一种多芯片封装结构的封装方法技术

本发明专利技术涉及一种多芯片封装结构及其封装方法，尤其涉及一种以引线框架为芯片载体的多芯片封装结构及其封装方法。本发明专利技术所要解决的技术问题是提供一种低成本、高密度的芯片封装结构，其包括：引线框架，包括：芯片座、内引脚和外引脚；分别置于芯片座两面的至少两个芯片，芯片与内引脚用导线电性连接；包覆芯片座第一面上的芯片、导线以及部分内引脚的第一塑封材料；以及包覆第一塑封材料、芯片座第二面上的芯片和导线以及引线框架的内引脚的第二塑封材料。本发明专利技术还提供了上述封装结构的封装方法。本发明专利技术提供一种以引线框架为芯片载体的多芯片封装结构。因引线框架的成本将比基板低很多，从而可实现低成本、高密度的芯片封装结构。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及，尤其涉及一种以引线框 架为芯片载体的多芯片封装结构及其封装方法。
技术介绍
在现今的信息时代，电子产品充斥于社会的各个领域中，人类的生活方 式和生产方式有了前所未有的大变革。随着电子科技的不断演进，更人性化、 功能更强的电子产品随之应运而生。为了满足电子产品的小型化、低成本、高 密度和多功能的要求，就芯片封装而言，出现了在一个封装体内包覆多个芯片，比如多芯片模块(Multi-chip-module)技术、堆叠芯片(StackDie)技术等。 请参见图1，图1是现有技术的多芯片模块封装的结构示意图。如图所示， 本封装结构包括基片110、多个芯片120、多个导线130、锡球150和塑封材 料160。其中，基板n0具有一基板表面lll及对应的一基板背面112，在基 板111面具有多个芯片座113及多个导线焊垫114;在基板110背面112有多 个锡球焊垫115;每个芯片120具有主动表面121及对应的背面122，在其主 动面121上配备有多个导线焊垫123。芯片120以其背面122通过芯片粘接剂 140粘接在基板110的芯片座113上。导线130的一端与基板110正面111上 的导线焊垫114电连接，而另一端则与芯片120的导线焊垫123电连接。塑封 材料160包覆基片110、芯片120和导线130。锡球150配置于基板110背面 112的锡球焊垫115上。以基板为芯片载体的多芯片封装虽然满足了小型化、高密度的要求，但 是由于基板的成本较高，不适合要求低成本、高密度的产品，例如一些存储芯 片。因此，如何实现低成本高密度的封装结构己是重要课题。专利
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是提供一种低成本、高密度的芯片封装结 构，其包括引线框架，包括芯片座、内引脚和外引脚；分别置于所述芯片座两面的至少两个芯片，所述芯片与所述内引脚用导线电性连接；包覆所述芯 片座第一面上的芯片、导线以及部分内引脚的第一塑封材料；以及包覆所述第 一塑封材料、所述芯片座第二面上的芯片和导线以及所述引线框架的内引脚的 第二塑封材料。在上述的多芯片封装结构中，所述芯片座两面分别放置一个芯片。 在上述的多芯片封装结构中，所述至少一个芯片上堆叠有至少一个芯片。 在上述的多芯片封装结构中，所述第一塑封材料为液态塑封材料。 在上述的多芯片封装结构中，所述第二塑封材料为注塑型塑封材料。本专利技术还提供了一种多芯片封装结构的封装方法，所述封装结构包括引线框架、至少两个芯片、导线、第一塑封材料以及第二塑封材料，所述方法包括(1) 在所述引线框架的一面覆盖一层不与所述第一塑封材料结合的 薄膜；(2) 在所述引线框架的另一面上通过粘结剂将所述第一芯片粘贴在 所述引线框架的芯片座上；(3) 用所述导线进行引线键合，完成第一芯片和所述引线框架的电 性连接；(4) 用所述第一塑封材料包覆所述第一芯片、第一芯片所在面的导 线和部分内引脚；(5) 固化所述第一塑封材料；(6) 揭去所述覆盖在引线框架上的薄膜；(7) 用步骤(2)的方法在引线框架的一面上进行第二芯片的粘贴；(8) 用步骤(3)的方法完成所述第二芯片和所述引线框架的电性连 接；(9) 用第二塑封材料包覆所述第一塑封材料、第二芯片、第二芯片 所在面的导线以及所述引线框架内的内引脚；(10) 固化所述第二塑封材料；(11) 对整个封装结构进行切割和引脚加工。 在上述的多芯片封装结构的封装方法中，所述第一塑封材料为液态塑封材料。在上述的多芯片封装结构的封装方法中，所述第二塑封材料为注塑型塑 封材料。在上述的多芯片封装结构的封装方法中，在步骤(2)之后步骤(4)之 前添加以下步骤使用芯片堆叠技术在所述第一芯片上放置至少一个芯片；用 所述导线进行引线键合，完成这些芯片和所述引线框架的电性连接。在上述的多芯片封装结构的封装方法中，在步骤(7)之后步骤(9)之 前添加以下步骤使用芯片堆叠技术在所述第二芯片上放置至少一个芯片；用 所述导线进行引线键合，完成这些芯片和所述引线框架的电性连接。本专利技术提供一种以引线框架为芯片载体的多芯片封装结构。因引线框 架的成本将比基板低很多，从而可实现低成本、高密度的芯片封装结构。附图说明下面结合附图对本专利技术的具体实施方式作进一步的详细说明，其中: 图l是现有技术的多芯片模块封装的结构示意图； 图2是本专利技术的多芯片封装结构的一个实施例的结构示意图； 图3是本专利技术的多芯片封装结构的另一个实施例的结构示意图； 图4-图8示出本专利技术的多芯片封装结构的一个实施例的制作步骤。具体实施例方式请参见图2，图2是本专利技术的多芯片封装结构的一个实施例的结构示意 图。如图所示，本专利技术的封装结构包括引线框架210、第一芯片220和第 二芯片230、液态塑封材料260和注塑型塑封材料270。其中，引线框架210包括芯片座213、内引脚214以及外引脚215。第一 芯片220通过芯片粘接剂240粘在引线框架210的芯片座213的211面上。两根 金属导线250—端与引线框架210的内引脚214相连，另一端与第一芯片220 的焊垫221相连，从而实现第一芯片220和引线框架210的电性连接。第二芯 片230通过相同的方式粘贴在引线框架210的芯片座23的212面上，同时用 相同的方法电性连接。液态塑封材料260 (其特点为常温下为液态，加热后呈固态)包覆第一芯片220、在引线框架210的211面的导线250以及部分内 引脚214的一面。注塑型塑封材料270 (其特点为常温下为固态，加热后先 转化成液态，再呈固态)包覆液态型塑封材料260、第二芯片230、导线250 以及引线框架210的内引脚214和芯片座213，形成最终的塑封体。接下来介绍本实施例的封装结构的具体封装方法。请看图4-图8，图4-图8示出本专利技术的多芯片封装结构的一个实施例的制作步骤。封装方法包括(1) 如图4所示，在引线框架210的212面上覆盖胶带280。(2) 接着如图5所示，在引线框架210的211面上，通过芯片粘结剂240 把第一芯片220粘贴在芯片座213上。芯片粘结剂240可包括银浆(添加银填 充料的环氧树脂)等。(3) 然后进行引线键合(Wire Bonding)，完成第一芯片220和引线 框架210的电性连接。(4) 接着如图6所示，用液态塑封材料260包覆第一芯片220和在211 面的金属导线250和部分内引脚210。液态塑封材料260可包括液态环氧树脂 塑封材料，例如乐泰公司的FP4450HF。由于有胶带280的覆盖，在引线框 架210的212面上将不会有液体塑封材料。(5) 随后加热使液态塑封材料260固化。不同的材料固化条件不同， 例如乐泰公司的FP4450HF的固化温度为150度，需加热2小时。(6) 接着如图7所示，揭去覆盖212面的胶带280。(7) 然后用相同的方法在这一面进行第二芯片230的粘贴。(8) 进行引线键合，完成第二芯片230与引线框架210的电性连接。(9) 接着如图8所示，用注塑的方法用注塑型塑封材料270包覆液态 型塑封材料260、第二芯片230、导线250以及引线框架210的内引脚，形成 最终的塑封体。注塑型塑封材料270可包括环氧塑封材料，例如日东公司的 7470。(10) 之后加本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种多芯片封装结构，包括：引线框架，包括：芯片座、内引脚和外引脚；分别置于所述芯片座两面的至少两个芯片，所述芯片与所述内引脚用导线电性连接；包覆所述芯片座第一面上的芯片、导线以及部分内引脚的第一塑封材料；以及 包覆所述第一塑封材料、所述芯片座第二面上的芯片和导线以及所述引线框架的内引脚的第二塑封材料。

【技术特征摘要】
1.一种多芯片封装结构，包括引线框架，包括芯片座、内引脚和外引脚；分别置于所述芯片座两面的至少两个芯片，所述芯片与所述内引脚用导线电性连接；包覆所述芯片座第一面上的芯片、导线以及部分内引脚的第一塑封材料；以及包覆所述第一塑封材料、所述芯片座第二面上的芯片和导线以及所述引线框架的内引脚的第二塑封材料。2. 如权利要求l所述的多芯片封装结构，其特征在于，所述芯片座两面分 别放置一个芯片。3. 如权利要求2所述的多芯片封装结构，其特征在于，所述至少一个芯片 上堆叠有至少一个芯片。4. 如权利要求l-3所述的多芯片封装结构，其特征在于，所述第一塑封材 料为液态塑封材料。5. 如权利要求l-3所述的多芯片封装结构，其特征在于，所述第二塑封材 料为注塑型塑封材料。6. —种多芯片封装结构的封装方法，所述封装结构包括引线框架、至 少两个芯片、导线、第一塑封材料以及第二塑封材料，所述方法包括(1) 在所述引线框架的一面覆盖一层不与所述第一塑封材料结合的薄膜(2) 在所述引线框架的另一面上通过粘结剂将所述第一芯片粘贴在所述引线框架的芯片座上；(3) 用所述导线进行引线键合，完成第一芯片和所述引线框架的电性连 接；(4) 用所述第一塑封材料包覆所述第一芯片...

【专利技术属性】
技术研发人员：郑清毅，
申请(专利权)人：日月光封装测试上海有限公司，
类型：发明
国别省市：31[]