一种针对工业半导体器件的同步测试冶具制造技术

技术编号:31740801 阅读:28 留言:0更新日期:2022-01-05 16:19
本实用新型专利技术公开了一种针对工业半导体器件的同步测试冶具,本实用新型专利技术涉及测试冶具技术领域。该针对工业半导体器件的同步测试冶具,通过定位组件以及测试组件的设置,当对应的定位板被压入对应的滑槽内部时,会使得其两侧的导电片通过导线与机架顶面的测试模块连通,当定位板持续向下压动时,其底部设置的若干个防滑片会与器件的顶面贴合,避免测试时器件出现移动的现象,其底部的导电头会分别与器件的两个电极端连接,实现器件与测试模块之间的电路连通,便于对器件进行检测作业,相较于传统的测试方式,能够进行多个器件同时测试的同时便于对器件进行连接、固定,提升了冶具使用的便捷性、节约了测试所需的时间。节约了测试所需的时间。节约了测试所需的时间。

【技术实现步骤摘要】
一种针对工业半导体器件的同步测试冶具


[0001]本技术涉及测试冶具
,具体为一种针对工业半导体器件的同步测试冶具。

技术介绍

[0002]测试冶具,主要用于对零件、元件等进行在线检测;是对在线元器件的性能、原理及电气连接进行测试来检查生产制造缺陷及元器件不良的一种标准测试设。
[0003]现有的冶具在对半导体等器件进行检测作业时,通常需要通过将半导体电极端连接至设备内部,然后通过设备内部的检测模块进行性能检测,且通常只能单个连接测试,较为繁琐的同时延长了器件检测所需的时间。

技术实现思路

[0004]针对现有技术的不足,本技术提供了一种针对工业半导体器件的同步测试冶具,解决了电极连接时较为繁琐、浪费时间过多的问题。
[0005]为实现以上目的,本技术通过以下技术方案予以实现:一种针对工业半导体器件的同步测试冶具,包括机架,所述机架的顶面端部分别固定安装有测试模块以及显示屏,所述机架的顶面另一端固定安装有测试箱,所述测试箱的内部设置有定位组件、且测试箱的内部两侧均开设有放置槽,所述定位组件包含有定位框台,所述定本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种针对工业半导体器件的同步测试冶具,包括机架(1),所述机架(1)的顶面端部分别固定安装有测试模块(2)以及显示屏(3),其特征在于:所述机架(1)的顶面另一端固定安装有测试箱(4),所述测试箱(4)的内部设置有定位组件、且测试箱(4)的内部两侧均开设有放置槽;所述定位组件包含有定位框台(5),所述定位框台(5)的两侧均开设有定位孔(501)、且通过定位孔(501)固定安装在测试箱(4)的内部,所述定位框台(5)的内部开设有限位槽(502)以及若干个滑槽(503)、且限位槽(502)与若干个滑槽(503)相互贯通,所述限位槽(502)与若干个滑槽(503)连接处均设置有支撑组件,所述限位槽(502)的内部滑动安装有若干个定位板(7),若干个所述定位板(7)的底部两侧均固定安装有若干个防滑片(701),若干个所述定位板(7)的内部两侧均设置有测试组件。2.根据权利要求1所述的一种针对工业半导体器件的同步测试冶具,其特征在于:所述支撑组件包含有支撑板(6),所述支撑板(6)的内部转动安装有限位轴(601),所述限位轴(601)的两端均固定安装有侧夹板(603)、且圆周外侧固定套接有弹簧体(602),两个所述侧夹板(603)的另一端分别固定连接至定位轴(604)的两侧,所述定位轴(604)固定安装在定位框台(5)的内...

【专利技术属性】
技术研发人员:刘国清胡旭伟
申请(专利权)人:杭州必耕自动化设备有限公司
类型:新型
国别省市:

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