一种电子产品老化自动测试平台及其测试方法技术

本发明专利技术公开一种电子产品老化自动测试平台及其测试方法，包括测试箱体，测试箱体的内部设有至少两个测试腔，每个测试腔的内部均安装有测试板，每个的顶部均盖设有箱门，测试箱体的顶部位于箱门的两侧开设有凹槽，凹槽的内部滑动安装有母板，母板的顶部固定连接有滑座，箱门两侧固定连接的轴杆嵌入至滑座中并与之限位活动配合连接，每个测试腔的内壁上均固定连接有两个固定板，固定板的顶端沿竖直方向固定连接有第二气缸，第二气缸的顶端安装有用于支撑箱门的磁性滚轮，测试箱体的顶部位于两个测试腔之间固定安装有安装座，安装座的两端转动安装有与箱门下端面滚动连接的滚轮。本发明专利技术的电子产品老化自动测试平台可实现箱门的自动化开启和关闭。自动化开启和关闭。自动化开启和关闭。

【技术实现步骤摘要】
一种电子产品老化自动测试平台及其测试方法


[0001]本专利技术属于半导体测试设备
，具体涉及一种电子产品老化自动测试平台及其测试方法。

技术介绍

[0002]半导体芯片在出厂前都要进行老化测试，现有技术中的老化测试设备大多采用侧面开门方式，在老化测试设备内设有若干层测试板，若干层测试板沿老化测试设备的高度方向进行排列。在老化测试前需要人工开门，并将待测试的半导体芯片安装在测试板上，老化测试完成后需人工关门，并将已测试的半导体芯片分拣到设定区域。依靠人工开关门进行老化测试的自动化程度低、劳动密集、效率低下，不能实现半导体芯片机械化测试。

技术实现思路

[0003]本专利技术的目的在于提供一种电子产品老化自动测试平台及其测试方法，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
[0004]为实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：一种电子产品老化自动测试平台，包括测试箱体，测试箱体的内部设有至少两个测试腔，每个测试腔的内部均安装有测试板，每个测试腔的顶部均盖设有箱门，测试箱体的顶部位于箱门的两侧开设有凹槽，凹槽的内部滑动安装有母板，母板的顶部固定连接有滑座，箱门两侧固定连接的轴杆嵌入至滑座中并与之限位活动配合连接，滑座中的滑槽宽度大于轴杆的直径，每个测试腔的内壁上均固定连接有两个固定板，固定板的顶端沿竖直方向固定连接有第二气缸，第二气缸的顶端安装有用于支撑箱门的磁性滚轮，测试箱体的顶部位于两个测试腔之间固定安装有安装座，安装座的两端转动安装有与箱门下端面滚动连接的滚轮。
[0005]优选的，凹槽的内侧固定连接有电机，电机的电机轴上固定连接有螺纹杆，螺纹杆的一端与凹槽内壁转动连接，母板与螺纹杆螺纹连接。
[0006]一种电子产品老化自动测试方法，采用上述提及的一种电子产品老化自动测试平台，方法如下：步骤一、将待测试的芯片放入至第一个测试腔中：启动第二气缸，第二气缸驱动磁性滚轮向上移动，母板沿凹槽滑动，滑座通过轴杆推动箱门向安装座方向移动，箱门在移动的过程中受到磁性滚轮和滚轮的托起作用，在箱门移动一定距离后，箱门位于滚轮右侧的重量大于其位于滚轮左侧的重量特定数值，箱门以下方的滚轮为支撑点进行旋转，此时轴杆能够克服滑座对它的摩擦力在滑座内向上滑动，最终箱门的底面位于相邻的测试腔顶部的箱门顶面上方，将待检测芯片放在测试板的顶端；步骤二、第二气缸的活塞杆缩回，反向滑动母板，将第一个测试腔上的箱门扣合关闭，采用步骤一相同的操作将所有的待测试芯片放入至其它的测试腔中；步骤三、所有的测试腔同时工作对芯片进行测试。
[0007]与现有技术相比，本专利技术提供了一种电子产品老化自动测试平台及其测试方法，
具备以下有益效果：（1）本专利技术的电子产品老化自动测试平台中至少有两个测试腔，在测试腔开口处设有用于封闭测试腔的上盖，且测试腔内设有水平设置的测试板，通过电机驱动母板沿凹槽滑动，箱门在移动的过程中受到磁性滚轮和滚轮的托起作用，在箱门移动一定距离后，箱门位于滚轮右侧的重量远大于其位于滚轮左侧的重量，箱门以下方的滚轮为支撑点进行旋转摆动，此时轴杆能够克服滑座对它的摩擦力在滑座内向上滑动，最终箱门的底面位于相邻的测试腔顶部的箱门顶面上方，从而实现了箱门的自动化开启和关闭。
[0008]（2）本专利技术中测试箱体中多个测试腔有多种工作模式，既可以交替式连续测试，又可以实现所有的芯片同步测试，用户可根据实际生产需要选择不同的工作模式，整个装置不仅使用灵活多变，而且还能有效提高芯片的测试效率。
附图说明
[0009]附图用来提供对本专利技术的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本专利技术的实施例一起用于解释本专利技术，并不构成对本专利技术的限制，在附图中：图1为本专利技术的整体三维结构示意图；图2为本专利技术中测试箱体的内部结构示意图；图3为本专利技术的局部剖面结构示意图；图4为图3中A处的局部放大结构示意图；图5为滑槽的一种结构示意图；图6为滑槽的另一种结构示意图。
[0010]图中：1、测试箱体；2、测试腔；3、测试板；4、安装座；5、滚轮；6、凹槽；7、电机；8、螺纹杆；9、母板；10、滑座；11、箱门；12、轴杆；13、固定板；14、第二气缸；15、磁性滚轮。
具体实施方式
[0011]下面将结合本专利技术的实施例中附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本专利技术实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。因此，以下对在附图中提供的本专利技术的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本专利技术的范围，而是仅仅表示本专利技术的选定实施例。基于本专利技术的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0012]在本专利技术的实施例的描述中，需要理解的是，术语“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本专利技术的实施方式和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本专利技术的实施方式的限制。
[0013]请参阅图1
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图4，本实施例提出一种电子产品老化自动测试平台，包括测试箱体1，测试箱体1的内部设有两个测试腔2，每个测试腔2的内部均安装有测试板3，每个测试腔2的顶部均盖设有箱门11。
[0014]测试箱体1的顶部位于箱门11的两侧开设有凹槽6，凹槽6的内部滑动安装有母板
9，凹槽6的内侧固定连接有电机7，电机7的电机轴上固定连接有螺纹杆8，螺纹杆8的一端与凹槽6内壁转动连接，母板9与螺纹杆8螺纹连接，母板9在凹槽6内部的往复移动通过电机7驱动所实现，电机7驱动螺纹杆8旋转，而母板9由于与螺纹杆8螺纹连接，因此母板9可在凹槽6内做直线运动。
[0015]母板9的顶部固定连接有滑座10，箱门11两侧固定连接的轴杆12嵌入至滑座10中并与之限位活动配合连接，滑座10中的滑槽宽度大于轴杆12的直径。如图4、5所示，可将滑槽的两个侧边平行设置，使得滑槽的宽度大于轴杆12的直径。在被挪移的箱门11的重心越过滚轮5后并克服轴杆12与滑槽的摩擦力，即箱门11位于滚轮5右侧的重量大于其位于滚轮5左侧的重量特定数值，从而能实现挪移箱门11过程中箱门11在滚轮5上进行现旋转摆动。也可如图6所示，通过将滑座10的滑槽中远离滚轮5的侧边设计为向外凸出的弧形结构，以减小滑槽对轴杆12上行产生的阻力配合箱门11旋转摆动，在被挪移的箱门11的重心越过滚轮5后，挪移箱门11过程中箱门11在滚轮5上进行旋转摆动。
[0016]每个测试腔2的内壁上均固定连接有两个固定板13，固定板13的顶端沿竖直方向固定连接有第二气缸14，第二气缸14的顶端安装有用于支撑箱门11的磁性滚轮15，当需要打开箱门11时，第二气缸14首先动作，其活塞杆伸出驱动本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电子产品老化自动测试平台，包括测试箱体（1），测试箱体（1）的内部设有至少两个测试腔（2），每个测试腔（2）的内部均安装有测试板（3），其特征在于：每个测试腔（2）的顶部均盖设有箱门（11），测试箱体（1）的顶部位于箱门（11）的两侧开设有凹槽（6），凹槽（6）的内部滑动安装有母板（9），母板（9）的顶部固定连接有滑座（10），箱门（11）两侧固定连接的轴杆（12）嵌入至滑座（10）中并与之限位活动配合连接，滑座（10）中的滑槽宽度大于轴杆（12）的直径，每个测试腔（2）的内壁上均固定连接有两个固定板（13），固定板（13）的顶端沿竖直方向固定连接有第二气缸（14），第二气缸（14）的顶端安装有用于支撑箱门（11）的磁性滚轮（15），测试箱体（1）的顶部位于两个测试腔（2）之间固定安装有安装座（4），安装座（4）的两端转动安装有与箱门（11）下端面滚动连接的滚轮（5）。2.根据权利要求1所述的一种电子产品老化自动测试平台，其特征在于：凹槽（6）的内侧固定连接有电机（7），电机（7）的电机轴上固定连接有螺纹杆（8），螺纹杆（8）的一端与凹槽（6）内壁转动连接，母板（9）与螺纹杆（8）螺...

【专利技术属性】
技术研发人员：孙伟，王红，
申请(专利权)人：枣庄智博智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：