一种可同时对可见光谱段和短波红外谱段成像的电子学系统技术方案

本申请属于光电探测技术领域，特别是涉及一种同时对可见光谱段和短波红外谱段成像的电子学系统，包括：探测器，用于探测可见光谱段和短波红外谱段的目标；温控单元，用于保持所述探测器温度恒定；FPGA控制单元，用于处理和整合图像信息和温度信息；数据输出单元，用于将处理好的信息传输给快视设备；电源供电单元，用于为其他单元提供所述直流电平。本申请采用单个成像系统，有效增加探测器输入能量，提高了仪器整体性能。提高了仪器整体性能。提高了仪器整体性能。

【技术实现步骤摘要】
一种可同时对可见光谱段和短波红外谱段成像的电子学系统


[0001]本申请涉及光电探测
，特别是涉及一种同时对可见光谱段和短波红外谱段成像的电子学系统。

技术介绍

[0002]近年来，随着红外焦平面探测器的发展，多谱段的成像光谱仪已经广泛应用于航空航天探测、大气成分分析以及军事国防等领域。可见光谱段(400nm
‑
700nm)和短波红外谱段(1000nm
‑
2000nm)是高光谱成像系统最常见的两个谱段。传统情况下，可见光谱段通常采用CMOS图像探测器或CCD探测器，短波红外谱段采用InGaAs探测器，二者无法采用相同的传感器技术。光学系统除了常规的望远镜系统、聚焦系统、准直系统以及狭缝，还需要分光系统，将入射光分配给不同谱段的成像系统。
[0003]由于可见光谱段和短波红外谱段分别采用不同的探测器，所以多谱段的光谱仪通常需要多片昂贵的探测器以及独立的光机系统，整机尺寸和系统成本居高不下。同时常规的FPGA接口无法兼容索尼探测器SLVS标准，另外常规的温控做法是采用运算放大器、功率晶体管等模拟器件本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种可同时对可见光谱段和短波红外谱段成像的电子学系统，其特征在于，包括：探测器，用于探测可见光谱段和短波红外谱段的目标，温控单元，用于保持所述探测器温度恒定，FPGA控制单元，用于处理和整合图像信息和温度信息，数据输出单元，用于将处理好的信息传输给快视设备，电源供电单元，用于为其他单元提供所述直流电平。2.根据权利要求1所述的一种可同时对可见光谱段和短波红外谱段成像的电子学系统，其特征在于，所述探测器采用输出寄存器的方式，以数字量的形式提供所述探测器的实时温度。3.根据权利要求2所述的一种可同时对可见光谱段和短波红外谱段成像的电子学系统，其特征在于，所述探测器为探测器IMX991，其输出信号标准为五路，其中四路为图像信号，一路为伴随时钟信号。4.根据权利...

【专利技术属性】
技术研发人员：张航，李帅，郑玉权，
申请(专利权)人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所，
类型：发明
国别省市：