【技术实现步骤摘要】
一种带有终端结构的GaN基射频器件及其制作方法
[0001]本专利技术属于半导体
,具体涉及一种带有终端结构的GaN基射频器件及其制作方法。
技术介绍
[0002]随着信息化的快速发展,无线通讯、雷达、卫星等各领域都对微波大功率器件提出了更高的要求,而近年来发展的氮化镓材料作为第三代宽禁带半导体材料的代表,氮化镓基异质结形成高浓度、高迁移率的二维电子气沟道,使氮化镓基场效应晶体管具有禁带宽度大、临界击穿场强高,热导率大、饱和电子飘移速度高、载流子迁移率高等特性,特别满足高压、高温、大功率应用,成为未来微波器件的绝佳选择。
[0003]尽管氮化镓(GaN)器件已经取得快速发展与应用,但随着对微波功率器件的输出功率与效率的提高,在高压下漏电流大、可靠性差等问题仍有待进一步解决。在器件制备工艺方面,相关技术中普遍采用场板结构来提高器件的击穿电压,并抑制电流崩塌。然而,具有场板结构的器件工作在30GHz以上毫米波频段时会引入寄生电容,从而弱化了器件的频率特性,影响微波器件的应用场景。
技术实现思路
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【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种带有终端结构的GaN基射频器件,其特征在于,包括:衬底;位于所述衬底一侧的成核层;位于成核层远离所述衬底一侧的缓冲层;位于缓冲层远离所述衬底一侧的沟道层;位于所述沟道层远离所述衬底一侧的势垒层,沿垂直于所述衬底所在平面的方向,所述势垒层包括远离所述沟道层的第一表面,所述第一表面包括源电极、栅电极和漏电极;其中,源电极与漏电极相对设置于第一表面的两侧,栅电极位于所述源电极和所述漏电极之间;位于所述势垒层远离衬底一侧的钝化层,所述钝化层包括第一钝化层、以及位于所述第一钝化层远离所述第一表面一侧的第二钝化层;所述第一钝化层包括阴离子注入区,沿垂直于所述衬底所在平面的方向,所述阴离子注入区的正投影位于所述栅电极与所述漏电极之间。2.根据权利要求1所述的带有终端结构的GaN基射频器件,其特征在于,所述钝化层包括绝缘材料。3.根据权利要求2所述的带有终端结构的GaN基射频器件,其特征在于,所述绝缘层料包括SiO2、SiN或Al2O3。4.根据权利要求1所述的带有终端结构的GaN基射频器件,其特征在于,所述阴离子注入区包括F
‑
或Cl
‑
。5.根据权利要求1所述的带有终端结构的GaN基射频器件,其特征在于,所述阴离子注入区中的阴离子注入剂量为1
×
10
12
~1
×
10
16
cm
‑2。6.根据权利要求1所述的带有终端结构的GaN基射频器件,其特征在于,所述第一钝化层包括多个阴离子注入区;沿源电极指向漏电极的方向...
【专利技术属性】
技术研发人员:马晓华,芦浩,侯斌,霍腾,杨凌,张濛,鲁微,郝跃,
申请(专利权)人:西安电子科技大学,
类型:发明
国别省市:
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