效地确定该待对位扇形金手指本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种扇形金手指的对位方法，其特征在于，包括：获取待对位扇形金手指对应的检测图像，其中，所述检测图像包括至少两个待对位金属接触片；将所述检测图像输入到对位模型中，其中，所述对位模型由测试扇形金手指训练得到，所述测试扇形金手指的测试金属接触片与所述待对位金属接触片数量相等；基于预设的选取顺序，从所述检测图像中选取出一个待对位金属接触片与所述待对位金属接触片对应的测试金属接触片进行相对位置偏差计算，得到相对偏差值；当所述相对偏差值不小于预设值时，则对所述待对位金属接触片进行对位处理，返回基于预设的选取顺序，从所述检测图像中选取出一个待对位金属接触片与所述待对位金属接触片对应的测试金属接触片进行相对位置偏差计算，得到相对偏差值的步骤继续执行；当所有所述相对偏差值小于预设值时，确认所述待对位扇形金手指完成对位。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取待对位扇形金手指对应的检测图像，其中，所述检测图像包括至少两个待对位金属接触片的步骤包括：基于至少两个光源，获取待对位扇形金手指对应的检测图像，其中，所述检测图像包括至少两个待对位金属接触片。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于预设的选取顺序，从所述检测图像中选取出一个待对位金属接触片与所述待对位金属接触片对应的测试金属接触片进行相对位置偏差计算，得到相对偏差值之前，所述方法包括：基于预设的梯形选取方式，通过所述检测图像上的待对位金属接触片确定所述检测图像的形状，得到待检测梯形，其中，所述待检测梯形的上底宽度为L1，下底宽度为L2；分别选取所述待检测梯形的左腰和右腰，与所述测试扇形金手指对应的质检梯形对应的腰进行斜率对比，得到对比结果，其中，所述质检梯形的上底宽度为L3，下底宽度为L4；当所述对比结果为所述待检测梯形与所述质检梯形对应腰的斜率之差均低于预设值时，则判断所述待检测梯形和所述质检梯形是否具有重合区域，得到判断结果；若所述判断结果为所述待检测梯形和所述质检梯形存在重合区域，则对比所述L2和所述L4的宽度，得到宽度最大的下底，并将所述宽度最大的下底作为基准边；获取所述质检梯形两条腰所在的直线的交点作为顶点，所述基准边作为底边，构造对位三角形。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述当所述对比结果为所述待检测梯形与所述质检梯形对应腰的斜率之差均低于预设值时，则判断所述待检测梯形和所述质检梯形是否具有重合区域，得到判断结果的步骤包括：当所述对比结果为所述待检测梯形与所述质检梯形对应腰的斜率之差均低于预设值时，则将所述待检测梯形的上底和下底分别与所述质检梯形的上底和下底进行比较；若存在所述L1大于所述L3且所述L1小于所述L4，或所述L3大于所述L1且所述L3小于所述L2，则所述判断结果为所述待检测梯形和所述质检梯形存在重合区域，否则，所述判断结果为所述待检测梯形和所述质检梯形不存在重合区域。5.根据权利要求3至4任一项所述的方法，其特征在于，所述基于预设选取顺序，从所述检测图像中选取出一个待对位金属接触片与所述待对位金属接触片对应的测试金属接触片进行相对位置偏差计算，得到相对偏差值的步骤包括：
基于所述对位三角形，对所有所述待对位金属接触片与所述待对位金属接触片对应的测试金属接触片进行对位处理，使得所述待检测梯形和所述质检梯形位于所述对位三角形中；获取与预设高度相等且与所述对位三角形相交的水平线；将所述水平线与每一个所述待对位金属接触片相交，得到每一个所述待对位金属接触片对应的待对位交点；将所述水平线与每一个所述测试金属接触片相交，得...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄秉文，
申请(专利权)人：深圳市燕麦科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：