本实用新型专利技术涉及半导体激光器芯片技术领域，公开了一种半导体激光器芯片测试固定装置，所述测试台的前表面固接有控制器，且测试台的前表面还固接有第一收纳盒和第二收纳盒，所述测试台的上表面一侧安装有推送机构，安装盒的内壁两侧均开设有滑槽，且安装盒的内部还安装有调节机构。通过推送机构可以对合格芯片和不合格芯片进行临时存储，并推送至第一收纳盒和第二收纳盒内进行分类收集，方便后续集中处理，该方式解决了传统芯片检测后无法对合格和不合格品进行分类收集的弊端，通过调节机构可以带动第二夹板向前侧移动，从而对半导体激光器芯片进行夹紧，而通过弹性夹持的方式可以避免传统夹具夹持力度过大对半导体激光器芯片造成损伤。片造成损伤。片造成损伤。
【技术实现步骤摘要】
一种半导体激光器芯片测试固定装置
[0001]本技术涉及半导体激光器芯片
，具体是一种半导体激光器芯片测试固定装置。
技术介绍
[0002]半导体激光器是最重要的一类激光器，它体积小、寿命长，并可采用简单地注入电流的方式来泵浦，其工作电压和电流与集成电路兼容，因而可与之单片集成，并且还可以用高达GHz的频率直接进行电流调制以获得高速调制的激光输出。由于这些优点，半导体二极管激光器在激光通信、光存储、光陀螺、激光打印、测距以及雷达等方面得到了广泛的应用，芯片是半导体激光器的核心构件，半导体激光器芯片在生产出来以后，需要对其各项性能进行测试，测试过程中，需要对其进行夹持固定。
[0003]现有的固定装置大多通过夹具进行夹持，而传统夹具都是刚性夹持，容易对半导体激光器芯片造成损坏，同时现有的半导体激光器芯片在固定测试完以后，难以对合格芯片和不合格芯片进行分类收集。因此，本领域技术人员提供了一种半导体激光器芯片测试固定装置，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
技术实现思路
[0004]本技术的目的在于提供一种半导体激光器芯片测试固定装置，通过推送机构可以对合格芯片和不合格芯片进行临时存储，并推送至第一收纳盒和第二收纳盒内进行分类收集，方便后续集中处理，该方式解决了传统芯片检测后无法对合格和不合格品进行分类收集的弊端，实用性强，通过调节机构可以带动第二夹板向前侧移动，从而对半导体激光器芯片进行夹紧，防止其在检测时出现松动影响检测精准度，同时该调节机构可以根据实际需要来调节第二夹板的夹持力度，而通过弹性夹持的方式可以避免传统夹具夹持力度过大对半导体激光器芯片造成损伤。
[0005]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：
[0006]一种半导体激光器芯片测试固定装置，包括测试台，测试台的上表面拐角处固接有第一夹板，第一夹板的后侧安装有第二夹板，所述测试台的前表面固接有控制器，且测试台的前表面还固接有第一收纳盒和第二收纳盒，所述测试台的上表面一侧安装有推送机构，所述测试台的上表面还固接有安装盒，安装盒的内壁两侧均开设有滑槽，且安装盒的内部还安装有调节机构；
[0007]所述推送机构包括安装板、电动推杆、紧固架、第一滑轨、第一推板、第二推板和第二滑轨，所述电动推杆的一端固接有安装板，且电动推杆的另一端固接有紧固架，紧固架的两端分别固接有第一推板和第二推板，所述第一推板的外部活动套接有第一滑轨，第二推板的外部活动套接有第二滑轨。
[0008]作为本技术再进一步的方案：所述安装板、第一滑轨和第二滑轨均固接在测试台的上表面。
[0009]作为本技术再进一步的方案：所述电动推杆的固定端固接在安装板上，且电动推杆的伸缩端固接在紧固架上。
[0010]作为本技术再进一步的方案：所述第一滑轨和第二滑轨均为“凵”型结构。
[0011]作为本技术再进一步的方案：所述调节机构包括螺纹杆、调节板、金属圈、接触板、弹簧和衔接杆，所述螺纹杆的一端螺纹贯穿安装盒的后表面并通过轴承转动连接有调节板，调节板的前侧处安装有接触板，调节板和接触板之间固接有三个金属圈，接触板的前表面两侧均固接有衔接杆，接触板和安装盒之间连接有弹簧。
[0012]作为本技术再进一步的方案：所述衔接杆活动贯穿安装盒的前表面并固接在第二夹板的后表面。
[0013]作为本技术再进一步的方案：所述接触板活动安装在安装盒的内部，弹簧的一端连接在安装盒的内部。
[0014]作为本技术再进一步的方案：所述调节板的两侧均固接有滑块，滑块滑动连接在滑槽的内部。
[0015]与现有技术相比，本技术的有益效果是：
[0016]1、通过推送机构可以对合格芯片和不合格芯片进行临时存储，并推送至第一收纳盒和第二收纳盒内进行分类收集，方便后续集中处理，该方式解决了传统芯片检测后无法对合格和不合格品进行分类收集的弊端，实用性强；
[0017]2、通过调节机构可以带动第二夹板向前侧移动，从而对半导体激光器芯片进行夹紧，防止其在检测时出现松动影响检测精准度，同时该调节机构可以根据实际需要来调节第二夹板的夹持力度，而通过弹性夹持的方式可以避免传统夹具夹持力度过大对半导体激光器芯片造成损伤。
附图说明
[0018]图1为一种半导体激光器芯片测试固定装置的结构示意图；
[0019]图2为一种半导体激光器芯片测试固定装置中推送机构的结构示意图；
[0020]图3为一种半导体激光器芯片测试固定装置中调节机构的结构示意图。
[0021]图中：1、安装盒；2、第二夹板；3、第一夹板；4、控制器；5、测试台；6、第一收纳盒；7、第二收纳盒；8、安装板；9、电动推杆；10、紧固架；11、第一滑轨；12、第一推板；13、第二推板；14、第二滑轨；15、推送机构；16、滑槽；17、螺纹杆；18、调节板；19、金属圈；20、接触板；21、弹簧；22、衔接杆；23、调节机构。
具体实施方式
[0022]实施例1
[0023]请参阅图1和图2，一种半导体激光器芯片测试固定装置，包括测试台5，测试台5的上表面拐角处固接有第一夹板3，第一夹板3的后侧安装有第二夹板2，测试台5的前表面固接有控制器4，且测试台5的前表面还固接有第一收纳盒6和第二收纳盒7，测试台5的上表面一侧安装有推送机构15，推送机构15包括安装板8、电动推杆9、紧固架10、第一滑轨11、第一推板12、第二推板13和第二滑轨14，电动推杆9的一端固接有安装板8，且电动推杆9的另一端固接有紧固架10，紧固架10的两端分别固接有第一推板12和第二推板13，第一推板12的
外部活动套接有第一滑轨11，第二推板13的外部活动套接有第二滑轨14，安装板8、第一滑轨11和第二滑轨14均固接在测试台5的上表面，电动推杆9的固定端固接在安装板8上，且电动推杆9的伸缩端固接在紧固架10上，第一滑轨11和第二滑轨14均为“凵”型结构，通过推送机构15可以对合格芯片和不合格芯片进行临时存储，并推送至第一收纳盒6和第二收纳盒7内进行分类收集，方便后续集中处理，该方式解决了传统芯片检测后无法对合格和不合格品进行分类收集的弊端，实用性强。
[0024]在图1和图3中，测试台5的上表面还固接有安装盒1，安装盒1的内壁两侧均开设有滑槽16，且安装盒1的内部还安装有调节机构23，调节机构23包括螺纹杆17、调节板18、金属圈19、接触板20、弹簧21和衔接杆22，螺纹杆17的一端螺纹贯穿安装盒1的后表面并通过轴承转动连接有调节板18，调节板18的前侧处安装有接触板20，调节板18和接触板20之间固接有三个金属圈19，接触板20的前表面两侧均固接有衔接杆22，接触板20和安装盒1之间连接有弹簧21，衔接杆22活动贯穿安装盒1的前表面并固接在第二夹板2的后表面，接触板20活动安装在安装盒1的内部，弹簧21的一端连接在安装盒1的内部，调节板18的两侧均固接有滑块，滑块滑动连接在滑槽16的内部，通过调节机构本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种半导体激光器芯片测试固定装置，包括测试台(5)，测试台(5)的上表面拐角处固接有第一夹板(3)，第一夹板(3)的后侧安装有第二夹板(2)，其特征在于，所述测试台(5)的前表面固接有控制器(4)，且测试台(5)的前表面还固接有第一收纳盒(6)和第二收纳盒(7)，所述测试台(5)的上表面一侧安装有推送机构(15)，所述测试台(5)的上表面还固接有安装盒(1)，安装盒(1)的内壁两侧均开设有滑槽(16)，且安装盒(1)的内部还安装有调节机构(23)；所述推送机构(15)包括安装板(8)、电动推杆(9)、紧固架(10)、第一滑轨(11)、第一推板(12)、第二推板(13)和第二滑轨(14)，所述电动推杆(9)的一端固接有安装板(8)，且电动推杆(9)的另一端固接有紧固架(10)，紧固架(10)的两端分别固接有第一推板(12)和第二推板(13)，所述第一推板(12)的外部活动套接有第一滑轨(11)，第二推板(13)的外部活动套接有第二滑轨(14)。2.根据权利要求1所述的一种半导体激光器芯片测试固定装置，其特征在于，所述安装板(8)、第一滑轨(11)和第二滑轨(14)均固接在测试台(5)的上表面。3.根据权利要求1所述的一种半导体激光器芯片测试固定装置，其特征在于，所述电动推杆(9)的固定端固接在安装板(8)...
【专利技术属性】
技术研发人员：焦英豪，毛森，吴文涛，
申请(专利权)人：勒威半导体技术嘉兴有限公司，
类型：新型
国别省市：
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