利用离子阱质量分析器获得高准确度质谱的方法和利用离子阱质量分析器确定和/或减小质量分析中化学位移的方法技术

一种利用离子阱质量分析器获得高准确质谱的方法包括：调整该分析器的工作参数，以启动质量选择共振射出模式下的反向质量扫描；以及，设定捕获场以俘获一个质荷比范围内的离子，该范围具有接近所关心离子质荷比的下限。一种确定化学位移的方法包括：调整该分析器的工作参数以启动正向和反向质量扫描；以及，校准从正向和反向质量扫描获得的质谱。（*该技术在2024年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及如四极离子阱质量分析器这样的离子阱质量分析器的操作。自从几十年前专利技术了质量选择不稳定模式以后，四极离子阱质量分析器已被开发并用作质谱仪(美国专利4540884)。后来，在一系列的美国专利中，例如美国专利No.4736101、No.4749860、No.4882484，披露了一整套的利用离子从离子阱中共振射出的MS和MS/MS方法。根据这些方法，商用离子阱质谱仪仪器被制造并被广泛使用。这些仪器的工作原理可以概括如下A)通过加捕获射频电压到离子阱上捕获预定质量范围内的离子；B)在两个端盖电极之间加辅助交流电压引起不想要离子的共振射出；C)施加用于激活剩余前体离子的辅助交流电压引起产生产物离子的碰撞离解；最后，D)扫描捕获射频或辅助交流电压的参数以按照其质荷比共振射出离子，于是E)通过测量射出的离子可以获得质谱。普遍承认，与利用其他现代质量分析器获得的质量测量准确度比较，离子阱质谱仪的质量测量准确度是差的。这可归因于两个因素a)捕获离子感应的空间电荷的影响，和b)由于离子的物理化学性质而引起的所谓化学位移。当离子阱填充以大量离子时，空间电荷效应就产生。离子密度增加导本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种利用离子阱质量分析器获得高准确质谱的方法，包括以下步骤：调整离子阱质量分析器的工作参数，以启动反向质量扫描，其中，离子的质量选择共振射出是按照质荷比减小的次序进行的；设定捕获场以捕获一个质荷比范围内的阱离子，该范围的下限 接近所关心离子的质荷比，对于该所关心离子需要高准确测量；在所述反向质量扫描期间改变捕获或激励场以射出离子，并检测射出的离子以获得反向质量扫描谱。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】GB 2003-6-5 0312940.01.一种利用离子阱质量分析器获得高准确质谱的方法，包括以下步骤调整离子阱质量分析器的工作参数，以启动反向质量扫描，其中，离子的质量选择共振射出是按照质荷比减小的次序进行的；设定捕获场以捕获一个质荷比范围内的阱离子，该范围的下限接近所关心离子的质荷比，对于该所关心离子需要高准确测量；在所述反向质量扫描期间改变捕获或激励场以射出离子，并检测射出的离子以获得反向质量扫描谱。2.如权利要求1中所述的方法，其中，离子阱质量分析器是3维四极离子阱，该离子阱包括环状电极和两个端盖电极，其中，所述端盖电极之一具有入口，以及场调整电极位于邻近所述入口的捕获区的外部。3.如权利要求2中所述的方法，其中，调整所述参数的步骤包括在场调整电极上设定直流电压，该直流电压的电平在离子共振射出期间使长期频移最小或引起长期频率的向下偏移。4.如权利要求1中所述的方法，包括在进行反向质量扫描之前，通过利用共振射出方法射出不想要的离子或者通过将不想要的离子放置在不稳定区来调整捕获的离子的质荷比范围。5.如权利要求1或4中所述的方法，其中，调整所述质荷比范围，使得要被准确测量的种类的单一同位素峰的质荷比是该范围内最小的。6.如权利要求1到5中的任何一个中所述的方法，其中，所述反向扫描或所述离子射出是在同常规全扫描的质荷比范围相比小的质荷比范围内进行的一个过程。7.如权利要求1到6中的任何一个中所述的方法，其中，反向扫描是变焦扫描。8.如权利要求1到7中的任何一个中所述的方法，其中，所述调整步骤在所述设定步骤之前进行。9.如权利要求1到7中的任何一个中所述的方法，其中，所述设定步骤在所述调整步骤之前进行。10.一种确定和...

【专利技术属性】
技术研发人员：丁力，FL布兰恰，
申请(专利权)人：岛津研究所欧洲有限公司，
类型：发明
国别省市：GB[英国]